[發(fā)明專利]一種熱保護(hù)器的性能測試裝置

在審

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• 申請日: 2020-06-11
• 公開（公告）號: CN111551815A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何春武;許紅梅;許彬
• 申請（專利權(quán)）人: 中山市川成精密電子有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R27/02;G01R1/04
• 代理公司: 佛山市禾才知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44379
• 代理人: 劉羽波;梁永健

一種熱保護(hù)器的性能測試裝置，包括：測試安裝基座、測試送料通道、測試傳送組件、溫度測試倉和性能測試器；測試送料通道和溫度測試倉安裝于測試安裝基座；測試件驅(qū)動器的固定端安裝于測試安裝基座，其輸出端連接于測試傳料板，用于驅(qū)動測試傳料板移動，使測試傳料板經(jīng)過于測試送料通道的輸出口和溫度測試倉的輸入口；入倉驅(qū)動器的輸出端向溫度測試倉的輸入口和測試傳料板的方向移動；性能測試器用于對經(jīng)過溫度測試倉內(nèi)或外的熱保護(hù)器進(jìn)行性能測試。本性能測試裝置，用于對熱保護(hù)器進(jìn)行性能測試，能用于將熱保護(hù)器置于溫度測試倉內(nèi)，具有全自動入料、測試和出料的功能，達(dá)到精確、快速和大批量地測試熱保護(hù)器性能的效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及性能測試裝置技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種熱保護(hù)器的性能測試裝置。

背景技術(shù)

熱保護(hù)器是兩片不同的合金組合在一起，通過電流后會發(fā)熱，由于兩種不同的合金熱膨脹系數(shù)不同，合金勢必向一個(gè)方向彎曲，觸點(diǎn)離開，就斷了電。彎曲速度與通過的電流大小成正比。這樣就保護(hù)了用電設(shè)備。熱保護(hù)器在組裝完成后，需要對其進(jìn)行性能測試，但由于熱保護(hù)器的件身小，使用人工操作的話增大的勞動成本，且測試結(jié)果不精確，不利于測試結(jié)果的處理，且測試時(shí)間長。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提出一種熱保護(hù)器的性能測試裝置，用于將工件置于溫度測試倉后，經(jīng)性能測試器進(jìn)行性能測試。

為達(dá)此目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種熱保護(hù)器的性能測試裝置，包括：測試安裝基座、測試送料通道、測試傳送組件、溫度測試倉和性能測試器；

所述測試送料通道和所述溫度測試倉安裝于所述測試安裝基座；

所述測試傳送組件包括：測試件驅(qū)動器、測試傳料板和入倉驅(qū)動器；

所述測試件驅(qū)動器的固定端安裝于所述測試安裝基座，其輸出端連接于所述測試傳料板，用于驅(qū)動所述測試傳料板移動，使所述測試傳料板經(jīng)過于所述測試送料通道的輸出口和所述溫度測試倉的輸入口；所述入倉驅(qū)動器安裝于所述測試安裝基座，其輸出端向所述溫度測試倉的輸入口和所述測試傳料板的方向移動；

所述性能測試器安裝于所述溫度測試倉，用于對經(jīng)過所述溫度測試倉內(nèi)或外的熱保護(hù)器進(jìn)行性能測試。

優(yōu)選地，還包括：初檢排出組件；

所述初檢排出組件包括：初檢排出通道；

所述初檢排出通道的輸入口與所述測試送料通道的輸出口相對設(shè)置于所述測試傳料板的兩側(cè)。

優(yōu)選地，所述初檢排出組件包括：初檢排出驅(qū)動器和初檢排出塊；

所述初檢排出驅(qū)動器的輸出端連接所述初檢排出塊，用于驅(qū)動所述初檢排出塊伸入和脫離于所述初檢排出通道。

優(yōu)選地，所述溫度測試倉包括：低溫密封倉和高溫密封倉；

所述低溫密封倉與所述高溫密封倉相通連接。

優(yōu)選地，所述性能測試器還包括：出倉檢測組件；

所述出倉檢測組件安裝于所述低溫密封倉和所述高溫密封倉兩者中至少一者；所述出倉檢測組件包括：出倉檢測支撐座、出倉檢測驅(qū)動器和檢測靠近開關(guān)；所述出倉檢測支撐座連接于所述溫度測試倉；所述出倉檢測驅(qū)動器的固定端固定于所述出倉檢測支撐座，其輸出端連接所述檢測靠近開關(guān)，用于驅(qū)動所述檢測靠近開關(guān)豎直伸入于所述溫度測試倉內(nèi)，使所述檢測靠近開關(guān)靠近或接觸熱保護(hù)器。

優(yōu)選地，所述溫度測試倉的數(shù)量至少為2。

優(yōu)選地，所述初檢排出塊設(shè)有至少1個(gè)導(dǎo)入部；所述導(dǎo)入部移動時(shí)經(jīng)過所述測試送料通道的輸出口和所述溫度測試倉的輸入口。