[發明專利]一種通用型多功能可調星載天線測試平臺

有效

• 申請號: 202010511474.8
• 申請日: 2020-06-08
• 公開（公告）號: CN111596146B
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 沈禮;周華;李佳;余偉
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十四研究所
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R1/04
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 高嬌陽

本發明公開了一種通用型多功能可調星載天線測試平臺，涉及天線測試裝置技術領域，具體包括底盤框架、旋轉平臺、支撐框架和工作平臺，所述底盤框架的上表面分別設置有軸承座、萬向球和輔助撐腳，軸承座的表面設置有回轉支承，回轉支承的頂部與旋轉平臺的底部固定連接。通過設置萬向輪、蝸輪蝸桿升降機和調整裝置，達到了可兼容多種口徑天線陣面暗室測試，有效降低了設計和生產成本能對天線陣面俯仰和方位向角度進行精調，極大提升了暗室天線調平效率的效果，解決了天線平面度、天線陣面與暗室掃描架之間的平行度等參數對天線陣面的指向有較大的影響，測試平臺需具有陣面平面度保障以及方位向、俯仰向角度調整功能的問題。

技術領域

本發明涉及一種天線測試裝置，具體是一種通用型多功能可調星載天線測試平臺。

背景技術

近年來，隨著星載合成孔徑雷達威力提升，星載有源相控陣天線陣面口徑日益增大，沿展開方向(方位向)的距離可達10余米，通常在進入軌道后利用可展機構，對各塊天線子板進行展開和支撐來實現較大的物理口徑。為了在裝星前對天線陣面方向圖等電性能進行測試，往往采用天線測試平臺替代可展機構對天線子板進行固定支撐，模擬展開狀態下的天線陣面狀態，以便進行相控陣天線的暗室測試。

由于天線平面度、天線陣面與暗室掃描架之間的平行度等參數對天線陣面的指向有較大的影響，測試平臺需具有陣面平面度保障以及方位向、俯仰向角度調整功能。傳統的天線測試平臺往往采用萬向輪前后移動調整方位向角度，同時為了保障大口徑天線測試平臺剛度，測試平臺重量較大，進行微小角度調整時用萬向輪調整不僅笨重還有可能導致角度調不準而反復操作，架設和調平時間往往在2天以上，耗費了大量人力，因此，亟需設計一種方便、靈敏的方位角和俯仰角可調的測試平臺。

不同的應用需求和不同的天線工作頻段導致星載各天線陣面具有不同的口徑，星載天線測試平臺作為一種地面輔助測試裝置，若對每一個天線陣面均設計一套測試平臺，會造成大量的人力、成本和周期的浪費，因此，需考慮天線測試平臺的通用性，對不同口徑的天線陣面測試要求進行兼容。

目前，國內星載相控陣天線大多采用熱管來作為均溫和導熱的手段，地面天線陣面在暗室測試時，熱管與地面垂直，受重力影響熱管不能啟動，陣面溫控系統無法奏效，局部溫度急劇升高，影響天線相位和單機元器件的可靠性，因此天線測試架需考慮測試時輔助陣面散熱的功能。

目前，可以查到的關于此類星載測試平臺的文獻較少，現有的星載天線測試平臺的缺點是不能對天線指向進行精調，對測試環境未進行全面評估導致測試要求不能全覆蓋，同時均只針對單種口徑的天線進行設計，造成人力、成本的浪費，因此，提出一種通用型、多功能、陣面指向可調的星載測試平臺，對提升方位角調整效率和精度、降低成本、保障電測試的有效性是很有意義的。

發明內容

本發明的目的在于提供一種通用型多功能可調星載天線測試平臺，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種通用型多功能可調星載天線測試平臺，包括底盤框架、旋轉平臺、支撐框架和工作平臺，所述底盤框架的上表面分別設置有軸承座、萬向球和輔助撐腳，軸承座的表面設置有回轉支承，回轉支承的頂部與旋轉平臺的底部固定連接，旋轉平臺的下表面與萬向球和輔助撐腳的頂部活動連接，底盤框架的上表面設置有調整裝置，底盤框架的底部分別設置有萬向輪和蝸輪蝸桿升降機，萬向輪與蝸輪蝸桿升降機的位置處相互錯開，支撐框架和工作平臺均設置在旋轉平臺的上表面，支撐框架位于工作平臺的正面，旋轉平臺的上表面設置有樓梯，樓梯的頂部固定連接在工作平臺的正面，工作平臺的頂部設置有三腳架，三腳架的正面設置有球頭絲杠，球頭絲杠的正面與支撐框架的背面活動連接，支撐框架的懸臂上設置有活動托板，支撐框架的一側設置有槽形固定板。

作為本發明進一步的方案：所述支撐框架包括X向基準、Y向基準、Z向基準和天線子板調整裝置，X向基準、Y向基準和Z向基準均與天線子板調整裝置活動連接。