[發(fā)明專利]射線檢測系統(tǒng)及其控制方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010518452.4
• 申請日: 2020-06-09
• 公開（公告）號: CN111839561A
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳宏偉;袁晨霞;張素華
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市創(chuàng)谷科技發(fā)展有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 虞凌霄

1.一種射線檢測系統(tǒng)的控制方法，其特征在于，包括：

S100，獲取檢測部位對應(yīng)的有效像素區(qū)域內(nèi)全部像素的目標(biāo)積分電壓值；其中，所述目標(biāo)積分電壓值對應(yīng)所述檢測部位的最小曝光計(jì)量值；

S200，向放置有所述檢測部位的像素陣列持續(xù)曝光第一時間，分別采集所述第一時間內(nèi)多個時間節(jié)點(diǎn)的所述有效像素區(qū)域內(nèi)全部像素的電壓信號，并根據(jù)所述有效像素區(qū)域內(nèi)全部像素的電壓信號得到所述有效像素區(qū)域內(nèi)全部像素的電壓值；

S300，對每個所述時間節(jié)點(diǎn)對應(yīng)的所述有效像素區(qū)域內(nèi)全部像素的電壓值進(jìn)行積分處理得到積分電壓值，根據(jù)所述多個時間節(jié)點(diǎn)和多個所述積分電壓值得到第一積分曲線；

S400，根據(jù)所述第一積分曲線、所述第一時間和所述目標(biāo)積分電壓值得到剩余曝光時間；其中，S400，根據(jù)所述第一積分曲線、所述第一時間和所述目標(biāo)積分電壓值得到剩余曝光時間的步驟包括：S401，根據(jù)所述第一積分曲線得到所述積分電壓值隨時間的變化率；S402，根據(jù)所述積分電壓值隨時間的變化率、所述第一時間和所述目標(biāo)積分電壓值得到所述剩余曝光時間；

S500，控制射線發(fā)生裝置在所述第一時間內(nèi)對所述像素陣列曝光后再持續(xù)曝光所述剩余曝光時間，停止對所述像素陣列曝光。

2.如權(quán)利要求1所述的射線檢測系統(tǒng)的控制方法，其特征在于，還包括：

S110，通過所述射線發(fā)生裝置向放置有所述檢測部位的像素陣列曝光，獲取所述像素陣列中全部像素的所述電壓信號，每個像素對應(yīng)一個電壓信號，并根據(jù)所述像素陣列中全部像素的所述電壓信號找到與所述檢測部位對應(yīng)的所述有效像素區(qū)域。

3.如權(quán)利要求2所述的射線檢測系統(tǒng)的控制方法，其特征在于，在S110中根據(jù)所述像素陣列中全部像素的電壓信號找到所述檢測部位對應(yīng)的所述有效像素區(qū)域的步驟包括：

S111，根據(jù)所述像素陣列中全部像素的所述電壓信號得到所述像素陣列中全部像素的電壓值；

S112，根據(jù)所述像素陣列中全部像素的電壓值的大小找到所述有效像素區(qū)域，所述有效像素區(qū)域的任一像素的電壓值均小于所述像素陣列中非所述有效像素區(qū)域內(nèi)的像素的電壓值。

4.如權(quán)利要求2所述的射線檢測系統(tǒng)的控制方法，其特征在于，在S110之后，還包括：

S120，對所述有效像素區(qū)域內(nèi)全部像素的所述電壓信號對應(yīng)的電壓值進(jìn)行積分處理，得到實(shí)時積分值；

S130，判斷所述實(shí)時積分值是否等于第一閾值；

S140，如果所述實(shí)時積分值不等于所述第一閾值，則執(zhí)行S130，如果所述實(shí)時積分值等于所述第一閾值，則開始所述第一時間的計(jì)時，并執(zhí)行S200。

5.如權(quán)利要求1所述的射線檢測系統(tǒng)的控制方法，其特征在于，在S400之后，還包括：

S410，判斷所述第一時間與所述剩余曝光時間之和是否小于最大曝光時間，若是，則執(zhí)行S500。

6.如權(quán)利要求1所述的射線檢測系統(tǒng)的控制方法，其特征在于，在S500之后，還包括：

S600，獲取所述有效像素區(qū)域內(nèi)全部像素的灰度值和坐標(biāo)值，并根據(jù)所述有效像素區(qū)域內(nèi)全部像素的所述灰度值和坐標(biāo)值得到檢測部位的檢測圖像。