[發明專利]用于檢測物體表面缺陷的方法及裝置

有效

• 申請號: 202010536645.2
• 申請日: 2020-06-12
• 公開（公告）號: CN111696095B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: 苑鵬程;朱劍鋒;林書妃;張濱;韓樹民;馮原;辛穎;王曉迪;徐英博;劉靜偉;文石磊;章宏武;丁二銳
• 申請（專利權）人: 北京百度網訊科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/62;G06V10/75;G06V10/82
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司 11204
• 代理人: 王達佐;馬曉亞

本公開的實施例公開了用于檢測物體表面缺陷的方法及裝置，涉及人工智能計算機視覺、深度學習以及云計算領域。該方法的一具體實施方式包括：獲取待檢測物體的待檢測面圖像和檢測時間信息；根據上述檢測時間信息確定上述待檢測面圖像的檢測方式，并按照上述檢測方式對上述待檢測面圖像進行檢測，得到缺陷圖像；對上述缺陷圖像進行缺陷識別，得到識別結果信息；將上述識別結果信息與缺陷標簽庫內的缺陷標簽進行匹配，得到對應上述待檢測物體的目標缺陷標簽。該實施方式提高了識別缺陷的準確性和效率。

技術領域

本公開的實施例涉及人工智能計算機視覺、深度學習以及云計算領域，具體涉及圖像識別技術的用于檢測物體表面缺陷的方法及裝置。

背景技術

隨著社會工業化的發展，各種產品具有了更復雜的結構和更高的性能。產品通常由各種零部件構成，產品的性能與各個零部件的好壞息息相關。零部件通常存在多個面，需要對多個面進行缺陷檢測，以確定零部件是否合格。

發明內容

本公開的實施例提出了用于檢測物體表面缺陷的方法及裝置。

第一方面，本公開的實施例提供了一種用于檢測物體表面缺陷的方法，該方法包括：獲取待檢測物體的待檢測面圖像和檢測時間信息，上述檢測時間信息用于指示檢測完物體所需要的時間；根據上述檢測時間信息確定上述待檢測面圖像的檢測方式，并按照上述檢測方式對上述待檢測面圖像進行檢測，得到缺陷圖像，其中，上述檢測方式包括并行檢測和串行檢測；對上述缺陷圖像進行缺陷識別，得到識別結果信息；將上述識別結果信息與缺陷標簽庫內的缺陷標簽進行匹配，得到對應上述待檢測物體的目標缺陷標簽。

在一些實施例中，上述根據上述檢測時間信息確定上述待檢測面圖像的檢測方式，包括：響應上述檢測時間信息小于設定的時間信息閾值，對上述待檢測面圖像進行并行檢測，否則，對上述待檢測面圖像進行串行檢測。

在一些實施例中，上述根據上述檢測時間信息確定上述待檢測面圖像的檢測方式，包括：響應上述待檢測面圖像的數量大于的第一數量閾值，對上述待檢測面圖像進行并行檢測，否則，對上述待檢測面圖像進行串行檢測。

在一些實施例中，上述對上述缺陷圖像進行缺陷識別，得到識別結果信息，包括：響應于上述缺陷圖像的面積小于設定面積閾值，采用單目標檢測法對上述缺陷圖像進行檢測，否則，采用多目標檢測法對上述缺陷圖像進行檢測。

在一些實施例中，上述對上述缺陷圖像進行缺陷識別，得到識別結果信息，包括：響應于上述缺陷圖像的數量小于第二數量閾值，采用多目標檢測法對上述缺陷圖像進行檢測，否則，采用單目標檢測法對上述缺陷圖像進行檢測。

在一些實施例中，上述目標缺陷標簽包括缺陷類型信息和缺陷數量信息，以及，上述方法還包括：響應于上述待檢測面圖像為多個，獲取多個上述待檢測面圖像中的每個待檢測面圖像的缺陷類型信息和缺陷數量信息；通過上述缺陷類型信息和缺陷數量信息得到缺陷統計信息；響應于上述缺陷統計信息中包含指定缺陷類型，標記上述待檢測物體為不合格。

在一些實施例中，上述方法還包括：響應于上述缺陷統計信息中存在缺陷數量大于第三數量閾值的缺陷類型信息，標記上述待檢測物體為不合格。

在一些實施例中，上述方法還包括：響應于上述缺陷標簽庫內沒有對應上述識別結果信息的缺陷標簽，將上述識別結果信息導入缺陷標記模型，得到對應上述識別結果信息的目標缺陷標簽。