[發明專利]一種測量V型槽尺寸的測量裝置在審
| 申請號: | 202010520966.3 | 申請日: | 2020-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN111811363A | 公開(公告)日: | 2020-10-23 |
| 發明(設計)人: | 徐旭松;朱敏浩;葉超;許孟然;孫志英 | 申請(專利權)人: | 江蘇理工學院 |
| 主分類號: | G01B5/02 | 分類號: | G01B5/02;G01B5/06;G01B21/22 |
| 代理公司: | 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 顧翰林 |
| 地址: | 213001 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 尺寸 裝置 | ||
本發明為一種測量V型槽尺寸的測量裝置,包括用于放置待測物的底板,所述底板一側滑動設有固定桿,所述固定桿上滑動設有支撐桿,所述支撐桿滑動方向與所述底板垂直,所述支撐桿上滑動設有測量角度和高度的測量機構一和測量槽寬的測量機構二。本發明結構簡單,操作方便,可以測量出V型槽的寬度、長度和角度等尺寸,將多個尺寸測量集中在一個裝置上,省時省力,測量結果更加精確,節省了更多的時間。
技術領域
本發明屬于焊接檢測技術領域,具體說是涉及一種精準化焊接輔助裝置。
背景技術
隨著客戶要求的不斷提高,以及制造技術的不斷發展,對測量技術或者裝置的要求也越來越高,以往一些對測量要求不高的方面也開始提高要求,例如V型槽角度的測量以及V型槽槽口寬度尺寸的測量等,原先對于這些方面的測量要求不是很高,只需要使用如游標卡尺一類的傳統測量裝置,如可以使用游標卡尺來測量V型槽底面寬度,采用角度測量尺來測量V型槽的角度,采用深度測量尺來測量V型槽的長度,但是由于傳統的測量裝置存在很大的局限性,因此其精度往往達不到要求,而且還可能受到工件上結構的影響,測量相當不方便且效率較低,而現有的一些測量裝置能夠達到要求,如三坐標測量能夠準確的測量,并且具有很高的精度,但它檢測成本高,不適合大批量檢測。
發明內容
本發明為了解決采用傳統測量工具測量V型槽尺寸存在很大的局限性的問題,本發明提供了一種測量V型槽尺寸的測量裝置,包括用于放置待測物的底板,所述底板一側滑動設有固定桿,所述固定桿上滑動設有支撐桿,所述支撐桿滑動方向與所述底板垂直,所述支撐桿上滑動設有測量角度和高度的測量機構一和測量槽寬的測量機構二。
作為優選,所述測量機構一包括滑桿一、測量桿一、測量桿二、距離傳感器和角度傳感器,所述滑桿一滑動設置在所述支撐桿上,所述滑桿一的滑動方向與所述底板平行,所述滑桿一的兩端分別轉動設有測量桿一和測量桿二,所述測量桿一上設有所述角度傳感器,所述測量桿二上設有所述距離傳感器。測量桿一和測量桿二可以在滑桿一上轉動,方便測量V型槽的夾角、高度和斜面寬度。
進一步地,為了提高滑動的穩定性,所述滑桿一為T形,所述支撐桿上開設有與所述滑桿一配合滑動的T形滑槽。
作為優選,所述滑桿一上開設有安裝孔,所述安裝孔內固定有一安裝銷,所述安裝銷的兩端轉動設有所述測量桿一和所述測量桿二。安裝銷延伸出安裝孔向安裝孔兩側延伸,測量桿一和測量桿二通過安裝銷轉動設置在滑桿一上。
進一步地,所述測量桿二上設有刻度線。測量桿二上的刻度線用來測量V型槽斜面的尺寸。
作為優選,所述測量機構二包括滑桿二、滑桿三、測量桿三和測量桿四,所述滑桿二滑動設置在所述支撐桿上,所述滑桿二滑動方向與所述底板平行,所述滑桿二上滑動設有所述滑桿三,且所述滑桿三的滑動方向與所述底板垂直,所述滑桿三兩側滑動設有所述測量桿三和測量桿四,所述滑桿三上設有刻度線。滑桿二用來調整測量桿三和測量桿四與待測物的橫向距離,滑桿三用來調整測量桿三和測量桿四與待測物的軸向距離。
進一步地,所述滑桿三上開設有T形滑槽,所述測量桿三和所述測量桿四均滑動設置在所述T形滑槽兩側的T形滑塊上,且兩個所述T形滑塊平行設置,所述測量桿三和所述測量桿四滑動方向均與所述底板平行,所述T形滑塊與所述T形滑槽配合滑動。測量桿滑動設置在T形滑塊上,測量桿三和測量桿四可以在T形滑塊上進行橫向的微調,提高測量精確度,T形滑塊在滑桿三上滑動,T形滑塊的滑動方向與底板平行。
作為優選,為了將測量頭貼緊待測物的邊,所述測量桿三和所述測量桿四的測量頭為方形。
有益效果:本發明結構簡單,操作方便,可以測量出V型槽的寬度、長度和角度等尺寸,將多個尺寸測量集中在一個裝置上,省時省力,測量結果更加精確,節省了更多的時間。
附圖說明
圖1為本發明整體結構示意圖;
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