[發明專利]控制方法、半導體微波烹飪電器和存儲介質有效
| 申請號： | 202010531064.X | 申請日： | 2020-06-11 |
| 公開（公告）號： | CN111649360B | 公開（公告）日： | 2023-06-30 |
| 發明（設計）人： | 吳添洪;何建波;陳茂順;唐相偉 | 申請（專利權）人： | 廣東美的廚房電器制造有限公司;美的集團股份有限公司 |
| 主分類號： | F24C7/08 | 分類號： | F24C7/08;F24C7/06;F24C7/02 |
| 代理公司： | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 邵泳城 |
| 地址： | 528311 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 控制 方法 半導體 微波 烹飪 電器 存儲 介質 | ||
1.一種控制方法，用于半導體微波烹飪電器，其特征在于，所述半導體微波烹飪電器包括腔體和兩個微波饋入組件，所述控制方法包括：
根據預設的多個微波參數組依次控制所述兩個微波饋入組件同時發射微波至所述腔體內，所述微波參數組包括微波的相位差和頻率；
獲取每次發射微波所對應的所述兩個微波饋入組件的反射功率；
根據多次獲取的所述微波饋入組件的反射功率確定所述腔體的場對稱參數；
每個所述微波參數組包括一個微波相位差和與所述微波相位差對應的頻率范圍，所述多個微波參數組的所述微波相位差不同，所述頻率范圍相同，或
每個所述微波參數組包括一個頻率和與所述頻率對應的相位差范圍，所述多個微波參數組的所述頻率不同，所述相位差范圍相同；
獲取每次發射微波所對應的所述兩個微波饋入組件的反射功率，包括：
在每次發射微波的情況下，檢測所述腔體的反射微波；
根據所述腔體的反射的微波確定所述兩個微波饋入組件的反射功率；
通過腔體的反射微波進而確定兩個微波饋入組件的反射功率，從而可確定腔體的場對稱參數，所述場對稱參數為半導體微波烹飪電器腔體內微波電磁場的相位對稱時所對應的發射微波的微波相位差和頻率；
根據多次獲取的所述微波饋入組件的反射功率確定所述腔體的場對稱參數，包括：
對每次獲取到的兩個所述微波饋入組件的反射功率作相減處理以獲得一個差值；
根據多次獲取的所述微波饋入組件的反射功率的所述差值確定所述腔體的場對稱參數；
根據多次獲取的所述微波饋入組件的反射功率的所述差值確定所述腔體的場對稱參數，包括：
對多次獲取的所述微波饋入組件的反射功率的所述差值作均方根運算以得到多個均方根值；
根據所述多個均方根值確定所述腔體的場對稱參數；
根據所述多個均方根值確定所述腔體的場對稱參數，包括：在處理所述多個均方根值獲得到一個最小均方根值的情況下，根據所述最小均方根值確定所述腔體的場對稱參數；
在處理所述多個均方根值獲得到多個最小均方根值的情況下，根據所述多個最小均方根值和負載實驗確定所述腔體的場對稱參數。
2.根據權利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述控制方法包括：根據所述腔體的場對稱參數控制所述半導體微波烹飪電器運行。
3.一種半導體微波烹飪電器，其特征在于，包括腔體、兩個微波饋入組件和控制器，所述控制器連接所述兩個微波饋入組件，所述控制器用于實現權利要求1-2任一項所述的控制方法。
4.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1-2任一項所述的控制方法。
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