[發明專利]降低AES檢測中噪聲的方法

有效

• 申請號: 202010539508.4
• 申請日: 2020-06-14
• 公開（公告）號: CN111949919B
• 公開（公告）日: 2022-04-01
• 發明（設計）人: 郭子楊;趙陽;李銳;俞曉峰;蘇德懷;朱小煒
• 申請（專利權）人: 杭州譜育科技發展有限公司
• 主分類號: G06F17/10
• 分類號: G06F17/10
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供了一種降低AES檢測中噪聲的方法，包括以下步驟：(A1)根據檢測數據的子陣列獲得G；(A2)對于G中的每個元素，在列方向上取前一個元素和后一個元素，三個元素組成一組數據，進行由高到低的排序：G_i,d＞G_i,e＞G_i,f，得到數組(A3)對數組做歸一化處理，得到數組D；(A4)對于中的每個元素，在列方向上取前一個元素和后一個元素，三個元素組成一組數據，進行由高到低的排序：得到m行n列數組U；(A5)計算列方向上的噪聲差值，所述噪聲差值是m行n列數組C；(A6)m行n列噪聲數組N；(A7)構建新子陣列P^N：i＜m,j＜n。本發明具有降低噪聲、檢出限高等優點。

技術領域

本發明涉及檢測，特別涉及降低AES檢測中噪聲的方法。

背景技術

ICP-AES因檢出限低、動態范圍廣、檢測波段寬等優點現已成為實驗室分析儀器中的主要成員，在環境、半導體、醫療、食品、冶金以及核工業等領域得到了廣泛應用。近年來，隨著技術的革新，檢測物質低含量需求的增加，ICP檢出性能的提高已成為各廠家的熱點之一。檢出性能直接來源于信號響應和噪聲兩個因素，如何提高信噪比是行業的主要議題。

有些廠家從檢測器入手，定制和研發了低噪聲的檢測器，但是制約于目前國內工藝水平，對國內儀器生產商來說，此方案成本較大，且無法保證穩定的供貨。

還有些廠家以提高響應為切入點，通過增大通光口徑等方式提高檢出限，但這改變了原有光學系統，以降低其他參數為代價。

同時，科研機構提出并實現，利用溶液預處理的方式，增加激發效能也獲得更好的光響應，例如，在霧化器附近特殊處理，減少氣溶膠表面附著力。此方式雖然有一定的提升，但是可靠性、穩定性以及對所有元素是否有適用性還有待驗證，目前無法產業化。

發明內容

為解決上述現有技術方案中的不足，本發明提供了一種有助于提高檢出限的降低AES檢測中噪聲的方法。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的：

降低AES檢測中噪聲的方法，所述降低AES檢測中噪聲的方法包括以下步驟：

(A1)根據檢測數據的子陣列獲得G：

的大小為(m,n)；

(A2)對于G中的每個元素，在列方向上取前一個元素和后一個元素，三個元素組成一組數據，進行由高到低的排序：G_i,d＞G_i,e＞G_i,f，得到數組

α＝0.618，β＝(1-α)*α，γ＝(1-α)²；d,e,f不等，且分別取自集合{j,(j-1),(j+1)}；i＜m,j＜n；

(A3)對數組做歸一化處理，得到數組D；

(A4)對于中的每個元素，在列方向上取前一個元素和后一個元素，三個元素組成一組數據，進行由高到低的排序：得到m行n列數組U：

g,h,k不等，且分別取自集合{j,(j-1),(j+1)}；

(A5)計算列方向上的噪聲差值，所述噪聲差值是m行n列數組C：

為元素所在列的最大值；i＜m,j＜n；

(A6)m行n列噪聲數組N為：

x為N陣列中最大值的列坐標；

(A7)構建新子陣列P^N：