[發明專利]聯合三種物探方法和兩種地質方法的巖溶探測方法

有效

• 申請號: 202010530172.5
• 申請日: 2020-06-11
• 公開（公告）號: CN111781651B
• 公開（公告）日: 2022-08-05
• 發明（設計）人: 張光大;余長恒;賈建超;王安平;張旭林;楊宇寧;劉磊;李易;王強
• 申請（專利權）人: 四川中成煤田物探工程院有限公司
• 主分類號: G01V3/18
• 分類號: G01V3/18;G01V3/28;G01V3/38
• 代理公司: 成都華復知識產權代理有限公司 51298
• 代理人: 龐啟成

1.聯合三種物探方法和兩種地質方法的巖溶探測方法，其特征在于，包括：

步驟一，以探測目標為中心，規劃踏勘區域，在所述踏勘區域內開展工程地質踏勘和水文地質踏勘獲取研究區綜合地質信息；

步驟二，將所述探測目標的地下空間由淺至深劃分為第一埋深區間、第二埋深區間和第三埋深區間，根據所述工程地質信息和水文地質信息設計物探數據集成觀測系統；所述物探數據集成觀測系統包括用于探測所述第一埋深區間的高密度電法觀測系統，用于探測所述第二埋深區間的瞬變電磁法觀測系統，以及用于探測所述第三埋深區間的音頻大地電磁法觀測系統；

所述高密度電法觀測系統的布設方式為：以探測目標為中心，以所述巖溶發育主方向的垂直方向為布設主方向，在所述布設主方向布設3～6條測線，測線間距為20m；在所述巖溶發育主方向布設1條測線；每條測線道間距6m，至少同時布置120道；

所述瞬變電磁法觀測系統的布設方式為：以探測目標為中心，以所述巖溶發育主方向的垂直方向為布設方向，布設9條測線，測線長度400m，測線間距10m，測點間距5m；所述瞬變電磁法的發射邊框邊長為400m，發射頻率為25Hz，發射電流不低于15A；

所述音頻大地電磁法觀測系統的布設方式為：以探測目標為中心，以所述巖溶發育主方向的垂直方向為布設主方向，布設3條測線：中間主測線長度為2000m，兩側輔助測線長度為1000m，點距40米，線距40米；在所述巖溶發育主方向布設1條測線，測線長度2000m，點距40m；所述音頻大地電磁法的采集最低頻率為0.1Hz，采集時間大于30min；

步驟三，根據所述物探數據集成觀測系統分別進行：

高密度電法數據采集和數據處理反演，獲取第一視電阻率剖面；

瞬變電磁法數據采集和數據處理反演，獲取第二視電阻率剖面；

音頻大地電磁法數據采集和數據處理反演，獲取第三視電阻率剖面；

步驟四，根據所述第一視電阻率剖面以及所述第二視電阻率剖面和所述第三視電阻率剖面中的至少一個，再結合所述綜合地質信息確定所述第一埋深區間內的巖溶發育范圍；

根據所述第二視電阻率剖面以及所述第三視電阻率剖面，再結合所述綜合地質信息確定所述第二埋深區間內的巖溶發育范圍；

根據所述第三視電阻率剖面結合所述綜合地質信息確定所述第三埋深區間內的巖溶發育范圍；

步驟五，綜合所述第一埋深區間內的巖溶發育范圍、第二埋深區間內的巖溶發育范圍和第三埋深區間內的巖溶發育范圍，以及所述綜合地質信息確定所述第三埋深區間以淺的巖溶發育范圍；

步驟五還包括：確認地表巖溶類型，在所述第一視電阻率剖面、第二視電阻率剖面和第三視電阻率剖面中分別識別對應該地表巖溶的第一異常區、第二異常區和第三異常區，根據所述第一異常區、第二異常區和第三異常區確認該地表巖溶的發育范圍：

首先通過第一視電阻率剖面識別所述第一異常區，再通過第二視電阻率剖面識別所述第二異常區，最后通過所述第三視電阻率剖面識別所述第三異常區；和/或，

根據所述工程地質信息和/或通過視電阻率剖面確認該地表巖溶在剖面的發育范圍之后，通過輸出沿巖溶發育主方向的連續瞬變電磁視電阻率剖面圖，得到該地表巖溶的立體分布范圍。

2.根據權利要求1所述的聯合三種物探方法和兩種地質方法的巖溶探測方法，其特征在于：所述第一埋深區間為地表以下0～100m，所述第二埋深區間為地表以下100～400m，所述第三埋深區間為地表以下400～1000m。

3.根據權利要求1所述的聯合三種物探方法和兩種地質方法的巖溶探測方法，其特征在于：所述綜合地質信息包括地表巖溶發育地層及其產狀、巖溶埋深、巖溶類型和巖溶發育主方向。

4.根據權利要求1-3任一項所述的聯合三種物探方法和兩種地質方法的巖溶探測方法，其特征在于：若巖溶類型為干枯巖溶，則根據所述第一視電阻率剖面和所述第三電阻率剖面重合的高阻異常區識別為干枯巖溶發育范圍。