[發明專利]一種TPC-H前測試系統整體定級的檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 202010478363.1
• 申請日: 2020-05-29
• 公開（公告）號: CN111737096B
• 公開（公告）日: 2022-11-11
• 發明（設計）人: 蔣帥
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/34
• 分類號: G06F11/34
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 張營磊

1.一種TPC-H前測試系統整體定級的檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1.獲取待測系統硬件參數及數據庫參數；

S2.根據待測系統硬件參數及數據庫參數對待測系統整體定級評估，并根據待測系統整體定級評估結果調整待測系統軟硬件配置；具體步驟如下：

S21.根據待測系統硬件參數及數據庫參數設定評價指標；

S22.設定各評價指標的達標閾值，并根據各評價指標中達標個數設定待測系統等級；

S23.對待測系統進行整體定級評估，并根據待測系統整體定級評估結果調整待測系統軟硬件配置。

2.如權利要求1所述的TPC-H前測試系統整體定級的檢測方法，其特征在于，步驟S1之前還包括如下步驟：

S1A.配置TPC-H測試前待測系統的測試環境；具體地，預置待測系統硬件環境，調試硬件及固件環境；部署操作系統、TPC-H測試工具及數據庫軟件環境；

S2A.生成TPC-H測試所需測試數據；具體地，獲取TPC-H數據工具，設置TPC-H數據工具根據TPC組織標準生成測試數據；TPC-H數據工具采用DBgen數據工具和QGen數據工具。

3.如權利要求1所述的TPC-H前測試系統整體定級的檢測方法，其特征在于，步驟S1中，所述待測系統硬件參數包括待測系統物理內存大小及CPU核數；所述數據庫參數包括測試數據大小、數據庫并行度以及數據庫中數據文件個數。

4.如權利要求1所述的TPC-H前測試系統整體定級的檢測方法，其特征在于，步驟S21具體步驟如下：

S211.根據測試數據大小與物理內存大小比值設定第一評價指標，記為F/M；

S212.根據數據庫并行度與CPU核數比值設定第二評價指標，記為D/C；

S213.根據數據庫中數據文件個數與CPU核數比值設定第三評價指標，記為df/C。

5.如權利要求4所述的TPC-H前測試系統整體定級的檢測方法，其特征在于，步驟S22具體步驟如下：

S221.設定第一評價指標F/M的達標閾值為第一閾值，若F/M第一閾值，則記為達標1次，否則記為不達標1次；

S222.設定第二評價指標D/C的達標閾值為第二閾值到第三閾值，若D/C第二閾值，且D/C第三閾值，則記為達標1次，否則記為不達標1次；

S223.設定第三評價指標df/C的達標閾值為第四閾值，若df/C1，則記為達標1次，否則記為不達標1次；

S224.若達標次數為3，則設定待測系統等級為優測級；

若第一評價指標F/M達標，且第二評價指標D/C與第三評價指標df/C中至少有一個達標，則設定待測系統等級為適測級；

若第一評價指標F/M不達標，而第二評價指標D/C與第三評價指標df/C中至少有一個達標，則設定待測系統等級為改配級；

若三個評價指標均不達標，則設定待測系統等級為不測級。

6.如權利要求5所述的TPC-H前測試系統整體定級的檢測方法，其特征在于，第一閾值取0.8，第二閾值取0.5，第三閾值取0.8，第四閾值取1。

7.如權利要求4所述的TPC-H前測試系統整體定級的檢測方法，其特征在于，步驟S23具體步驟如下：

S231.根據獲取的待測系統硬件參數及數據庫參數計算各評價指標是否達標；

S232.根據各評價指標是否達標對待測系統進行整體定級；

S233.若待測系統為優測級，則判定待測系統配置優良，在設定閾值內增加測試數據；

若待測系統為適測級，則判定待測系統配置適合測試，無需調試；

若待測系統為改配級，則判定待測系統配置需更改軟硬件配置操作；

若待測系統為不測級，則判定待測系統配置不符合測試條件，無需測試。