[發明專利]一種透射式光電陰極及其制備方法和應用有效
| 申請號: | 202010511186.2 | 申請日: | 2020-06-08 |
| 公開(公告)號: | CN111627783B | 公開(公告)日: | 2023-01-17 |
| 發明(設計)人: | 蔡志鵬;張景文 | 申請(專利權)人: | 陜西理工大學;西安交通大學 |
| 主分類號: | H01J1/34 | 分類號: | H01J1/34;H01J40/06;H01J43/08;H01J31/50;H01J9/12 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務所 11569 | 代理人: | 代芳 |
| 地址: | 723001 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 透射 光電 陰極 及其 制備 方法 應用 | ||
1.一種透射式光電陰極,其特征在于,沿光入射方向包括依次層疊設置的外表面增透膜、玻璃窗、粘接膜/內表面增透膜、緩沖層、發射層和激活層;
所述粘接膜/內表面增透膜包括粘接膜和內表面增透膜;
所述內表面增透膜位于玻璃窗表面的中央位置,且未至所述玻璃窗表面的邊緣位置;所述粘接膜位于玻璃窗表面的邊緣位置,且與所述內表面增透膜緊密連接;
所述粘接膜的厚度大于所述內表面增透膜的厚度。
2.如權利要求1所述的透射式光電陰極,其特征在于,所述外表面增透膜或所述內表面增透膜獨立地包括≥1層的光學薄膜;
每層所述光學薄膜的材料獨立地為TiO2、SiO2、Si3N4、SnO2、HfO2、Al2O3、Bi2O3、AlOxNy、AlF3、BiF3、CeF3、CeO2、CsBr、CsI、Cr2O3、金剛石、Dy2O3、Eu2O3、Gd2O3、Ho2O3、In2O3、Nb2O5、Nd2O3、PbCl2、Pr6O11、Sc2O3、Sb2O3、Sm2O3、Y2O3、ZnO、ZnS、BeO、MgO、MgF2、ZrO2、La2O3、La2O5、LiF、CaF2、LaF3、BaF2、NaF、Na3AlF6、SrF2、NdF3、PbF2、YbF3、SmF3和ThF4中的一種或幾種。
3.如權利要求2所述的透射式光電陰極,其特征在于,所述外表面增透膜的厚度為5nm~10μm;
所述內表面增透膜的厚度為30nm~10μm。
4.如權利要求3所述的透射式光電陰極,其特征在于,
當所述內表面增透膜包括1層光學薄膜時,所述光學薄膜為Si3N4薄膜,厚度為30~80nm;
當所述內表面增透膜包括1層的光學薄膜時,所述內表面增透膜與所述緩沖層接觸的光學薄膜為Si3N4薄膜;且所述內表面增透膜中的Si3N4薄膜的總厚度≥30nm。
5.如權利要求1所述的透射式光電陰極,其特征在于,所述粘接膜,自所述緩沖層始,包括依次設置的Si3N4膜和SiO2膜;所述Si3N4膜的厚度≥30nm。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于陜西理工大學;西安交通大學,未經陜西理工大學;西安交通大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010511186.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





