[發明專利]一種三維物體檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質有效
| 申請號: | 202010524825.9 | 申請日: | 2020-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN111709923B | 公開(公告)日: | 2023-08-04 |
| 發明(設計)人: | 高延熹;呂穎;楊化偉;龐竹吟 | 申請(專利權)人: | 中國第一汽車股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/13;G06T3/00 |
| 代理公司: | 北京遠智匯知識產權代理有限公司 11659 | 代理人: | 范坤坤 |
| 地址: | 130011 吉林省長*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 三維 物體 檢測 方法 裝置 計算機 設備 存儲 介質 | ||
1.一種三維物體檢測方法,其特征在于,包括:
獲取與待檢測區域匹配的目標識別圖像和點云數據,并根據所述點云數據,生成與所述待檢測區域匹配的鳥瞰圖;
獲取與所述目標識別圖像對應的圖像二維物體邊框圖,以及與所述鳥瞰圖對應的點云二維物體邊框圖;
獲取與圖像二維物體邊框圖對應的三維物體邊框圖,并生成與所述三維物體邊框圖匹配的鳥瞰投影圖;
圖像二維物體邊框圖和點云二維物體邊框圖中分別包括至少一個二維物體邊框,以及與各二維物體邊框對應的邊框參數和類別;
圖像二維物體邊框圖對應的邊框參數包括以下至少一項:邊框中心坐標、邊框高度以及邊框寬度,點云二維物體邊框圖對應的邊框參數包括以下至少一項:邊框中心坐標、邊框高度、邊框寬度以及朝向角;
所述三維物體邊框圖中包括至少一個三維物體邊框,以及與各三維物體邊框對應的邊框參數和類別;
所述邊框參數包括以下至少一項:邊框中心坐標、邊框高度、邊框寬度、邊框長度以及朝向角;
獲取與圖像二維物體邊框圖對應的三維物體邊框圖,包括:
根據圖像二維物體邊框圖中,各二維物體邊框的邊框中心坐標,以及點云中點的坐標與邊框中心坐標之間的轉換關系,獲取與各二維物體邊框匹配的目標點云;
將目標點云輸入至三維邊框回歸模型,并根據三維邊框回歸模型輸出的三維物體邊框的邊框參數和類別,生成三維物體邊框圖;
將所述鳥瞰投影圖與所述點云二維物體邊框圖進行匹配,并根據匹配結果,對三維物體邊框圖進行更新,得到與所述待檢測區域匹配的三維物體檢測結果。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述點云數據,生成與所述待檢測區域匹配的鳥瞰圖,包括:
根據所述點云數據生成點云鳥瞰投影圖;
對所述點云鳥瞰投影圖進行柵格化,并對柵格化后的點云鳥瞰投影圖進行高度層、密度層以及反射強度層編碼,獲得鳥瞰圖。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,對柵格化后的點云鳥瞰投影圖進行高度層、密度層以及反射強度層編碼,包括:
獲取目標單元格中各點的點云數據的最高值,并對所述最高值進行歸一化處理,獲得與目標單元格匹配的高度層信息;
將目標單元格中點的數量作為與目標單元格匹配的密度層信息;
獲取目標單元格的各點中高度值最大的目標點,并將所述目標點的反射率值作為反射強度層信息;
根據所述高度層信息、所述密度層信息以及所述反射強度層信息,對柵格化后的點云鳥瞰投影圖進行編碼。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,獲取與所述目標識別圖像對應的圖像二維物體邊框圖,以及與所述鳥瞰圖對應的點云二維物體邊框圖,包括:
將目標識別圖像輸入至預先訓練的圖像目標檢測模型中,并獲取圖像目標檢測模型輸出的圖像二維物體邊框圖;
將鳥瞰圖輸入至預先訓練的鳥瞰圖目標檢測模型中,并獲取鳥瞰圖目標檢測模型輸出的點云二維物體邊框圖。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,根據匹配結果,對三維物體邊框圖進行更新,包括:
如果所述鳥瞰投影圖中,不存在三維物體邊框與點云二維物體邊框圖中的目標二維物體邊框匹配,則獲取目標二維物體邊框的邊框中心坐標,并根據點云中點的坐標與邊框中心坐標之間的轉換關系,獲取與目標二維物體邊框匹配的目標點云;
將目標點云輸入至三維邊框回歸模型,并根據三維邊框回歸模型輸出的三維物體邊框的邊框參數和類別,對三維物體邊框圖進行更新。
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