[發明專利]光學相干層析設備的診斷檢測方法、裝置、系統

有效

• 申請號: 202010529679.9
• 申請日: 2020-06-11
• 公開（公告）號: CN111568385B
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 安其昌;劉欣悅;張景旭;李洪文;唐境
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: A61B5/00
• 分類號: A61B5/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 薛嬌

1.一種光學相干層析設備的診斷檢測方法，其特征在于，包括：

連續采集光學相干層析設備輸出的多個干涉條紋數據；

其中，各個所述干涉條紋數據是所述光學相干層析設備的測量臂的光路上分別設置不同掩膜板時，所述光學相干層析設備對應生成的條紋數據；且不同掩膜板對所述測量臂輸出的光線的透光面積大小不同；

根據各個所述干涉條紋數據，獲得待測人體組織的切片圖像；

所述掩膜板為圓形掩膜板，且每個所述圓形掩膜板上以所述圓形掩膜板的圓心為中心對稱分布多個扇形透光通孔；

根據各個所述干涉條紋數據，獲得待測人體組織的切片圖像，包括：

預先根據神經網絡訓練，獲得切片圖像和對應的基于不同掩膜板獲得的各個干涉條紋數據之間的對應關系；

根據所述對應關系和所述待測人體組織的各個所述干涉條紋數據，獲得所述切片圖像。

2.如權利要求1所述的光學相干層析設備的診斷檢測方法，其特征在于，所述掩膜板包括第一掩膜板、第二掩膜板和第三掩膜板；其中，所述第一掩膜板對光斑的遮光率為15%至25%；所述第二掩膜板對光斑的遮光率為45%至55%；所述第三掩膜板對光斑的遮光率為65%至75%。

3.如權利要求1至2任一項所述的光學相干層析設備的診斷檢測方法，其特征在于，在連續采集光學相干層析設備輸出的多個干涉條紋數據之前，還包括：

采集所述光學相干層析設備在測量臂的光路不設置所述掩膜板時，輸出的校正干涉條紋數據；

根據所述校正干涉條紋數據，確定干涉條紋對比度；

根據所述干涉條紋對比度，控制電機驅動所述測量臂相對于所述待測人體組織移動，使得所述測量臂和所述待測人體組織之間的光程發生改變，直到所述光學相干層析設備對應的干涉條紋對比度達到預定對比度。

4.一種光學相干層析設備的診斷檢測裝置，其特征在于，包括：

數據采集模塊，用于連續采集光學相干層析設備輸出的多個干涉條紋數據；其中，各個所述干涉條紋數據是所述光學相干層析設備的測量臂的光路上分別設置不同掩膜板時，所述光學相干層析設備對應生成的條紋數據；所述掩膜板為圓形掩膜板，且每個所述圓形掩膜板上以所述圓形掩膜板的圓心為中心對稱分布多個扇形透光通孔；且不同掩膜板對所述測量臂輸出的光線的透光面積大小不同；

圖像輸出模塊，用于根據各個所述干涉條紋數據，獲得待測人體組織的切片圖像；

還包括神經網絡模塊，用于預先根據神經網絡訓練，獲得切片圖像和對應的基于不同掩膜板獲得的各個干涉條紋數據之間的對應關系；根據所述對應關系和所述待測人體組織的各個干涉條紋數據，獲得所述切片圖像。

5.如權利要求4所述的光學相干層析設備的診斷檢測裝置，其特征在于，還包括對比度校正模塊，用于在連續采集光學相干層析設備輸出的多個干涉條紋數據之前，采集所述光學相干層析設備在測量臂的光路不設置所述掩膜板時，輸出的校正干涉條紋數據；根據所述校正干涉條紋數據，確定干涉條紋對比度；根據所述干涉條紋對比度，控制電機驅動所述測量臂相對于所述待測人體組織移動，使得所述測量臂和所述待測人體組織之間的光程發生改變，直到所述光學相干層析設備對應的干涉條紋對比度達到預定對比度。

6.一種光學相干層析設備的診斷檢測系統，其特征在于，包括：

光學相干層析設備，用于基于邁克爾干涉原理，輸出待測人體組織對應的干涉條紋數據；

多個掩膜板，用于分別設置在所述光學相干層析設備的測量臂光路上，改變所述測量臂入射至待測人體組織的光束的透光面積，以便生成不同的所述干涉條紋數；

處理器，用于根據所述干涉條紋數據執行計算機程序，以實現如權利要求1至3任一項所述的光學相干層析設備的診斷檢測方法的操作步驟。

7.如權利要求6所述的光學相干層析設備的診斷檢測系統，其特征在于，還包括用于驅動所述測量臂，改變所述測量臂光路的光程的驅動電機。