[發明專利]一種基于光注入半導體激光器的光電量化裝置及其方法在審
| 申請號： | 202010468275.3 | 申請日： | 2020-05-28 |
| 公開（公告）號： | CN111490830A | 公開（公告）日： | 2020-08-04 |
| 發明（設計）人： | 周沛;周志華;李念強;張仁恒;韋孟杰;宋崢;謝溢鋒 | 申請（專利權）人： | 蘇州大學 |
| 主分類號： | H04B10/54 | 分類號： | H04B10/54;G02F7/00 |
| 代理公司： | 蘇州智品專利代理事務所(普通合伙) 32345 | 代理人： | 王利斌 |
| 地址： | 215137 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 注入 半導體激光器 光電 量化 裝置 及其 方法 | ||
1.一種基于光注入半導體激光器的光電量化裝置，其特征在于，包括：主激光器(1)、光衰減器(2)、第一偏振控制器(3)、強度調制器(4)、待測模擬電信號源(5)、采樣保持電路(6)、第二偏振控制器(7)、光環行器(8)、半導體激光器(9)、光電探測器(10)、功分器(11)、并行濾波器陣列(12)；
所述光環行器上設置a端口、b端口、c端口；
所述強度調制器上設置有光輸入端、射頻輸入端、光輸出端；
所述光電探測器上設置有輸入端和輸出端；
所述并行濾波器陣列上設置有輸入端和輸出端；
所述功分器上設有一個輸入端和
所述主激光器(1)、光衰減器(2)、第一偏振控制器(3)、強度調制器(4)、第二偏振控制器(7)、光環行器(8)的a端口通過光纖順次相連；光環行器(8)的b端口連接到半導體激光器(9)；光環行器(8)的c端口連接到光電探測器(10)的輸入端；待測模擬電信號源(5)、采樣保持電路(6)、強度調制器(4)的射頻輸入端順次相連；光電探測器(10)的輸出端連接到功分器(11)的輸入端；功分器(11)的輸出端與并行濾波器陣列(12)的輸入端連接；并行濾波器陣列(12)的輸出端作為光電量化裝置的輸出端。
2.根據權利要求1所述的一種基于光注入半導體激光器的光電量化裝置，其特征在于，所述半導體激光器(9)為輸出端不帶隔離器的單模分布反饋式半導體激光器或分布布拉格反射激光器。
3.根據權利要求1所述的一種基于光注入半導體激光器的光電量化裝置，其特征在于，所述半導體激光器(9)工作在單周期振蕩態，半導體激光器工作在單周期振蕩態的振蕩頻率下限記為
4.根據權利要求1所述的一種基于光注入半導體激光器的光電量化裝置，其特征在于，所述濾波器為帶通濾波器，其通帶頻率范圍依次為（
5.一種基于光注入半導體激光器單周期振蕩的光電量化方法，其特征在于，使用權利要求1～4之一所述的基于光注入半導體激光器的光電量化裝置實現量化，包括以下步驟：
步驟1、主激光器(1)產生的連續光信號經過光衰減器(2)和第一偏振控制器(3)輸入到強度調制器(4)、通過控制第一偏振控制器(3)使得強度調制器(4)的插入損耗最??；設置強度調制器(4)的偏置電壓使其工作在線性點；通過控制第二偏振控制器(7)使得注入到半導體激光器(9)的效率最高；設置主激光器(1)的輸出頻率并通過控制光衰減器(2)改變光注入強度使得半導體激光器(12)的工作在單周期振蕩態，半導體激光器(12)的單周期振蕩頻率的調諧范圍是
步驟2、待測模擬電信號源(5)輸出的微波信號經過采樣保持電路(6)進行采樣保持操作后輸入到強度調制器(4)的射頻端來控制光注入強度，將待測微波信號的幅值變化映射為步驟1中光電探測器(10)輸出單頻微波信號的頻率變化；光電探測器(10)的輸出經過功分器(11)后輸入到并行濾波器陣列(12)，并行濾波器陣列(12)包含
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