[發明專利]一種變上升沿寬脈沖電場環境下監控系統電磁環境效應試驗方法

有效

• 申請號: 202010529602.1
• 申請日: 2020-06-11
• 公開（公告）號: CN111551814B
• 公開（公告）日: 2022-03-29
• 發明（設計）人: 熊久良;楊杰;李躍波;張耀輝;潘征;黃劉宏;何為
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍軍事科學院國防工程研究院工程防護研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 石家莊輕拓知識產權代理事務所(普通合伙) 13128
• 代理人: 黃輝本

本發明公開了一種變上升沿寬脈沖電場環境下監控系統電磁環境效應試驗方法，該方法利用陡化電感、調節電感和低感短路線配合脈沖陡化裝置，實現輻射場上升沿從ns量級連續調整至μs量級；利用靈敏度自校準電場探頭、電場數據自動采集分析軟件解決該電場波形上升沿和脈寬的同時測試問題；利用空場線性校準方法解決有界波模擬器不同區域試驗場強和上升沿標定問題，并提供監控系統環境效應的具體試驗方法和操作步驟，能夠確保低頻寬脈沖電場環境下監控系統電磁環境效應測試的規范性和合理性，可提高監控系統電磁環境效應測試的準確性。

技術領域

本發明屬于電子系統電磁環境效應試驗方法領域，具體涉及一種變上升沿寬脈沖電場環境下監控系統電磁環境效應試驗方法。

背景技術

實用新型專利ZL201820312470.5《一種快上升沿寬脈沖強電場環境的模擬裝置》中提出了一種上升沿可調的寬脈沖強電場模擬裝置，可產生0～50ns范圍內可調的脈沖上升沿和毫秒級脈寬的強電場波形。然而，此設備上升沿的模擬范圍過窄，對于低頻電場(上升沿在幾百ns至μs)此設備尚需改進。另外，該設備產生的波形的上升沿與脈寬存在幾個數量級的差距，考慮目前通用電場探頭和示波器的測試能力，無法利用一套電場探頭和示波器同時實現上升沿和脈寬的精確測試，實際使用過程中，該模擬裝置的波形測試和分析方法是一個急需解決的問題。

發明專利ZL201510020231.3《有界波環境下電子設備電磁環境效應實驗方法》中對有界波電場模擬器電子設備電磁環境效應實驗方法和步驟進行了規范，劃分了設備不同試驗區域，但是該專利未對試驗進行中不同區域的場強如何測試進行規定：若采用場強探頭與設備同時測試的方法，設備的存在將對場強探頭測試場波形產生非常大的影響，導致測試數據不準確；若直接按不同高度進行場強換算，專利中又沒有給出具體的操作方法和要求。

監控系統包含硬盤錄像機、顯示屏、視頻攝像頭、網線等設備，其在工程中常用來對工程內部環境或設備運行情況的監控和記錄，為整個工程的正常運行提供保障。但其耦合通道的多樣性也使得該系統極易受到電磁干擾或損傷。現有公開文獻中鮮有對監控系統電磁干擾或損傷的研究報道，其試驗要求、方法和步驟也尚未具體規范。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種變上升沿(從納秒量級連續可調至微秒量級)寬脈沖電場環境下監控系統電磁環境效應試驗方法，該試驗方法實現輻射場上升沿從ns量級連續調整至μs量級，并且能夠確保低頻寬脈沖電場環境下監控系統電磁環境效應測試的規范性和合理性，可提高監控系統電磁環境效應測試的準確性。

為解決上述技術問題，本發明所采取的技術方案是：一種變上升沿寬脈沖電場環境下監控系統電磁環境效應試驗方法，其特征在于包括以下步驟：

(1)按需求選定監控系統連接方式和具體置于試驗區域的受試設備，將受試設備置于木質放置臺上，設置受試設備正對輻射場來波方向，保持網線為垂直放置(若有網線)，模擬輻射波垂直極化下的輻照狀態，此時記為狀態A_1j(j＝1)，不斷調整改變輻射場的場強幅值和上升沿，利用測量探頭進行輻射場參數的實時測試，依次進行不同幅值、不同上升沿條件下的輻照試驗，觀察受試設備的效應現象，記錄受試設備受干擾時所對應的最低場強峰值和對應的上升沿值；

(2)保持步驟(1)中的設備相對狀態不變，整體移動受試設備側對來波方向，此時狀態記為A_2j(j＝1)，按步驟(1)中方式開展輻照試驗，記錄受試設備受干擾時所對應的最低場強峰值和對應的上升沿值；

(3)保持步驟(1)中的設備相對狀態不變，整體移動受試設備背對來波方向，此時狀態記為A_3j(j＝1)，按步驟(1)中方式開展輻照試驗，記錄受試設備受干擾時所對應的最低場強峰值和對應的上升沿值；

(4)根據步驟(1)中的設置，將所有受試設備倒放，模擬水平極化情況，此時記為狀態B_1j(j＝1)，按步驟(1)中方式開展輻照試驗，記錄受試設備受干擾時所對應的最低場強峰值和對應的上升沿值；