[發明專利]用于校正由光學傳感器檢測到的主測量信號的方法

有效

• 申請號: 202010471968.8
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN112051218B
• 公開（公告）日: 2023-10-20
• 發明（設計）人: 赫爾曼·京特;羅尼·邁克爾;斯特凡·保羅
• 申請（專利權）人: 恩德萊斯和豪瑟爾分析儀表兩合公司
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 穆森;戚傳江

1.一種用于校正由光學檢測器(6)檢測到的主測量信號(p)的方法，其中，所述方法包括至少以下步驟：

-提供具有光源(2)、有源傳感器層(4)、光學檢測器(6)和控制單元(7)的光學測量裝置(1)，其中，所述控制單元(7)被連接到所述光源(2)和所述光學檢測器(6)，

-從所述光源(2)向所述有源傳感器層(4)發射第一光信號(3)，使得所述有源傳感器層(4)被激勵并向所述光學檢測器(6)發射第二光信號(5)，

-借助于所述光學檢測器(6)檢測由所述有源傳感器層(4)發射的所述第二光信號(5)，

-借助所述控制單元(7)，基于所述第一光信號(3)和所述第二光信號(5)或者基于所述第一光信號(3)，來確定主測量參數的所述主測量信號(P)，

-借助于所述控制單元(7)，基于所述第一光信號(3)或所述第二光信號(5)，來確定與所述主測量參數不同的次測量參數的次測量信號(S1、S2)，

-借助于所述控制單元(7)將所確定的次測量信號(S1、S2)與第一極限值(G1)進行比較，

-如果所述次測量信號(S1、S2)超過所述第一極限值(G1)，則借助于所述控制單元(7)來校正所述主測量信號(P)，

其中，校正所述主測量信號(P)包括對所述主測量信號(P)進行濾波，使得所述主測量信號(P)被平滑。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述主測量參數是所述第一光信號(3)和所述第二光信號(5)之間的相位角。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中，所述次測量信號是所述第二光信號(5)的強度信號(S1)。

4.根據權利要求1或2所述的方法，其中，所述次測量信號是用于產生所發射的第一光信號(3)的、所述光源(2)的驅動電流(S2)。

5.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中，校正所述主測量信號(P)的步驟包括：利用移動平均濾波器、無限脈沖響應濾波器或最終脈沖響應濾波器對所述主測量信號(P)進行濾波。

6.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中，所述第一極限值(G1)是與所述次信號(S1，S2)的平均值(M1)的指定偏差(Δ1)。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，所述平均值(M1)是移動平均，并且所述指定偏差(Δ1)是所述平均值(M1)的一部分。

8.一種用于校正由光學檢測器(6)檢測到的主測量信號(P)的光學測量裝置(1)，包括：

光源(2)、有源傳感器層(4)、光學檢測器(6)和控制單元(7)，

其中，所述控制單元(7)被連接到所述光源(2)和所述光學檢測器(6)，

其中，所述光學檢測器(6)、所述有源傳感器層(4)和所述光源(2)被布置成使得由所述有源傳感器層(4)接收由所述光源(2)發射的第一光信號(3)，并且由所述光學檢測器(6)接收由所述有源傳感器層(4)發射的第二光信號(5)，

其中，所述控制單元(7)適于基于所發射的第一光信號(3)和檢測到的第二光信號(5)或者基于所述第一光信號(3)，來確定主測量參數的主測量信號(P)，

其中，所述控制單元(7)適于基于所述第一光信號(3)或所述第二光信號(5)，來確定與所述主測量參數不同的次測量參數的次測量信號(S1、S2)，

其中，所述控制單元(7)適于將所確定的次測量信號(S1、S2)與第一極限值(G1)進行比較，

其中，所述控制單元(7)適于，如果所述次測量信號(S1、S2)超過所述第一極限值(G1)，則借助于濾波來校正所確定的主測量信號(P)，使得所述主測量信號(P)被平滑。