[發明專利]測量視線受阻構件定位坐標的方法

在審

• 申請號: 202010529795.0
• 申請日: 2020-06-11
• 公開（公告）號: CN111551115A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 李奧然;許亮;曾憲義
• 申請（專利權）人: 中國二十二冶集團有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B21/00;G01C15/00
• 代理公司: 唐山永和專利商標事務所 13103
• 代理人: 魏偉

1.一種測量視線受阻構件定位坐標的方法，包括如下措施和施工過程:

1)預設構件上的測量點；

2)在測量點和全站儀旁邊架設一面垂直于水平面的鋁鏡，調整鏡面角度，使全站儀視角能夠直接觀測到被測構件的鏡像，構件上的測量點反射到鏡中為鏡像點；

3)以全站儀為坐標原點，建立水平面上投影的測量坐標系；

4)通過全站儀測量鏡面上至少兩個點的坐標，計算得到鋁鏡投影在測量坐標系中所在直線的公式；

5)通過全站儀測量鏡像點的坐標并記錄；

6)根據鏡面的投影直線的公式，聯立測量點和鏡像點關系，計算得到測量點投影在測量坐系中的坐標數據；

7)測量全站儀在施工現場上的坐標值，從而推算出測量點的實際坐標值。

2.根據權利要求1所述測量視線受阻構件定位坐標的方法，其特征是：鋁鏡通過三腳架架設或者采用磁吸支座固定在已有構件上。

3.根據權利要求1所述測量視線受阻構件定位坐標的方法，其特征是：計算二維平面坐標系中測量點坐標的過程是：

1)設：測量點為A，鏡像點為B；

設：A的坐標為(a,b),B的坐標為(c,d)；

2)A、B基于鏡面所在直線L對稱，則A-B連線的中點坐標為((a+c)/2，(b+d)/2)，且此點在己知直線L上；

3)將點((a+c)/2，(b+d)/2)代入己知直線L的方程，可以得到一個關于a、b的二元一次方程式(1)：

4)又因為A-B連線與直線L垂直相交，兩直線的斜率相乘積為-1，即k1*k2＝-1，其中直線L的斜率k1已知，則直線A-B的斜率k2為：k2＝-1/k1；

5)把A、B兩點坐標代入直線斜率公式:k2＝(b-d)/(a-c)＝-1/k1，得到一個關于a，b的二元一次方程(2):

6)聯立二元一次方程(1)、(2)，得二元一次方程組，解得a、b值，即所求測量點A的坐標(a，b)。