[發(fā)明專(zhuān)利]高壓半導(dǎo)體裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010525855.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113782604A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-12-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 譚鴻志;劉興潮;楊曉瑩;廖志成 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 世界先進(jìn)積體電路股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/78 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/78;H01L29/10;H01L29/06 |
| 代理公司: | 深圳新創(chuàng)友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44223 | 代理人: | 方艷平 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高壓 半導(dǎo)體 裝置 | ||
一種高壓半導(dǎo)體裝置,包含基底、埋層、汲極區(qū)域、源極區(qū)域、閘極以及至少一濃度調(diào)變區(qū)。該基底具有第一導(dǎo)電類(lèi)型,該埋層設(shè)置于該基底內(nèi)并具有第二導(dǎo)電類(lèi)型。該汲極區(qū)域與源極區(qū)域設(shè)置于該基底內(nèi)并位于該埋層上方,而該閘極則設(shè)置在該基底上,位于該源極區(qū)域與該汲極區(qū)域之間。該至少一濃度調(diào)變區(qū)設(shè)置在局部的埋層內(nèi),并位于該汲極區(qū)域下方,其中,該至少一濃度調(diào)變區(qū)具有該第二導(dǎo)電類(lèi)型,且該至少一濃度調(diào)變區(qū)的摻雜濃度小于該埋層的摻雜濃度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體裝置,尤其涉及一種高壓半導(dǎo)體裝置。
背景技術(shù)
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的提升,業(yè)界已能將控制電路、存儲(chǔ)器、低壓操作電路、以及高壓操作電路及相關(guān)元件同時(shí)整合制作于單一芯片上,以降低成本并提高操作效能。而常用于放大電路中電流或電壓訊號(hào)、作為電路振蕩器(oscillator)、或作為控制電路開(kāi)關(guān)動(dòng)作的開(kāi)關(guān)元件的晶體管元件,更隨著半導(dǎo)體制程技術(shù)的進(jìn)步而被應(yīng)用作為高功率元件或高壓元件。舉例來(lái)說(shuō),作為高壓元件的晶體管元件設(shè)置于芯片內(nèi)部電路(internal circuit)與輸入/輸出(I/O)接腳之間,以避免大量電荷在極短時(shí)間內(nèi)經(jīng)由I/O接腳進(jìn)入內(nèi)部電路而造成破壞。
在目前作為高壓元件的晶體管元件中,主要是以降低側(cè)向電場(chǎng)的方式來(lái)達(dá)到提升崩潰電壓(breakdown voltage)的效果,而在結(jié)構(gòu)上大致包括有雙擴(kuò)散汲極金氧半導(dǎo)體(double diffused drain MOS,DDDMOS)、橫向擴(kuò)散汲極金氧半導(dǎo)體(laterally diffusedMOS,LDMOS)等元件。然而,如何進(jìn)一步地提升高壓半導(dǎo)體裝置的崩潰電壓以符合實(shí)務(wù)上的需求為目前業(yè)界所面臨的課題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種高壓半導(dǎo)體裝置,其是在汲極區(qū)域下方的絕緣埋層內(nèi)局部性地增設(shè)至少一濃度調(diào)變區(qū),該至少一濃度調(diào)變區(qū)具有與該絕緣埋層相同的導(dǎo)電型態(tài)、相同的摻質(zhì)以及較低的摻雜濃度,因而可降低該汲極區(qū)域下方的電場(chǎng)強(qiáng)度,進(jìn)而提升該高壓半導(dǎo)體裝置的崩潰電壓。
為達(dá)上述目的,本發(fā)明的一較佳實(shí)施例提供一種高壓半導(dǎo)體裝置,其包括一基底、一埋層、一汲極區(qū)域、一源極區(qū)域、一閘極以及至少一濃度調(diào)變區(qū)。該基底具有一第一導(dǎo)電類(lèi)型,該埋層設(shè)置于該基底內(nèi),并且具有一第二導(dǎo)電類(lèi)型,該第二導(dǎo)電類(lèi)型與該第一導(dǎo)電類(lèi)型互補(bǔ)。該汲極區(qū)域設(shè)置于該基底內(nèi)并位于該埋層上方,該汲極區(qū)域具有該第一導(dǎo)電類(lèi)型。該源極區(qū)域設(shè)置于該基底內(nèi)并位于該埋層上方,該源極區(qū)域具有該第一導(dǎo)電類(lèi)型。該閘極設(shè)置在該基底上,位于該源極區(qū)域與該汲極區(qū)域之間。該至少一濃度調(diào)變區(qū)設(shè)置在局部的埋層內(nèi)。該至少一濃度調(diào)變區(qū)位于該汲極區(qū)域下方并具有該第二導(dǎo)電類(lèi)型,且該些濃度調(diào)變區(qū)的摻雜濃度小于該埋層的摻雜濃度。
附圖說(shuō)明
圖1繪示本發(fā)明第一實(shí)施例中高壓半導(dǎo)體裝置的俯視示意圖。
圖2為圖1沿著切線A-A’的剖面示意圖。
圖3繪示本發(fā)明第一實(shí)施例中高壓半導(dǎo)體裝置的模擬測(cè)試結(jié)果示意圖。
圖4繪示本發(fā)明第二實(shí)施例中高壓半導(dǎo)體裝置的示意圖。
圖5繪示本發(fā)明第三實(shí)施例中高壓半導(dǎo)體裝置的示意圖。
圖6繪示本發(fā)明第四實(shí)施例中高壓半導(dǎo)體裝置的示意圖。
圖7繪示本發(fā)明第五實(shí)施例中高壓半導(dǎo)體裝置的示意圖。
其中,附圖標(biāo)記說(shuō)明如下:
100、300、400、500、600:高壓半導(dǎo)體裝置
110:基底
120、320、420、520、620:埋層
121:濃度調(diào)變區(qū)
130:第一井區(qū)
140:第二井區(qū)
150:汲極區(qū)域
160:源極區(qū)域
170:基體區(qū)域
190、191、193、195:絕緣結(jié)構(gòu)
210:閘極
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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