[發(fā)明專利]光線檢測(cè)方法、光線檢測(cè)裝置和電子設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010516694.X
• 申請(qǐng)日: 2020-06-08
• 公開（公告）號(hào): CN111781577A
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊茜
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 維沃移動(dòng)通信有限公司
• 主分類號(hào): G01S7/481
• 分類號(hào): G01S7/481;G01S17/04;G01V8/12
• 代理公司: 北京國昊天誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315
• 代理人: 朱文杰

本申請(qǐng)公開了一種光線檢測(cè)方法、光線檢測(cè)裝置和電子設(shè)備，屬于通信技術(shù)領(lǐng)域。其中方法應(yīng)用于電子設(shè)備，電子設(shè)備內(nèi)部設(shè)置有紅外光發(fā)射器和紅外光接收器，紅外光發(fā)射器在電子設(shè)備的控制下向電子設(shè)備外部發(fā)射線性掃頻紅外光，紅外光接收器接收到線性掃頻紅外光的反射光時(shí)，確定接收到的反射光的光強(qiáng)度和此時(shí)紅外光發(fā)射器的發(fā)光頻率與接收到的反射光的光頻率之間的頻率差，并根據(jù)頻率差和光強(qiáng)度，判斷接收到的反射光是外部物體反射光還是干擾光。可見本實(shí)施例能夠識(shí)別接收到的反射光是外部物體反射光還是干擾光，排除了干擾光的干擾，解決了現(xiàn)有技術(shù)中檢測(cè)靠近物體時(shí)無法識(shí)別干擾光，降低物體檢測(cè)精度的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)屬于通信技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種光線檢測(cè)方法、光線檢測(cè)裝置和電子設(shè)備

背景技術(shù)

全面屏手機(jī)是當(dāng)今手機(jī)發(fā)展的趨勢(shì)，而全面屏手機(jī)檢測(cè)是否有物體靠近主要使用屏下紅外檢測(cè)技術(shù)。屏下紅外檢測(cè)技術(shù)中，手機(jī)屏幕下方設(shè)置有紅外燈和紅外接收器，紅外燈在CPU(central processing unit，中央處理器)的控制下向屏幕上方發(fā)射紅外線，大部分紅外線穿過手機(jī)屏幕后，在遇到物體時(shí)發(fā)生反射，反射后的紅外光會(huì)再次穿過手機(jī)屏幕，并由紅外接收器接收，紅外接收器對(duì)接收到的光信號(hào)進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換處理后將電信號(hào)傳輸至CPU，CPU再進(jìn)行相應(yīng)的操作。

在實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)過程中，申請(qǐng)人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題：由于手機(jī)屏幕材料和結(jié)構(gòu)的問題，紅外光在穿過屏幕傳輸?shù)绞謾C(jī)外部的過程中會(huì)產(chǎn)生干擾光，干擾光可以舉例為在手機(jī)內(nèi)部由屏幕內(nèi)表面對(duì)紅外光進(jìn)行反射生成的光，干擾光無法被識(shí)別，也會(huì)被紅外接收器接收并處理，從而降低物體檢測(cè)精度。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例的目的是提供一種光線檢測(cè)方法、光線檢測(cè)裝置和電子設(shè)備，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中利用紅外線檢測(cè)物體是否靠近時(shí)無法識(shí)別干擾光，降低物體檢測(cè)精度的問題。

為了解決上述技術(shù)問題，本申請(qǐng)是這樣實(shí)現(xiàn)的：

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種光線檢測(cè)方法，應(yīng)用于電子設(shè)備，所述電子設(shè)備的內(nèi)部設(shè)置有紅外光發(fā)射器和紅外光接收器，該方法包括：

控制所述紅外光發(fā)射器向所述電子設(shè)備外部發(fā)射線性掃頻紅外光；其中，所述線性掃頻紅外光被發(fā)射時(shí)的瞬時(shí)光頻率隨所述紅外光發(fā)射器的發(fā)光時(shí)間周期性變化，在一個(gè)變化周期內(nèi)，所述瞬時(shí)光頻率隨所述發(fā)光時(shí)間線性變化；

在所述紅外光接收器接收到所述線性掃頻紅外光的反射光時(shí)，確定接收時(shí)刻所述紅外光發(fā)射器的發(fā)光頻率與接收到的所述反射光的光頻率之間的頻率差，以及，確定所述反射光的光強(qiáng)度；

根據(jù)所述頻率差和所述光強(qiáng)度，判斷所述反射光為外部物體反射光或者判斷所述反射光為干擾光。

第二方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種光線檢測(cè)裝置，應(yīng)用于電子設(shè)備，所述電子設(shè)備的內(nèi)部設(shè)置有紅外光發(fā)射器和紅外光接收器，該裝置包括：

控制模塊，用于控制所述紅外光發(fā)射器向所述電子設(shè)備外部發(fā)射線性掃頻紅外光；其中，所述線性掃頻紅外光被發(fā)射時(shí)的瞬時(shí)光頻率隨所述紅外光發(fā)射器的發(fā)光時(shí)間周期性變化，在一個(gè)變化周期內(nèi)，所述瞬時(shí)光頻率隨所述發(fā)光時(shí)間線性變化；

確定模塊，用于在所述紅外光接收器接收到所述線性掃頻紅外光的反射光時(shí)，確定接收時(shí)刻所述紅外光發(fā)射器的發(fā)光頻率與接收到的所述反射光的光頻率之間的頻率差，以及，確定所述反射光的光強(qiáng)度；

判斷模塊，用于根據(jù)所述頻率差和所述光強(qiáng)度，判斷所述反射光為外部物體反射光或者判斷所述反射光為干擾光。

第三方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種電子設(shè)備，該電子設(shè)備包括處理器、存儲(chǔ)器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的程序或指令，所述程序或指令被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如第一方面所述的方法的步驟。