[發明專利]一種納米材料燃點測量方法及測量系統

有效

• 申請號: 202010471013.2
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN111693561B
• 公開（公告）日: 2023-02-10
• 發明（設計）人: 劉翩;鄭玉祥;陳良堯;張榮君;王松有;李晶;楊月梅
• 申請（專利權）人: 復旦大學
• 主分類號: G01N25/12
• 分類號: G01N25/12;G01N21/25;G01N23/20;G01K7/02
• 代理公司: 上?？剖⒅R產權代理有限公司 31225
• 代理人: 翁惠瑜

1.一種納米材料燃點測量方法，其特征在于，該方法應用于可燃物質在燃燒過后產生化學相變的場景，包括以下步驟：

1）利用變溫橢圓偏振光譜儀在單波長和單角度下測量不同溫度下納米材料的P光、S光的復反射率比值ρ：

ρ=r_p/r_s=tanψe^iΔ

其中，r_p為P光復反射率，r_s為S光復反射率，進而獲得兩個橢偏參數ψ與Δ；

2）基于步驟1）獲得橢偏參數ψ、Δ隨溫度的變化譜；

3）基于所述變化譜上的突變點確定納米材料的相變點；

4）根據每一所述相變點前后物質的變化情況，判斷所述相變點是否為燃點，從而測量獲得納米材料的最終燃點。

2.根據權利要求1所述的納米材料燃點測量方法，其特征在于，所述步驟1）中的波長為使橢偏參數隨溫度變化明顯，且測量誤差小的波長。

3.根據權利要求1所述的納米材料燃點測量方法，其特征在于，所述步驟1）中，不同溫度的溫度間隔為0.5~2 ℃。

4.根據權利要求1所述的納米材料燃點測量方法，其特征在于，所述步驟4）中，采用X射線衍射儀測定相變點前后物質的變化。

5.根據權利要求1所述的納米材料燃點測量方法，其特征在于，所述步驟4）中，分別測試常溫下和經過相變后的納米材料的X射線衍射圖譜。

6.根據權利要求1所述的納米材料燃點測量方法，其特征在于，所述橢偏參數范圍為：0° ψ 90°，-180 ° Δ 0°。

7.一種納米材料燃點測量系統，其特征在于，該系統應用于可燃物質在燃燒過后產生化學相變的場景，包括變溫橢圓偏振光譜儀、X射線衍射儀和上位機，所述上位機內存儲有計算機程序，該計算機程序執行的操作包括：

采集變溫橢圓偏振光譜儀在單波長和單角度下、不同溫度下的光學測量試驗的光學測量結果；

基于所述光學測量結果獲得不同溫度下納米材料的P光、S光的復反射率比值ρ：

ρ=r_p/r_s=tanψe^iΔ

其中，r_p為P光復反射率，r_s為S光復反射率，進而獲得兩個橢偏參數ψ與Δ；

獲得橢偏參數ψ、Δ隨溫度的變化譜；

基于所述變化譜上的突變點確定納米材料的相變點；

獲取X射線衍射儀測定的每一所述相變點前后物質的變化情況，判斷所述相變點是否為燃點，從而測量獲得納米材料的最終燃點。

8.根據所述權利要求7所述的納米材料燃點測量系統，其特征在于，所述變溫橢圓偏振光譜儀包括光源、固定起偏器、旋轉起偏器、溫控樣品臺、旋轉檢偏器和探測器，樣品放置于溫控樣品臺上，光源發射出的光依次經過固定起偏器、旋轉起偏器后變為線偏光入射到樣品上，光被樣品反射后經過旋轉檢偏器，然后入射到探測器中完成信號探測，測量過程中通過溫控樣品臺實現樣品的溫度控制。