[發明專利]可靠性評價方法、計算機設備以及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010468980.3
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN111814301B
• 公開（公告）日: 2021-07-27
• 發明（設計）人: 潘廣澤;羅琴;李丹;李小兵;王遠航;楊劍鋒;劉文威;丁小健;董成舉
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06F119/02;G06F111/08
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 郭鳳杰

1.一種可靠性評價方法，其特征在于，包括：

判斷待測產品的各性能參數的退化過程是否服從維納過程；

如果待測產品的各性能參數的退化過程服從維納過程，利用維納過程性質得到各性能參數對應的聯合分布函數的邊緣分布函數；

根據各性能參數對應的邊緣分布函數，得到各性能參數的聯合分布函數的至少兩個連接函數的參數估計值；

根據所述至少兩個連接函數的參數估計值，在所述至少兩個連接函數中確定最優連接函數；

根據各性能參數對應的邊緣分布函數、所述最優連接函數的參數估計值以及所述最優連接函數獲得待測產品的可靠度函數；

所述根據所述至少兩個連接函數的參數估計值，在所述至少兩個連接函數中確定最優連接函數之前，還包括：

計算各性能參數的退化量之間的相關系數；

獲取相關系數與所述各性能參數的退化量之間的相關系數之差在預設范圍之內的至少兩個連接函數。

2.根據權利要求1所述的可靠性評價方法，其特征在于，所述根據所述至少兩個連接函數的參數估計值，在所述至少兩個連接函數中確定最優連接函數包括：

根據所述至少兩個連接函數的參數估計值，獲得所述至少兩個連接函數的似然函數；

根據所述至少兩個連接函數的似然函數，計算所述至少兩個連接函數的赤池信息值；

根據所述赤池信息值，確定最優連接函數。

3.根據權利要求1所述的可靠性評價方法，其特征在于，所述根據所述至少兩個連接函數的參數估計值，在所述至少兩個連接函數中確定最優連接函數包括：

根據所述至少兩個連接函數的參數估計值，獲得所述至少兩個連接函數的似然函數；

計算所述至少兩個連接函數的似然函數的最大值；

根據所述似然函數的最大值，確定最優連接函數。

4.根據權利要求1所述的可靠性評價方法，其特征在于，所述利用維納過程性質得到各性能參數對應的聯合分布函數的邊緣分布函數包括：

利用維納過程性質，根據各性能參數的測試數據進行各性能參數的邊緣函數參數估計，得到各性能參數的邊緣函數參數估計值；

根據各性能參數的邊緣函數參數估計值得到各性能參數對應的聯合分布函數的邊緣分布函數。

5.根據權利要求1所述的可靠性評價方法，其特征在于，所述至少兩個連接函數包括弗蘭克連接函數、克萊頓連接函數以及高斯連接函數。

6.根據權利要求1所述的可靠性評價方法，其特征在于，所述判斷待測產品的各性能參數的退化過程是否服從維納過程之前，包括：

獲取按照預設時間間隔對多個待測產品的各性能參數進行失效前的多次測試的測試結果。

7.根據權利要求1所述的可靠性評價方法，其特征在于，所述判斷待測產品的各性能參數的退化過程是否服從維納過程包括：

通過柯爾莫可洛夫-斯米洛夫檢驗對所述待測產品的各性能參數的退化量在每一個時間間隔內的增量進行正態擬合優度檢驗；

根據所述正態擬合優度檢驗結果判斷待測產品的各性能參數的退化過程是否服從維納過程。

8.根據權利要求1所述的可靠性評價方法，其特征在于，所述待測產品為絕緣柵雙極型晶體管，所述待測產品的各性能參數包括集射極飽和壓降和柵極閾值電壓。

9.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至8中任一項所述的方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至8中任一項所述的方法的步驟。