[發(fā)明專利]一種燒寫器以及一種RTC的校正方法

在審

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• 申請日: 2020-06-01
• 公開（公告）號: CN111638750A
• 公開（公告）日: 2020-09-08
• 發(fā)明（設計）人: 黃蘇芳;李婷;付超;劉曉露
• 申請（專利權）人: 杭州萬高科技股份有限公司
• 主分類號: G06F1/14
• 分類號: G06F1/14;G04G3/04;G06F8/61
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 劉曉菲

本申請公開了一種RTC的校正方法，應用于內置了RTC芯片的燒寫器中，包括：從上位機中獲取配置文件以及燒錄文件；獲取RTC芯片的數據信息以及待燒錄的目標芯片的數據信息，并結合配置文件，確定出針對目標芯片的校正數據；將校正數據存儲至目標芯片中，以對目標芯片進行RTC校正；將燒錄文件燒錄至目標芯片。應用本申請的方案，可以方便有效地進行芯片的RTC校正，提高了校正效率。本申請還提供了一種燒寫器，具有相應技術效果。

技術領域

本發(fā)明涉及校正技術領域，特別是涉及一種燒寫器以及一種RTC的校正方法。

背景技術

眾所周知，由于晶體的老化，溫度等因素的影響，需要對芯片的RTC(Real TimeClock，實時時鐘)進行校正。特別是在智能電表中，結算方式已經由傳統的電量結算轉換為金額結算，并且費率模式也較傳統的電表更為復雜，使得對智能電表中的實時時鐘的精度提出了更高的要求。根據行業(yè)標準，通常要求其在工作溫度范圍內的精度滿足1s/day以內，即誤差要低于11.5ppm，在23℃時滿足小于0.5s/day。目前通常采用的是二次曲線校正的方法，修正晶體的溫度偏差，從而提升智能電表的實時時鐘的精度。

目前，不同的廠家都會單獨設計其校正的流程和對應的校準工具，導致用戶操作復雜，特別是用戶需要批量進行芯片的RTC校正時，不利于提高校正效率。

綜上所述，如何方便有效地進行芯片的RTC校正，是目前本領域技術人員急需解決的技術問題。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的是提供一種燒寫器以及一種RTC的校正方法，以方便有效地進行芯片的RTC校正。

為解決上述技術問題，本發(fā)明提供如下技術方案：

一種RTC的校正方法，應用于內置了RTC芯片的燒寫器中，包括：

從上位機中獲取配置文件以及燒錄文件；

獲取所述RTC芯片的數據信息以及待燒錄的目標芯片的數據信息，并結合所述配置文件，確定出針對所述目標芯片的校正數據；

將所述校正數據存儲至所述目標芯片中，以對所述目標芯片進行RTC校正；

將所述燒錄文件燒錄至所述目標芯片。

優(yōu)選的，所述獲取所述RTC芯片的數據信息以及待燒錄的目標芯片的數據信息，并結合所述配置文件，確定出針對所述目標芯片的校正數據，包括：

獲取所述RTC芯片的溫度值以及秒脈沖捕獲值；

獲取所述目標芯片的溫度值以及秒脈沖捕獲值；

根據所述RTC芯片的溫度值以及所述目標芯片的溫度值，確定出針對所述目標芯片的溫度校正值；

根據所述RTC芯片的秒脈沖捕獲值以及所述目標芯片的秒脈沖捕獲值，并結合所述配置文件，確定出針對所述目標芯片的RTC校正值；

將所述溫度校正值以及所述RTC校正值作為確定出的針對所述目標芯片的校正數據。

優(yōu)選的，所述根據所述RTC芯片的溫度值以及所述目標芯片的溫度值，確定出針對所述目標芯片的溫度校正值，包括：

將所述目標芯片的溫度值與所述RTC芯片的溫度值的差值，作為確定出的針對所述目標芯片的溫度校正值。

優(yōu)選的，所述根據所述RTC芯片的秒脈沖捕獲值以及所述目標芯片的秒脈沖捕獲值，并結合所述配置文件，確定出針對所述目標芯片的RTC校正值，包括：

通過將計算出的Δc作為確定出的針對所述目標芯片的RTC校正值，以使所述目標芯片基于aT²+bT+c+Δc確定出秒脈沖對應的振動頻率；