[發明專利]一種銅箔卷端面平整度的定量分析裝置及方法在審
| 申請號： | 202010520812.4 | 申請日： | 2020-06-10 |
| 公開（公告）號： | CN111750807A | 公開（公告）日： | 2020-10-09 |
| 發明（設計）人： | 楊帥國;范遠朋 | 申請（專利權）人： | 九江德福科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/30 | 分類號： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京紐樂康知識產權代理事務所(普通合伙) 11210 | 代理人： | 田磊 |
| 地址： | 332000 江西省*** | 國省代碼： | 江西;36 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 銅箔 端面 平整 定量分析 裝置 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種銅箔卷端面平整度的定量分析裝置，其特征在于，包括：底座（2），所述底座（2）上側連有步進機（3），所述步進機（3）上端連接有光譜傳感器（4），所述光譜傳感器（4）一側連有發光裝置（5），所述光譜傳感器（4）另一側通過線束連接有信號顯示裝置；
所述的一種銅箔卷端面平整度的定量分析方法包括以下步驟：
S1：選取一卷銅箔卷（1）；
S2：用平整度測量裝置測量銅箔卷（1）的端面的10個點離平整度測量裝置的水平距離，其中，測量裝置與所述銅箔卷（1）的端面距離為10-15厘米，所述銅箔卷（1）的外層與中間潛入紙管的外層的距離至少5毫米；在測量時，所述銅箔卷（1）保持水平靜止；所述銅箔卷（1）的端面距測量裝置的距離要相等；
S3：計算10個點距離值的標準差；
S4：利用標準差的大小定量判定所述銅箔卷（1）的端面的平整度，其中，測量裝置測量出的平整度在相同的距離下對數值進行對比。
2.根據權利要求1所述的一種銅箔卷端面平整度的定量分析裝置，其特征在于，所述步進機（3）的步進距離至少0.5毫米。
3.根據權利要求1所述的一種銅箔卷端面平整度的定量分析裝置，其特征在于，所述發光裝置（5）發出的光為白光。
4.根據權利要求1所述的一種銅箔卷端面平整度的定量分析裝置，其特征在于，所述步進機（3）的步進距離依據所述銅箔卷（1）的直徑大小設定。
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