[發明專利]一種微波暗室場地性能檢測用調節支架及檢測系統在審
| 申請號: | 202010528524.3 | 申請日: | 2020-06-11 |
| 公開(公告)號: | CN111610380A | 公開(公告)日: | 2020-09-01 |
| 發明(設計)人: | 伍捍東;劉迎喜;王英英;尹國選;潘云飛 | 申請(專利權)人: | 西安恒達微波技術開發有限公司 |
| 主分類號: | G01R29/10 | 分類號: | G01R29/10;G01R29/08 |
| 代理公司: | 西安維賽恩專利代理事務所(普通合伙) 61257 | 代理人: | 李明全 |
| 地址: | 710100 陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 微波 暗室 場地 性能 檢測 調節 支架 系統 | ||
1.一種微波暗室場地性能檢測用調節支架,其特征在于,包括水平支架(1),所述水平支架(1)上設置有水平軌道(12),所述水平軌道(12)上安裝有可沿其水平移動的水平托盤(11);
所述水平托盤(11)上安裝有一維方位轉臺(2),所述一維方位轉臺(2)上設置有豎直支架(3);
所述豎直支架(3)上安裝有升降機構,所述升降機構包括升降帶(32),所述升降帶(32)上安裝有用于安裝微波信號接收裝置的安裝臺(31);
所述水平托盤(11)、一維方位轉臺(2)和升降機構分別用于實現所述微波信號接收裝置的位置、方位和高度的調節。
2.如權利要求1所述的一種微波暗室場地性能檢測用調節支架,其特征在于,所述水平軌道(12)的一側設置有齒條(13);
所述水平托盤(11)上設置有電機(14),所述電機(14)的動力輸出端設置有與所述齒條(13)嚙合的齒輪(15);所述電機(14)用于帶動齒輪(15)轉動,進而帶動所述水平托盤(11)沿水平軌道(12)滑動。
3.如權利要求2所述的一種微波暗室場地性能檢測用調節支架,其特征在于,所述升降機構包括設置在豎直支架(3)上的蝸輪蝸桿減速機,所述蝸輪蝸桿減速機的動力輸入端連接有手把(33)、動力輸出端與所述升降帶(32)連接。
4.如權利要求3所述的一種微波暗室場地性能檢測用調節支架,其特征在于,所述安裝臺(31)的一側端設置有可豎向轉動的連接板(34),所述連接板(34)的自由端設置有極化機構(35)。
5.如權利要求1-4任一所述的一種微波暗室場地性能檢測用調節支架,其特征在于,當所述水平支架(1)的數量大于等于2個時,相鄰兩個所述水平支架(1)之間設置有夾板(121),所述夾板(121)分別貼合在相鄰的水平支架(1)上。
6.如權利要求5所述的一種微波暗室場地性能檢測用調節支架,其特征在于,相鄰2個水平支架(1)之間還通過直桿件連接。
7.如權利要求6所述的一種微波暗室場地性能檢測用調節支架,其特征在于,所述水平托盤(11)的下方設置有與所述水平軌道相適配的滑塊(16)。
8.如權利要求6或7所述的一種微波暗室場地性能檢測用調節支架,其特征在于,所述水平軌道(12)上還安裝有托架(17),所述托架(17)上還設置有拖鏈(18),所述拖鏈(18)的端部固定連接至所述水平托盤(11)上。
9.如權利要求8所述的一種微波暗室場地性能檢測用調節支架,其特征在于,所述水平托盤(11)的兩側均設置有行程開關(19)。
10.一種微波暗室場地性能檢測系統,其特征在于,所述檢測系統包括權利要求1-9任一所述的一種微波暗室場地性能檢測用調節支架。
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