[發明專利]液晶面板檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 202010495998.2
• 申請日: 2020-06-03
• 公開（公告）號: CN111665650A
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發明（設計）人: 施德裕;羅成志
• 申請（專利權）人: 精電（河源）顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 陳卓宏

本發明涉及液晶面板檢測技術領域，提供一種液晶面板檢測裝置及方法，上述液晶面板檢測裝置包括工作臺、驅動機構、施壓組件、攝像頭和上位機，工作臺用于放置液晶面板，驅動機構安裝于工作臺上，施壓組件包括安裝于驅動機構上的承托件，可上下活動地承載于承托件上的施壓件，以及設于承托件和施壓件之間的接觸感應單元，施壓件在驅動機構的驅動下與液晶面板相抵觸或相分離，攝像頭懸設于液晶面板的上方，驅動機構、接觸感應單元和攝像頭均與上位機電性連接，采用上述液晶面板檢測裝置對液晶面板進行質量檢測能夠達到較高的準確度，而且采用自動化檢測方式，檢測效率較高。

技術領域

本發明涉及液晶面板檢測技術領域，尤其提供一種液晶面板檢測裝置及方法。

背景技術

液晶面板廣泛應用于作為電腦、手機、家電等顯示設備中，液晶面板在受到按壓后會產生短暫的結構變化，背光透過液晶面板后的方向會發生改變，導致光學效果發生局部的改變，從而產生與原顯示效果近乎相反的顯示效果，該現象俗稱為“漏光”，而液晶面板從受到按壓至顯示效果恢復正常所需時間稱之為受壓恢復時間，目前，大部分廠商通過對液晶面板進行受壓恢復時間測試來判斷液晶面板的質量是否合格。

現有對液晶面板進行質量檢測的方法主要通過人工將砝碼放置在液晶面板上，以對液晶面板施壓，然后將砝碼從液晶面板上迅速取走，同時通過肉眼觀察液晶面板顯示恢復情況并且使用計時器進行計時，從而得到液晶面板的受壓恢復時間，之后將測試得到的受壓恢復時間與標準受壓恢復時間進行對比，若測試得到的受壓恢復時間小于或等于標準受壓恢復時間，則判斷該液晶面板質量合格。

然而，由于現有的液晶面板質量檢測方法主要依靠人工進行，砝碼取放、肉眼觀擦、人工操作計時器等動作均存在著較大的延時誤差，導致檢測結果不準確。

發明內容

本發明的目的在于提供一種液晶面板檢測裝置及方法，旨在解決現有的液晶面板質量檢測方法的準確度較低的技術問題。

為實現上述目的，本發明實施例采用的技術方案是：一種液晶面板檢測裝置，包括：

工作臺，用于放置液晶面板；

驅動機構，安裝于所述工作臺上；

施壓組件，包括安裝于所述驅動機構上的承托件，可上下活動地承載于所述承托件上的施壓件，以及設于所述承托件和所述施壓件之間的接觸感應單元，所述施壓件在所述驅動機構的驅動下與所述液晶面板相抵觸或相分離；

攝像頭，懸設于所述液晶面板的上方；

上位機，與所述驅動機構、所述接觸感應單元和所述攝像頭電性連接。