[發明專利]一種用于磁共振成像的梯度渦流補償方法及系統有效
| 申請號: | 202010524731.1 | 申請日: | 2020-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN112881959B | 公開(公告)日: | 2021-12-21 |
| 發明(設計)人: | 徐愷頻;楊培強;張英力;周小龍;施群雁 | 申請(專利權)人: | 蘇州紐邁分析儀器股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R33/561 | 分類號: | G01R33/561 |
| 代理公司: | 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250 | 代理人: | 劉靜 |
| 地址: | 215151 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 磁共振 成像 梯度 渦流 補償 方法 系統 | ||
1.一種用于磁共振成像的梯度渦流補償方法,其特征在于,包括:
采集預設采樣脈沖序列的回波信號,所述預設采樣脈沖序列用于測量渦流數據,所述回波信號包括:基礎回波信號和參考回波信號;
利用預設算法對所述回波信號進行數據處理,計算得到渦流成分參數;
根據所述渦流成分參數生成預加重波形;
通過所述預加重波形對磁共振成像梯度脈沖進行渦流補償,得到預期的目標梯度波形;
其中,所述采集預設采樣脈沖序列的回波信號的步驟,包括:
步驟S10:將測試樣品放置于預設測試區域,完成預掃描,得到所述測試區域的校正參數;
步驟S20:預設置觀測時間,利用所述觀測時間、測試區域的校正參數及預設采樣脈沖序列參數,運行預設采樣脈沖序列,得到回波信號,所述預設采樣脈沖序列參數包括:測試梯度數據、散相梯度數據及聚相梯度數據,其中所述測試梯度數據包括:測試梯度強度、測試梯度持續時間及測試梯度方向;
步驟S30:改變所述測試梯度方向,將預設采樣脈沖序列參數替換為改變后的預設采樣脈沖序列參數,重復步驟S20,直到完成所有梯度方向的回波信號的采集;
所述利用預設算法對所述回波信號進行數據處理,計算得到渦流成分參數的步驟,包括:
對所述回波信號進行取模值操作,得到模值回波信號;
獲取所述模值回波信號的主峰,對所述模值回波信號的主峰進行擬合和插值回歸,得到回波信號的聚相時間;
通過采樣脈沖中心到采樣開始時刻的時間加上對應的聚相時間得到回波時間,所述聚相時間包括:對應基礎回波信號的聚相時間及對應參考回波信號的參考聚相時間;
利用所述回波時間、所述聚相時間和所述聚相梯度數據計算渦流成分參數。
2.根據權利要求1所述的用于磁共振成像的梯度渦流補償方法,其特征在于,
所述預設置觀測時間,利用所述觀測時間、測試區域的校正參數及預設采樣脈沖序列參數,運行預設采樣脈沖序列,得到回波信號的步驟,包括:
步驟201:預設置第一觀測時間;
步驟202:利用第一觀測時間、測試區域的校正參數及第一預設采樣脈沖序列參數,運行預設采樣脈沖序列,得到基礎回波信號;
步驟203:將所述第一預設采樣脈沖序列參數中的測試梯度強度及測試梯度持續時間置為零,得到第二預設采樣脈沖序列參數,根據第一觀測時間運行預設采樣脈沖序列,得到參考回波信號;
步驟204:將第二觀測時間預設置為第一觀測時間,并返回執行步驟S202,直到完成預設采樣脈沖序列的所有回波信號的采集。
3.根據權利要求1所述的用于磁共振成像的梯度渦流補償方法,其特征在于,所述利用所述回波時間、所述聚相時間和所述聚相梯度數據計算渦流成分參數的步驟,包括:
將回波時間內所述聚相時間與所述參考聚相時間之差確定為延遲時間;
利用所述聚相梯度數據中的聚相梯度強度及所述延遲時間,計算得到渦流積分值;
利用所述回波時間、渦流積分值、渦流積分函數模型,基于預設約束模型計算得到渦流成分參數,所述渦流成分參數包括:指數函數的幅度及指數函數的衰減時間常數。
4.根據權利要求3所述的用于磁共振成像的梯度渦流補償方法,其特征在于,通過以下公式計算渦流積分值:
Ieddy[m]=Grph(δrph[m]-δrph[ref]),
其中,Ieddy[m]表示第m組渦流積分值,Grph表示聚相梯度強度,δrph[m]表示第m組聚相時間,δrph[ref]表示參考聚相時間。
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