[發明專利]函數的檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202010526420.9
• 申請日: 2020-06-09
• 公開（公告）號: CN111813414A
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 郭平飛;甄志堅;張家琪;王沅召
• 申請（專利權）人: 珠海格力電器股份有限公司;珠海聯云科技有限公司
• 主分類號: G06F8/53
• 分類號: G06F8/53;G06F11/36
• 代理公司: 北京華夏泰和知識產權代理有限公司 11662
• 代理人: 劉曉燕;李雪

1.一種函數的檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取正確模式對應的第一函數；

判斷所述第一函數的參數中是否包含全部預設參數，所述全部預設參數包括必要參數和非必要參數；

當所述第一函數的參數包括所述全部預設參數時，執行所述第一函數，得到第一結果；

獲取錯誤模式對應的第二函數；

判斷所述第二函數的參數中是否包含全部的所述必要參數，所述第一函數的非必要參數和所述第二函數中的非必要參數不同；

當所述第二函數的參數包括全部的所述必要參數時，執行所述第二函數，得到第二結果；

判斷所述第一結果和所述第二結果是否均為預設結果；

當所述第一結果為所述預設結果，且所述第二結果不為所述預設結果時，判定所述第一函數為正確的函數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

當所述第一結果不為預設結果時，輸出所述第一函數為錯誤函數的提示信息。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

當所述第一結果為所述預設結果，且所述第二結果也為所述預設結果時，輸出第一提示信息，所述第一提示信息用于提示所述第一函數為錯誤函數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

當所述第一函數的參數中未包含所述全部預設參數時，輸出第二提示信息，所述第二提示信息用于提示所述第一函數中未包含所述全部預設參數。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

當所述第二函數的參數中未包含全部的所述必要參數時，輸出第三提示信息，所述第三提示信息用于提示所述第二函數中未包含全部的所述必要參數。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述必要參數中包括函數名稱，所述方法還包括：

判斷所述第一函數的函數名稱是否為預設函數名稱；

當所述第一函數的函數名稱為所述預設函數名稱，且所述第一函數的參數中包含所述全部預設參數時，進入所述執行所述第一函數的步驟；

當所述第一函數的函數名稱不為所述預設函數名稱時，輸出第四提示信息，所述第四提示信息用于提示所述第一函數的函數名稱錯誤。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，目標函數包括所述第一函數和所述第二函數，目標結果包括所述第一結果和所述第二結果，執行所述目標函數，得到所述目標結果，包括：

當在執行所述目標函數過程中異常退出時，將異常退出的提示信息作為所述目標結果；

當在執行所述目標函數過程中正常執行時，將執行后得到的結果作為所述目標結果。

8.一種函數的檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

數據獲取模塊，用于獲取正確模式對應的第一函數；

第一判斷模塊，用于判斷所述第一函數的參數中是否包含全部預設參數，所述全部預設參數包括必要參數和非必要參數；

第一執行模塊，用于當所述第一函數的參數包括所述全部預設參數時，執行所述第一函數，得到第一結果；

所述數據獲取模塊還用于獲取錯誤模式對應的第二函數；

第二判斷模塊，用于判斷所述第二函數的參數中是否包含全部的所述必要參數，所述第一函數的非必要參數和所述第二函數中的非必要參數不同；

第二執行模塊，用于當所述第二函數的參數包括全部的所述必要參數時，執行所述第二函數，得到第二結果；

第三判斷模塊，用于判斷所述第一結果和所述第二結果是否均為預設結果；

判定模塊，用于當所述第一結果為所述預設結果，且所述第二結果不為所述預設結果時，判定所述第一函數為正確的函數。

9.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至7中任一項所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。