[發明專利]高強度單色光輻照的測量方法及裝置

在審

• 申請號: 202010529842.1
• 申請日: 2020-06-11
• 公開（公告）號: CN111664938A
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發明（設計）人: 邵劍波;席曦;劉桂林
• 申請（專利權）人: 江南大學
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42;G01J1/02
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104
• 代理人: 殷紅梅

1.一種高強度單色光輻照的測量方法，其特征是，所述測量方法包括如下步驟：

步驟1、準備待測量光照強度的單色光光源(1)以及用于接收所述單色光光源(1)光照的感光元件(7)，通過感光元件(7)能得到感光測量信號S_dig；

步驟2、運算模塊(9)根據感光測量信號S_dig，能得到單色光光源(1)對應等效的標準太陽數X(Suns)，所述的等效標準太陽數X(Suns)為：

X(Suns)＝S_dig/(R_coef×A_Eff×e×Nph0)

其中，R_coef為感光元件(7)的響應系數，A_Eff為感光元件的有效面積，e為電子電量，Nph0為等效標準光的光子流密度；

步驟3、所述運算模塊(9)通過顯示模塊(10)顯示輸出所得到的等效標準太陽數X(Suns)。

2.根據權利要求1所述的高強度單色光輻照的測量方法，其特征是：所述感光元件(7)包括硅太陽電池、鈣鈦礦電池或有機電池，感光元件(7)通過采集模塊(8)與運算模塊(9)連接，通過采集模塊(8)能將感光元件(7)輸出的感光測量模擬信號S_anal轉換得到感光測量信號S_dig，并將所述感光測量信號S_dig傳輸至運算模塊(9)內。

3.根據權利要求1所述的高強度單色光輻照的測量方法，其特征是：所述運算模塊(9)通過光源控制模塊(11)與單色光光源(1)電連接，運算模塊(9)根據等效標準太陽數X(Suns)后，通過光源控制模塊(11)能控制單色光光源(1)輸出所需光照輻照的狀態。

4.根據權利要求1或2或3所述的高強度單色光輻照的測量方法，其特征是：還包括能置于單色光光源(1)與感光元件(7)之間的光源光線處理模組，在單色光光源(1)的光路上，所述光源光線處理模組依次包括凸透鏡(2)、光學積分器、光學衰減片(5)以及準直物鏡(6)。

5.根據權利要求4所述的高強度單色光輻照的測量方法，其特征是：所述光學積分器包括積分器場鏡(3)以及積分器投影鏡(4)，所述積分器場鏡(3)位于凸透鏡(2)與積分器投影鏡(4)之間，積分器投影鏡(4)位于積分器場鏡(3)與光學衰減片(5)之間。

6.一種高強度單色光輻照的測量裝置，其特征是：包括能接收待測量光照強度的單色光光源(1)所發出光線的感光元件(7)，所述感光元件(7)與運算模塊(9)電連接，所述運算模塊(9)與顯示模塊(5)電連接；

通過感光元件(7)能得到感光測量信號S_dig；運算模塊(9)根據感光測量信號S_dig，能得到單色光光源(1)對應等效的標準太陽數X(Suns)，所述的等效標準太陽數X(Suns)為：

X(Suns)＝S_dig/(R_coef×A_Eff×e×Nph0)

其中，R_coef為感光元件(7)的響應系數，A_Eff為感光元件的有效面積，e為電子電量，Nph0為等效標準光的光子流密度；

所述運算模塊(9)通過顯示模塊(5)顯示輸出所得到的等效標準太陽數X(Suns)。

7.根據權利要求6所述的高強度單色光輻照的測量裝置，其特征是：所述感光元件(7)包括硅太陽電池、鈣鈦礦電池或有機電池，感光元件(7)通過采集模塊(8)與運算模塊(9)連接，通過采集模塊(8)能將感光元件(7)輸出的感光測量模擬信號S_anal轉換得到感光測量信號S_dig，并將所述感光測量信號S_dig傳輸至運算模塊(9)內。