[發明專利]一種具有多種測量模式為一體的高性能測試儀器

在審

• 申請號: 202010524914.3
• 申請日: 2020-06-10
• 公開（公告）號: CN111664883A
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發明（設計）人: 石飛;盛華生;韓正國;胡錦程
• 申請（專利權）人: 南京盛普儀器科技有限公司
• 主分類號: G01D11/00
• 分類號: G01D11/00;G01D21/00
• 代理公司: 南京禾易知識產權代理有限公司 32320
• 代理人: 師自春

1.一種具有多種測量模式為一體的高性能測試儀器，包括設備箱(1)，其特征在于：所述設備箱(1)的前端設置有面板框(2)，所述面板框(2)設置為矩形框，所述面板框(2)與設備箱(1)設置為貼合，所述設備箱(1)與面板框(2)固定連接，所述面板框(2)上設置有防滑片(3)，所述防滑片(3)設置有兩個，所述防滑片(3)設置為“凹”狀，所述防滑片(3)與面板框(2)設置為貼合，所述面板框(2)與防滑片(3)固定連接，所述防滑片(3)上設置有第一防滑槽(4)，所述第一防滑槽(4)設置有多個，多個所述第一防滑槽(4)呈波浪狀布置，所述第一防滑槽(4)的深度與防滑片(3)的厚度設置為一致，所述防滑片(3)的上端設置有第二防滑槽(5)，所述第二防滑槽(5)設置有兩個，兩個所述第二防滑槽(5)呈對稱布置，所述第二防滑槽(5)與第一防滑槽(4)的形狀大小設置為一致。

2.根據權利要求1所述的一種具有多種測量模式為一體的高性能測試儀器，其特征在于：所述第二防滑槽(5)的一側設置有操作面板(6)，所述操作面板(6)與設備箱(1)固定連接，所述操作面板(6)的下端設置有電源開關(7)，所述操作面板(6)的一側設置有復用按鍵(8)，所述復用按鍵(8)的一側設置有信號源設置按鍵(9)，所述信號源設置按鍵(9)的一側設置有測量功能按鍵(10)。

3.根據權利要求2所述的一種具有多種測量模式為一體的高性能測試儀器，其特征在于：所述測量功能按鍵(10)的一側設置有系統設置按鍵(11)，所述系統設置按鍵(11)的下端設置有旋鈕(12)，所述旋鈕(12)的下端設置有光標按鍵(13)，所述光標按鍵(13)的一側設置有數字輸入按鍵(14)，所述數字輸入按鍵(14)的下端設置有探頭連接孔(15)。

4.根據權利要求1所述的一種具有多種測量模式為一體的高性能測試儀器，其特征在于：所述設備箱(1)后端的一側設置有連接條(16)，所述連接條(16)設置為“L”狀，所述連接條(16)設置有四個，四個所述連接條(16)設置在設備箱(1)后端的矩形四角處，所述連接條(16)與設備箱(1)固定連接，所述設備箱(1)下端的一側設置有支撐腿(17)，所述支撐腿(17)設置有兩個，所述支撐腿(17)設置為圓柱狀，所述支撐腿(17)與設備箱(1)固定連接，兩個所述支撐腿(17)呈軸向對稱布置，所述設備箱(1)的后端設置有儀器背板(18)，所述儀器背板(18)設置為矩形板，所述儀器背板(18)與設備箱(1)設置為貼合，所述連接條(16)的后端設置有連接塊(19)，所述連接塊(19)設置有四個，所述連接塊(19)設置為矩形板，四個所述連接塊(19)設置在儀器背板(18)的矩形四角處，所述連接塊(19)上設置有連接螺栓(20)，所述連接螺栓(20)設置有四個，所述連接螺栓(20)貫穿連接塊(19)與儀器背板(18)，所述儀器背板(18)與設備箱(1)通過連接螺栓(20)與連接塊(19)連接。

5.根據權利要求4所述的一種具有多種測量模式為一體的高性能測試儀器，其特征在于：所述儀器背板(18)上設置有USB插槽(21)，所述USB插槽(21)的下端設置有VGA插槽(22)，所述VGA插槽(22)的下端設置有RS232串行插槽(23)，所述RS232串行插槽(23)的下端設置有IEEE488插槽(24)，所述IEEE488插槽(24)的一側設置有并行打印插槽(25)。

6.根據權利要求5所述的一種具有多種測量模式為一體的高性能測試儀器，其特征在于：所述并行打印插槽(25)的上端設置有散熱槽(26)，所述散熱槽(26)設置為圓環狀，所述散熱槽(26)的深度與設備箱(1)的厚度設置為一致，所述散熱槽(26)的后端設置有擋灰條(27)，所述擋灰條(27)設置為“V”狀，所述擋灰條(27)設置有兩個，兩個所述擋灰條(27)呈徑向對稱，所述擋灰條(27)上設置有固定塊(28)，所述固定塊(28)設置有四個，所述擋灰條(27)與設備箱(1)通過固定塊(28)連接，所述并行打印插槽(25)的一側設置有外觸發輸入插槽(29)，所述外觸發輸入插槽(29)的一側設置有電源插槽(30)，所述電源插槽(30)的上端設置有銘牌槽(31)，所述銘牌槽(31)設置為矩形槽。