[發明專利]用于檢測雜散磁場的方法、裝置和系統在審
| 申請號： | 202010497612.1 | 申請日： | 2020-06-03 |
| 公開（公告）號： | CN112033274A | 公開（公告）日： | 2020-12-04 |
| 發明（設計）人： | 弗雷德·欣茨;詹森·奇爾科特 | 申請（專利權）人： | 霍尼韋爾國際公司 |
| 主分類號： | G01B7/02 | 分類號： | G01B7/02;G01R33/09 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 蔣駿;陳嵐 |
| 地址： | 美國新*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 檢測 磁場 方法 裝置 系統 | ||
1.一種用于檢測雜散磁場的裝置，包括：
第一磁性傳感器元件，所述第一磁性傳感器元件位于相對于磁場源的第一位置處，以檢測由所述磁場源發射的目標磁場；
第二磁性傳感器元件，所述第二磁性傳感器元件位于相對于所述磁場源的第二位置處，以檢測由所述磁場源發射的所述目標磁場；和
處理器元件，所述處理器元件電耦接到所述第一磁性傳感器元件和所述第二磁性傳感器元件，其中所述處理器元件被配置為：
接收來自所述第一磁性傳感器元件的第一輸出；
接收來自所述第二磁性傳感器元件的第二輸出；以及
通過以下方式來檢測干擾所述目標磁場的所述雜散磁場：
計算所述第一輸出和所述第二輸出之間的輸出偏差；以及
確定所述輸出偏差是否滿足偏差標準。
2.根據權利要求1所述的裝置，其中所述第一磁性傳感器元件包括第一各向異性磁阻感測構件，其中所述第二磁性傳感器元件包括第二各向異性磁阻感測構件。
3.根據權利要求1所述的裝置，其中所述磁場源包括磁性元件。
4.根據權利要求3所述的裝置，其中所述磁性元件為環形磁體，所述環形磁體包括至少第一極和第二極。
5.根據權利要求1所述的裝置，其中所述第一磁性傳感器元件、所述第二磁性傳感器元件和所述處理器元件包含在同一集成電路中。
6.根據權利要求5所述的裝置，其中響應于檢測到所述雜散磁場，所述處理器元件被進一步配置為禁用與所述裝置相關聯的位置輸出。
7.根據權利要求3所述的裝置，其中所述第一磁性傳感器元件與所述磁性元件的第一半徑對準，其中所述第二磁性傳感器元件與所述磁性元件的第二半徑對準，其中所述第一半徑定位成與所述第二半徑分開成四十五度。
8.根據權利要求1所述的裝置，其中所述第一磁性傳感器元件和所述第二磁性傳感器元件集成在第一磁性傳感器封裝中。
9.根據權利要求8所述的裝置，其中當檢測到所述雜散磁場時，所述處理器元件被配置為進一步：
至少部分地基于與所述第一磁性傳感器元件相關聯的所述第一位置和與所述第二磁性傳感器元件相關聯的所述第二位置來確定相位分離；
計算所述第一輸出和所述第二輸出之間的所述輸出偏差；以及
確定所述輸出偏差是否滿足偏差標準，其中所述偏差標準至少部分地基于所述相位分離。
10.根據權利要求9所述的裝置，其中所述第一磁性傳感器元件、所述第二磁性傳感器元件和所述處理器元件包含在同一集成電路中。
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