[發明專利]一種環境試驗箱控制方法、裝置及計算機可讀存儲介質有效
| 申請號: | 202010500838.2 | 申請日: | 2020-06-04 |
| 公開(公告)號: | CN111654006B | 公開(公告)日: | 2022-06-14 |
| 發明(設計)人: | 張鐵成 | 申請(專利權)人: | OPPO(重慶)智能科技有限公司 |
| 主分類號: | H02H3/26 | 分類號: | H02H3/26;G01N17/00;G05D27/02 |
| 代理公司: | 華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 米晶晶 |
| 地址: | 401120 重慶*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 環境 試驗 控制 方法 裝置 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
根據本申請提供的環境試驗箱控制方法、裝置及計算機可讀存儲介質,將老化架供電電路接入于環境箱供電電路,環境箱供電電路中設置有漏電保護開關;首先實時檢測環境箱的箱門開關狀態;然后基于箱門開關狀態確定老化架的目標電路工作狀態;最后控制老化架供電電路從當前電路工作狀態切換至目標電路工作狀態。通過本申請方案的實施,一方面,將老化架供電電路并入環境箱供電電路,以向老化架提供漏電保護,另一方面,根據箱門開關狀態控制老化架供電電路的通斷,可以有效提升環境試驗箱的防觸電保護性能,保證了測試安全性。
技術領域
本申請涉及設備控制技術領域,尤其涉及一種環境試驗箱控制方法、裝置及計算機可讀存儲介質。
背景技術
環境試驗箱是一種可模擬環境溫度的試驗箱,主要用于檢測產品進行高溫、低溫或恒定試驗的溫度環境變化后的參數或性能。環境試驗箱主要包括環境箱和老化架兩部分,環境箱與老化架的供電是獨立的,其中,環境箱用于提供測試需要的溫度和濕度環境,而老化架上配置有供電排插,用于持續供電給擺放于老化架上的測試樣品,從而進行樣品在環境試驗箱內的老化測試。
目前,在做高溫高濕試驗過程中,若直接打開箱門,老化架上的供電排插會因為溫度驟降而凝結冷凝水,若操作人員不慎觸碰供電排插則會發生觸電事故;另外,由于環境箱與老化架獨立供電,而僅在環境箱上接有漏電保護開關,從而在實際使用中老化架會存在漏電風險,也較為容易導致操作人員觸電。
發明內容
本申請實施例提供了一種環境試驗箱控制方法、裝置及計算機可讀存儲介質,至少能夠解決相關技術中環境試驗箱的防觸電保護性能較差、測試安全性較低的問題。
本申請實施例第一方面提供了一種環境試驗箱控制方法,應用于包括環境箱和老化架的環境試驗箱,其中,老化架供電電路接入于環境箱供電電路,所述環境箱供電電路中設置有漏電保護開關,包括:
實時檢測所述環境箱的箱門開關狀態;
基于所述箱門開關狀態確定所述老化架的目標電路工作狀態;
控制所述老化架供電電路從當前電路工作狀態切換至所述目標電路工作狀態。
本申請實施例第二方面提供了一種環境試驗箱控制裝置,應用于包括環境箱和老化架的環境試驗箱,其中,老化架供電電路接入于環境箱供電電路,所述環境箱供電電路中設置有漏電保護開關,包括:
檢測模塊,用于實時檢測所述環境箱的箱門開關狀態;
確定模塊,用于基于所述箱門開關狀態確定所述老化架的目標電路工作狀態;
控制模塊,用于控制所述老化架供電電路從當前電路工作狀態切換至所述目標電路工作狀態。
本申請實施例第三方面提供了一種電子裝置,包括:存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序,處理器執行計算機程序時,實現上述本申請實施例第一方面提供的環境試驗箱控制方法中的各步驟。
本申請實施例第四方面提供了一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,計算機程序被處理器執行時,實現上述本申請實施例第一方面提供的環境試驗箱控制方法中的各步驟。
由上可見,根據本申請方案所提供的環境試驗箱控制方法、裝置及計算機可讀存儲介質,將老化架供電電路接入于環境箱供電電路,環境箱供電電路中設置有漏電保護開關;首先實時檢測環境箱的箱門開關狀態;然后基于箱門開關狀態確定老化架的目標電路工作狀態;最后控制老化架供電電路從當前電路工作狀態切換至目標電路工作狀態。通過本申請方案的實施,一方面,將老化架供電電路并入環境箱供電電路,以向老化架提供漏電保護,另一方面,根據箱門開關狀態控制老化架供電電路的通斷,可以有效提升環境試驗箱的防觸電保護性能,保證了測試安全性。
附圖說明
圖1為本申請第一實施例提供的環境試驗箱控制方法的基本流程示意圖;
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