[發(fā)明專(zhuān)利]存儲(chǔ)器系統(tǒng)及存儲(chǔ)器系統(tǒng)的操作方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010517474.9
• 申請(qǐng)日: 2020-06-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112596665A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-04-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 韓周玹
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 愛(ài)思開(kāi)海力士有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F3/06
• 分類(lèi)號(hào): G06F3/06;G06F11/10;G11C29/42
• 代理公司: 北京市金杜律師事務(wù)所 11256
• 代理人: 傅遠(yuǎn)

1.一種存儲(chǔ)器系統(tǒng)，包括：

存儲(chǔ)器設(shè)備，包括多個(gè)存儲(chǔ)器塊；以及

存儲(chǔ)器控制器，被配置為通過(guò)對(duì)所述多個(gè)存儲(chǔ)器塊執(zhí)行初始測(cè)試操作，來(lái)控制所述存儲(chǔ)器設(shè)備檢測(cè)初始?jí)膲K，

其中所述存儲(chǔ)器控制器將與檢測(cè)到的所述初始?jí)膲K物理相鄰的存儲(chǔ)器塊注冊(cè)并管理為弱存儲(chǔ)器塊。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器系統(tǒng)，其中所述存儲(chǔ)器控制器包括存儲(chǔ)器塊管理塊，所述存儲(chǔ)器塊管理塊被配置為在所述初始測(cè)試操作中接收關(guān)于檢測(cè)到的所述初始?jí)膲K的信息，并且基于關(guān)于所述初始?jí)膲K的所述信息，將與所述初始?jí)膲K物理相鄰的所述存儲(chǔ)器塊注冊(cè)并管理為所述弱存儲(chǔ)器塊。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器系統(tǒng)，其中所述存儲(chǔ)器控制器基于從外部接收的編程數(shù)據(jù)的讀取和寫(xiě)入頻率，將在編程操作中所述編程數(shù)據(jù)分為冷數(shù)據(jù)和熱數(shù)據(jù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的存儲(chǔ)器系統(tǒng)，其中在使用所述冷數(shù)據(jù)的編程操作中，所述存儲(chǔ)器控制器控制所述存儲(chǔ)器設(shè)備選擇并且編程被注冊(cè)為所述弱存儲(chǔ)器塊的所述存儲(chǔ)器塊中的至少一個(gè)存儲(chǔ)器塊。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)器系統(tǒng)，其中在對(duì)被注冊(cè)為所述弱存儲(chǔ)器塊的所述存儲(chǔ)器塊的編程操作中，所述存儲(chǔ)器控制器通過(guò)使用單級(jí)單元編程方案來(lái)控制所述存儲(chǔ)器設(shè)備對(duì)被注冊(cè)為所述弱存儲(chǔ)器塊的所述存儲(chǔ)器塊進(jìn)行編程。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的存儲(chǔ)器系統(tǒng)，其中在使用所述熱數(shù)據(jù)的編程操作中，所述存儲(chǔ)器控制器控制所述存儲(chǔ)器設(shè)備，以選擇并且編程除被注冊(cè)為所述弱存儲(chǔ)器塊的所述存儲(chǔ)器塊之外的正常存儲(chǔ)器塊中的至少一個(gè)存儲(chǔ)器塊。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲(chǔ)器系統(tǒng)，其中所述存儲(chǔ)器控制器將被注冊(cè)為所述弱存儲(chǔ)器塊的所述存儲(chǔ)器塊的刷新周期設(shè)置并管理為比所述正常存儲(chǔ)器塊的刷新周期短。

8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)器系統(tǒng)，其中所述存儲(chǔ)器控制器還包括chipkill管理塊，所述chipkill管理塊被配置為選擇在所述存儲(chǔ)器塊管理塊中注冊(cè)的所述弱存儲(chǔ)器塊作為chipkill存儲(chǔ)器塊，并且控制使用所述多個(gè)存儲(chǔ)器塊中的每個(gè)存儲(chǔ)器塊中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)生成的chipkill奇偶校驗(yàn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在所述chipkill存儲(chǔ)器塊中。

9.一種存儲(chǔ)器系統(tǒng)，包括：

存儲(chǔ)器設(shè)備，包括多個(gè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器；以及

存儲(chǔ)器控制器，被配置為通過(guò)對(duì)所述多個(gè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器執(zhí)行初始測(cè)試操作，來(lái)控制所述存儲(chǔ)器設(shè)備檢測(cè)所述多個(gè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器中的每個(gè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器中包括的多個(gè)存儲(chǔ)器塊中的初始?jí)膲K，

其中所述存儲(chǔ)器控制器將與檢測(cè)到的所述初始?jí)膲K相鄰的存儲(chǔ)器塊注冊(cè)為弱存儲(chǔ)器塊，并且選擇所述弱存儲(chǔ)器塊作為存儲(chǔ)所述多個(gè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的chipkill奇偶校驗(yàn)的chipkill存儲(chǔ)器塊。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的存儲(chǔ)器系統(tǒng)，其中所述存儲(chǔ)器控制器包括存儲(chǔ)器塊管理塊，所述存儲(chǔ)器塊管理塊被配置為在所述初始測(cè)試操作中接收關(guān)于檢測(cè)到的所述初始?jí)膲K的信息，并且基于關(guān)于所述初始?jí)膲K的所述信息，將與所述初始?jí)膲K物理相鄰的存儲(chǔ)器塊注冊(cè)并管理為所述弱存儲(chǔ)器塊。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的存儲(chǔ)器系統(tǒng)，其中所述存儲(chǔ)器控制器還包括chipkill管理塊，所述chipkill管理塊被配置為選擇在所述存儲(chǔ)器塊管理塊中注冊(cè)的所述弱存儲(chǔ)器塊作為chipkill存儲(chǔ)器塊，并且控制使用所述多個(gè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器中的每個(gè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)生成的chipkill奇偶校驗(yàn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在所述chipkill存儲(chǔ)器塊中。