[發明專利]一種基于特征對比的缺陷檢測方法及系統、存儲介質

有效

• 申請號: 202010532060.3
• 申請日: 2020-06-11
• 公開（公告）號: CN111696092B
• 公開（公告）日: 2023-08-25
• 發明（設計）人: 楊洋
• 申請（專利權）人: 深圳市華漢偉業科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06V10/26;G06V10/774;G06V10/80;G06V10/82;G06N3/0464
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281
• 代理人: 彭家恩;郭燕

1.一種基于特征對比的缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

獲取待檢測物體的檢測圖像和所述待檢測物體對應的標準品的基準圖像；

對所述檢測圖像和所述基準圖像分別進行圖像特征的編碼處理，提取得到各自對應的高級特征；

將所述高級特征通過特征的差分和組合處理，得到組合特征圖像；

對所述組合特征圖像進行缺陷分割處理，得到所述待檢測物體的缺陷特征；

所述對所述檢測圖像和所述基準圖像分別進行圖像特征的編碼處理，提取得到各自對應的高級特征，包括：

將所述檢測圖像和所述基準圖像分別輸入至對應的編碼網絡，通過對應的編碼網絡對所述檢測圖像和所述基準圖像的圖像特征分別進行多組的特征表示，提取得到所述檢測圖像和所述基準圖像各自對應的高級特征；所述編碼網絡用于利用內部設置的隱藏層產生圖像特征的編碼信息并對圖像特征進行壓縮表示；

所述將所述高級特征通過特征的差分和組合處理，得到組合特征圖像，包括：

根據所述檢測圖像和所述基準圖像各自對應的高級特征分別形成多個維數的輸入特征；

將相同維數下所述檢測圖像對應的輸入特征和所述基準圖像對應的輸入特征進行差分組合運算，得到對應的輸出特征；

根據各個維數下對應的輸出特征，上采樣處理得到與所述檢測圖像具有相同規模的組合特征圖像。

2.如權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述檢測圖像和所述基準圖像各自對應的編碼網絡之間共享權重。

3.如權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述將相同維數下所述檢測圖像對應的輸入特征和所述基準圖像對應的輸入特征進行差分組合運算，得到對應的輸出特征，包括：

根據預設的權重特征，計算得到相同維數下所述檢測圖像和所述基準圖像各自對應的高級特征之間的相似性關系，用公式表示為

；

其中，σ表示激活函數，w表示權重特征，F₁為所述檢測圖像對應的高級特征，F₂為所述基準圖像對應的高級特征；

利用所述檢測圖像和所述基準圖像各自對應的高級特征之間的相似性關系，通過特征的差分處理計算得到特征距離且表示為

；

其中，dist表示距離運算函數，上標I、A分別表示檢測圖像和基準圖像，下標i表示特征所在的網絡層序號，為第i層網絡上檢測圖像對應的高級特征，為第i層網絡上基準圖像對應的高級特征；

利用所述特征距離和所述檢測圖像對應的高級特征，通過特征的組合處理得到對應的輸出特征，所述輸出特征用公式表示為

；

其中，運算符表示對應特征向量元素之間的相乘運算。

4.如權利要求3所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述對所述組合特征圖像進行缺陷分割處理，得到所述待檢測物體的缺陷特征，包括：

將所述組合特征圖像輸入至預設的分割網絡，利用所述分割網絡對所述組合特征圖像進行非線性的量度處理；

根據量度處理結果分析所述組合特征圖像中的特征相似度，判斷特征相似度低于預設的閾值時得到所述待檢測物體的缺陷特征。

5.一種缺陷檢測系統，其特征在于，包括至少一個用戶終端，每個所述用戶終端用于對所在傳送通道上經過的待檢測物體進行缺陷檢測；所述用戶終端包括攝像頭、處理器和顯示器；

所述攝像頭用于攝取獲得待檢測物體的檢測圖像和所述待檢測物體對應的標準品的基準圖像；

所述處理器與所述攝像頭連接，用于根據預設的神經網絡模型執行如權利要求1-4中任一項所述的缺陷檢測方法，處理得到所述待檢測物體的缺陷特征；

所述顯示器與所述處理器連接，用于對所述待檢測物體的檢測圖像和/或缺陷特征進行顯示。