[發明專利]電子裝置及用于保護電子裝置的方法在審
| 申請號: | 202010484912.6 | 申請日: | 2020-06-01 |
| 公開(公告)號: | CN112507400A | 公開(公告)日: | 2021-03-16 |
| 發明(設計)人: | 日弗·赫詩曼 | 申請(專利權)人: | 新唐科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F21/76 | 分類號: | G06F21/76;G06F21/78;G06F21/55 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 趙平;周永君 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子 裝置 用于 保護 方法 | ||
1.一種電子裝置,其特征在于,包含:
一組合邏輯電路,包含一個或多個輸出;
一個或多個功能狀態取樣器件,配置用以取樣所述組合邏輯電路的所述輸出;
一個或多個保護狀態取樣器件,分別與所述功能狀態取樣器件相聯結,每一所述保護狀態取樣器件與其對應的功能狀態取樣器件對組合邏輯電路的同一輸出進行取樣,但是相對于功能狀態取樣器件,所述保護狀態取樣器件具有一預定時間偏移;以及
一保護邏輯,配置用以檢測由所述功能狀態取樣器件取樣的所述輸出與由所述保護狀態取樣器件取樣的每一相同輸出之間的差異,并回應于所述差異而啟動一回應動作。
2.根據權利要求1所述的電子裝置,其特征在于,還包括一延遲器件,配置用以延遲所述組合邏輯電路的輸出以便產生一延遲輸出,其中所述功能狀態取樣器件配置為取樣所述輸出和所述延遲輸出中的一個,以及其中一相應的保護狀態取樣器件配置為取樣所述輸出和所述延遲輸出中的另一個。
3.根據權利要求1所述的電子裝置,其特征在于,還包括一延遲器件,配置用以延遲一時鐘信號以便產生一延遲時鐘信號,其中所述功能狀態取樣器件配置為使用所述時鐘信號和所述延遲時鐘信號之一來作為其取樣時脈,以及其中一相應的保護狀態取樣器件配置為使用另一所述時鐘信號和所述延遲時鐘信號來作為其取樣時脈。
4.根據權利要求1所述的電子裝置,其特征在于,所述功能狀態取樣器件和相應的保護狀態取樣器件包括正反器。
5.根據權利要求1所述的電子裝置,其特征在于,所述功能狀態取樣器件包括驅動一第二鎖存器的一第一鎖存器,并且相應的保護狀態取樣器件包括與所述第一鎖存器相關聯的一第三鎖存器。
6.根據權利要求1所述的電子裝置,其特征在于,所述保護邏輯配置用以合并在兩個或更多個所述功能狀態取樣器件與兩個或更多個所述保護狀態取樣器件之間檢測到的多重差異,并且回應于所述差異來啟動所述回應動作。
7.根據權利要求1所述的電子裝置,其特征在于,所述保護邏輯在僅當檢測到的所述差異在一時鐘周期的一預定部分期間發生時才啟動所述回應動作。
8.根據權利要求1所述的電子裝置,其特征在于,所述功能狀態取樣器件配置為以一第一閥值電壓對所述組合邏輯電路的一輸出進行取樣,以及其中相應的保護狀態取樣器件配置為以高于所述第一閥值電壓的一第二閥值電壓對所述組合邏輯電路的所述相同輸出進行取樣。
9.一種用于保護電子裝置的方法,其特征在于,所述方法包括:
使用一個或多個相應的功能狀態取樣器件來取樣一組合邏輯電路的一個或多個輸出;
使用分別與所述功能狀態取樣器件相關聯的一個或多個保護狀態取樣器件來取樣一個或多個輸出;其中每一所述保護狀態取樣器件與其對應的功能狀態取樣器件對組合邏輯電路的同一輸出進行取樣,但是相對于所述功能狀態取樣器件,保護狀態取樣器件具有一預定時間偏移;以及
檢測由所述功能狀態取樣器件取樣的所述輸出與由所述保護狀態取樣器件取樣的每一所述輸出之間的一差異,并且回應于所述差異而啟動一回應動作。
10.根據權利要求9所述的方法,其特征在于,取樣一個或多個輸出包括延遲所述組合邏輯電路的一輸出以便產生一延遲輸出,由所述功能狀態取樣器件取樣每一所述輸出和所述延遲輸出,以及由一相應的保護狀態取樣器件取樣另一所述輸出和所述延遲輸出。
11.根據權利要求9所述的方法,其特征在于,取樣一個或多個輸出包括延遲一時鐘信號以便產生一延遲時鐘信號,由所述時鐘信號和所述延遲時鐘信號之一作為所述功能狀態取樣器件的取樣時脈,以及由另一所述時鐘信號和所述延遲時鐘信號作為所述相應的保護狀態取樣器件的取樣時脈。
12.根據權利要求9所述的方法,其特征在于,所述功能狀態取樣器件和所述相應的保護狀態取樣器件包括正反器。
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