[發明專利]一種面板檢測系統及方法

在審

• 申請號: 202010494313.2
• 申請日: 2020-06-03
• 公開（公告）號: CN111751087A
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 吳宇
• 申請（專利權）人: 武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G05B19/05
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 張英

1.一種面板檢測系統，其特征在于，包括LCS系統、檢測流水線、及設置于所述檢測流水線上的至少一個檢測工站；

所述LCS系統用于對所述檢測工站的檢測流程和檢測功能進行配置，并用于根據接收到的指令對面板進行自動檢測；

所述檢測流水線與所述至少一個檢測工站抵接，用于面板的檢測傳輸；

所述檢測工站具有一個或多個檢測工位，當所述檢測工站具有多個所述檢測工位時，所述檢測工位中設置有相同或不同的面板檢測設備，從而具備相同或不同的檢測功能。

2.根據權利要求1所述的面板檢測系統，其特征在于，還包括用于控制檢測工站的機構運動的PLC系統，所述PLC系統與LCS系統進行交互以完成所述檢測工站的面板檢測流程。

3.根據權利要求2所述的面板檢測系統，其特征在于，所述LCS系統和PLC系統通過實時監測PLC系統的寄存器地址和地址值變化來進行交互；其中，

當面板進入檢測流水線，所述PLC系統主動觸發將面板信息寫入所述寄存器的第一地址，并將第一指定點位設置1；所述LCS系統監測到點位變化后則開始讀取面板信息；

待所述LCS系統完成面板信息讀取后，將第二指定點位設置1；所述PLC系統監測到點位變化后再次主動觸發，將第三指定點位設置1；所述LCS系統監測到點位變化后開始執行檢測流程；

當所述面板進入對應的檢測工位并完成檢測后，所述LCS系統再次將第四指定點位設置1，所述PLC系統監測到點位變化后將所述面板移出對應的檢測工站。

4.根據權利要求1所述的面板檢測系統，其特征在于，所述檢測流程和檢測功能的配置信息包括：檢測流水線ID、檢測工位ID、檢測工位數量、檢測設備ID、檢測設備數量、檢測功能、檢測設備類型、面板數量、檢測順序、檢測模式。

5.根據權利要求1所述的面板檢測系統，其特征在于，

所述檢測工站具有多個檢測工位；

當所述多個檢測工位配置的檢測功能相同，則所述LCS系統配置的檢測流程包括將面板隨機移進任一未有檢測任務的檢測工站進行檢測；

當所述多個檢測工位配置的檢測功能不同，則所述LCS系統配置的檢測流程包括根據檢測需求將面板移進不同檢測工站進行檢測，如果當前檢測工站有檢測任務，面板需排隊等待前一塊面板移出檢測工位再進入檢測。

6.根據權利要求1-5任一項所述的面板檢測系統，其特征在于，所述檢測功能包括開關電、重復壓接、切圖、AOI檢測、AutoFlicker檢測、面板老化、色度檢測、灰度檢測、灰度矯正、DEMURA修復、人工復檢中至少一種。

7.根據權利要求1-5任一項所述的面板檢測系統，其特征在于，所述LCS系統還配置有自動修復功能用于對缺陷面板進行修復。

8.根據權利要求1-5任一項所述的面板檢測系統，其特征在于，還包括CIM系統；所述LCS系統還用于對需求的檢測信息進行數據備份和/或上報至CIM系統。

9.根據權利要求1-5任一項所述的面板檢測系統，其特征在于，所述LCS系統具有與外部硬件或軟件進行交互的第三方接口。

10.一種應用于如權利要求1-9任一項所述的面板檢測系統的面板檢測方法，其特征在于，包括：

LCS系統根據檢測需求對檢測工站進行檢測流程和檢測功能的配置；

面板到位后，觸發LCS系統進行面板自動檢測；

完成檢測后，將所述面板移至下一個工位或者出料。