[發(fā)明專利]光噪測(cè)試系統(tǒng)、光噪測(cè)試方法及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010520554.X
• 申請(qǐng)日: 2020-06-08
• 公開（公告）號(hào): CN111683332B
• 公開（公告）日: 2021-11-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 樊萌;趙志勇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 榮成歌爾電子科技有限公司
• 主分類號(hào): H04R29/00
• 分類號(hào): H04R29/00
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 張毅

1.一種光噪測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述光噪測(cè)試系統(tǒng)包括：

消音箱；

麥克風(fēng)，所述麥克風(fēng)位于所述消音箱內(nèi)；

光源，所述光源的出射光照射所述麥克風(fēng)的聲孔；

光源控制器，所述光源控制器與所述光源連接，以控制所述光源的發(fā)光參數(shù)和/或所述光源的啟閉；

音頻分析儀，所述音頻分析儀與所述麥克風(fēng)連接，所述音頻分析儀用于對(duì)所述麥克風(fēng)輸出的音頻信號(hào)進(jìn)行噪聲分析；

上位機(jī)，所述上位機(jī)與所述音頻分析儀連接，用于根據(jù)所述音頻分析儀輸出的噪音分析結(jié)果確定光噪測(cè)試結(jié)果，所述上位機(jī)與所述光源控制器連接，所述光源控制器用于接收所述上位機(jī)發(fā)送的控制信號(hào)，并根據(jù)所述控制信號(hào)控制所述光源的發(fā)光參數(shù)。

2.如權(quán)利要求1所述的光噪測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述光源為激光光源，所述激光光源包括紅色子光源、藍(lán)色子光源以及黃色子光源。

3.如權(quán)利要求2所述的光噪測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述光源控制器用于根據(jù)所述控制信號(hào)切換控制所述紅色子光源、所述藍(lán)色子光源以及所述黃色子光源發(fā)光。

4.如權(quán)利要求3所述的光噪測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述光源控制器包括繼電器，所述繼電器的控制端與所述上位機(jī)連接，所述繼電器的輸入端與所述光噪測(cè)試系統(tǒng)的電源連接，所述繼電器的輸出端與所述紅色子光源、所述藍(lán)色子光源以及所述黃色子光源連接，所述紅色子光源、所述藍(lán)色子光源以及所述黃色子光源連接的輸出端不同，所述控制端用于切換所述輸入端連通的輸出端。

5.如權(quán)利要求1所述的光噪測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述光源為紅外光光源；所述光源控制器為信號(hào)發(fā)生器，所述信號(hào)發(fā)生器的輸出信號(hào)用于激勵(lì)所述紅外光源發(fā)出紅外光，所述信號(hào)發(fā)生器的輸出信號(hào)可調(diào)。

6.如權(quán)利要求1所述的光噪測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述麥克風(fēng)的輸出端與所述音頻分析儀的輸入端之間連接有轉(zhuǎn)接板。

7.如權(quán)利要求6所述的光噪測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接板為PCB板。

8.如權(quán)利要求6所述的光噪測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接板包括第一接線端子和第二接線端子，所述第一接線端子與所述第二接線端子之間電性導(dǎo)通；所述第一接線端子與所述麥克風(fēng)的輸出端電性連接，所述第二接線端子與所述音頻分析儀的輸入端電性連接。

9.一種光噪測(cè)試方法，其特征在于，所述光噪測(cè)試方法應(yīng)用于如權(quán)利要求1-8中任一項(xiàng)所述的光噪測(cè)試系統(tǒng)，所述光噪測(cè)試方法包括以下步驟：

上位機(jī)接收音頻分析儀輸出的噪聲分析結(jié)果，并獲取光源的發(fā)光參數(shù)；

根據(jù)所述噪聲分析結(jié)果及所述發(fā)光參數(shù)確定光噪測(cè)試結(jié)果。

10.如權(quán)利要求9所述的光噪測(cè)試方法，其特征在于，所述上位機(jī)接收音頻分析儀輸出的噪聲分析結(jié)果，并獲取光源的發(fā)光參數(shù)的步驟之前，還包括：

輸出測(cè)試控制界面，并通過(guò)所述測(cè)試控制界面接收測(cè)試控制參數(shù)；

向光源控制器發(fā)送所述測(cè)試控制參數(shù)對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)，以供所述光源控制器根據(jù)所述控制信息控制所述測(cè)試控制參數(shù)對(duì)應(yīng)的子光源發(fā)光。

11.如權(quán)利要求10所述的光噪測(cè)試方法，其特征在于，所述獲取光源的發(fā)光參數(shù)的步驟包括：

根據(jù)所述測(cè)試控制參數(shù)確定所述發(fā)光參數(shù)。

12.如權(quán)利要求9所述的光噪測(cè)試方法，其特征在于，所述獲取光源的發(fā)光參數(shù)的步驟包括：

獲取信號(hào)發(fā)生器的輸出電壓；

根據(jù)所述輸出電壓確定所述發(fā)光參數(shù)。

13.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有光噪測(cè)試控制程序，所述光噪測(cè)試控制程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求9至12中任一項(xiàng)所述的光噪測(cè)試方法的步驟。