[發明專利]OLED顯示面板的像素補償方法及信息處理裝置

有效

• 申請號: 202010515994.6
• 申請日: 2020-06-09
• 公開（公告）號: CN111599307B
• 公開（公告）日: 2021-09-24
• 發明（設計）人: 樊磊;張晉芳;劉計平;李鑫輝
• 申請（專利權）人: 北京交通大學;北京易萊特科技有限公司
• 主分類號: G09G3/3208
• 分類號: G09G3/3208
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開一種OLED顯示面板的像素補償方法，其應用于顯示面板驅動芯片之中，使該顯示面板驅動芯片能夠依據OLED顯示面板的像素的當前衰退老化程度而實時、動態地調整出廠時即被寫入閃存之中的Demura像素補償表。并且，在該顯示面板驅動芯片下電之后，動態更新的Demura像素補償表會被回寫至閃存之中，達成自動更新像素補償表的效果。如此，依據動態更新的Demura像素補償表，顯示面板驅動芯片除了可消除該顯示面板驅動芯片舊有的Mura現象之外，也能夠對應地消除因像素的有機材料衰退所衍生的新的Mura現象。

技術領域

本發明涉及OLED顯示器的技術領域，尤其涉及一種OLED顯示面板的像素補償方法及信息處理裝置。

背景技術

現有技術中，平面顯示器包含非自發光型平面顯示器以及自發光型平面顯示器，其中，液晶顯示器為使用已久的一種非自發光型平面顯示器，而有機發光二極管(Organiclight-emitting diode,OLED)顯示器則為目前受到廣泛應用的一種自發光型平面顯示器。與液晶顯示器相比，OLED顯示器具有諸多優點，包含：高對比度度、超輕薄、可彎曲等。

OLED顯示器主要包含顯示面板驅動芯片、閃存以及OLED顯示面板。由于生產過程的材料差異及/或制程工藝誤差等原因，部分的OLED顯示面板會出現Mura現象。其中，Mura是指在OLED顯示面板內因子像素亮度不均所造成各種痕跡的現象。

目前，Demura方法被廣泛地用于消除所述OLED顯示面板的Mura現象，其提供Demura像素補償表于該閃存之中，供該顯示面板驅動芯片加載使用以執行一像素補償作業從而消除所述Mura現象。已知的Demura方法包括以下步驟：(1)使用高分辨率和高精度的CCD照像機對OLED顯示器進行面板畫面亮度采集；(2)依據采集資料分析各像素的顏色分布特征，并根據相關算法計算出Mura數據；(3)依據Mura數據及相應的Demura補償算法產生一Demura像素補償表，并將所述Demura像素補償表寫入閃存之中；(4)再次對OLED顯示器進行面板畫面亮度采集，確認Mura現象已消除。

然而，上述Demura像素補償表只會在OLED顯示器出廠時被一次性地寫入閃存之中，之后便不會再進行變更或修改。OLED顯示面板是以有機發光材料作為其紅色子像素(Sub-pixel)、綠色子像素和藍色子像素，而在一個像素(Pixel)被長時間地高亮度點亮的情況下，有機發光材料會因衰退(Degradation)而老化從而導致其發光效率降低，致使該像素在相同的驅動電流下無法顯示指定的亮度，最終令OLED顯示面板出現發光不均勻的現象。

更進一步地說明，由于每個子像素在長時間使用后具有不同的損耗程度，因此，在長時間顯示固定高亮度靜態圖片的情況下，OLED顯示面板上便容易出現新的圖像殘影，被認為是新的Mura現象。實踐經驗顯示，出廠時被寫入閃存的Demura像素補償表并無法有效地消除前述的新的Mura現象。

由上述說明可知，本領域亟需一種新式的OLED顯示面板的像素補償方法。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種OLED顯示面板的像素補償方法，其應用于顯示面板驅動芯片之中，使該顯示面板驅動芯片能夠依據OLED顯示面板的像素的當前衰退老化程度而實時、動態地調整出廠時即被寫入閃存之中的Demura像素補償表，有效地消除Mura現象。

為達成上述目的，本發明提出所述OLED顯示面板的像素補償方法，其應用于顯示面板驅動芯片之中，且包括：

(1)在該顯示面板驅動芯片上電后，將先前衰退計數值從外部內存加載到該顯示面板驅動芯片的內部存儲器之中；

(2)將該OLED顯示面板劃分為X個顯示區塊，且計算各所述顯示區塊的區塊平均灰階值，并進一步地將各所述區塊平均灰階值和該面板平均灰階值之間的一差值除以所述面板平均灰階值，從而獲得X個區塊衰退率；其中各所述顯示區塊皆包含多個像素，且X為正整數；