[發明專利]光信號檢測電路、方法及X光探測器

有效

• 申請號: 202010537699.0
• 申請日: 2020-06-12
• 公開（公告）號: CN111665268B
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 粟平;席克瑞;祁剛;李偉;王逸
• 申請（專利權）人: 上海天馬微電子有限公司
• 主分類號: G01T1/17
• 分類號: G01T1/17
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 賀琳

1.一種光信號檢測電路，其特征在于，包括光電二極管、復位模塊、開關模塊、控制信號生成模塊、積分模塊和信號放大模塊；

所述光電二極管的陰極與所述復位模塊的第一端連接，所述復位模塊的第二端與復位電壓端連接，所述開關模塊與所述光電二極管的陰極連接，所述控制信號生成模塊與所述復位模塊的控制端、所述開關模塊的控制端連接，所述積分模塊與所述開關模塊連接，所述信號放大模塊與所述積分模塊連接；

在采集下一幀圖像前，所述開關模塊根據開關控制信號關斷，所述復位模塊根據復位控制信號導通，對所述光電二極管的電量進行復位；

在采集圖像的過程中，所述開關模塊根據所述開關控制信號導通，所述復位模塊根據所述復位控制信號關斷，所述光電二極管檢測到的光信號轉換得到的電信號輸入所述積分模塊，所述積分模塊輸出的第一電信號輸入所述信號放大模塊，所述信號放大模塊輸出第二電信號，所述第一電信號為濾波后的所述電信號，所述第二電信號為放大后的所述第一電信號；

所述信號放大模塊包括第三運算放大器、第四運算放大器、第五運算放大器、第三晶體管、第四晶體管、第三電容、第四電容、第二電阻單元、第三電阻單元、第四電阻單元、第五電阻單元、第六電阻單元、第七電阻單元和第八電阻單元；

所述第三運算放大器的同相輸入端與所述第三晶體管的第二端、所述第三電容的一端連接，所述第三運算放大器的反相輸入端與所述第二電阻單元的一端、所述第三電阻單元的一端連接，所述第三運算放大器的輸出端與所述第二電阻單元的另一端、所述第五電阻單元的一端連接；

所述第四運算放大器的反相輸入端與所述第三電阻單元的另一端、所述第四電阻單元的一端連接；所述第四運算放大器的同相輸入端與所述第四晶體管的第二端、所述第四電容的一端連接，所述第四運算放大器的輸出端與所述第四電阻單元的另一端、所述第六電阻單元的一端連接；

所述第五運算放大器的反相輸入端與第五電阻單元的另一端、所述第七電阻單元的一端連接，所述第五運算放大器的同相輸入端與所述第六電阻單元的另一端、所述第八電阻單元的一端連接，所述第五運算放大器的輸出端與所述第七電阻單元的另一端連接；

所述第三晶體管的控制端與第一控制信號端連接，所述第三晶體管的第一端與所述積分模塊連接；

所述第四晶體管的控制端與第二控制信號端連接，所述第四晶體管的第一端與所述積分模塊連接；

所述第三電容的另一端與第一基準信號端連接；

所述第四電容的另一端與第二基準信號端連接；

所述第八電阻單元的另一端與第三基準信號端連接。

2.根據權利要求1所述的光信號檢測電路，其特征在于，所述復位模塊包括復位晶體管，所述復位晶體管的控制端為所述復位模塊的控制端，所述復位晶體管的第一端為所述復位模塊的第一端，所述復位晶體管的第二端為所述復位模塊的第二端。

3.根據權利要求1所述的光信號檢測電路，其特征在于，所述控制信號生成模塊包括第一信號發生器和反相器；

所述第一信號發生器與所述復位模塊的控制端、所述反相器的輸入端連接，所述第一信號發生器用于生成一路初始控制信號，所述一路初始控制信號為所述復位控制信號；所述反相器的輸出端與所述開關模塊連接，所述反相器的輸出端輸出的信號為所述開關控制信號；

或者，

所述第一信號發生器與所述開關模塊、所述反相器的輸入端連接，所述第一信號發生器用于生成一路初始控制信號，所述一路初始控制信號為所述開關控制信號；所述反相器的輸出端與所述復位模塊的控制端連接，所述反相器的輸出端輸出的信號為所述復位控制信號。

4.根據權利要求1所述的光信號檢測電路，其特征在于，所述控制信號生成模塊包括第二信號發生器和第三信號發生器；

所述第二信號發生器與所述復位模塊連接，用于生成一路初始控制信號，所述復位控制信號為所述一路初始控制信號；

所述第三信號發生器與所述開關模塊連接，用于生成另一路初始控制信號，所述開關控制信號為所述另一路初始控制信號；

其中，所述復位控制信號與所述開關控制信號的電平高低相反。