[發明專利]多用阻抗測試治具

在審

• 申請號: 202010467596.1
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN113740604A
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 陳廣;牛俊杰
• 申請（專利權）人: 競華電子（深圳）有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R31/28
• 代理公司: 深圳中細軟知識產權代理有限公司 44528
• 代理人: 孔祥丹

1.多用阻抗測試治具，其特征在于，包括：

框體，所述框體用于放置PCB板；

多個阻抗連接點，多個所述阻抗連接點設置在所述框體上，并用于與PCB板的測試點電性連接，其中，多個所述阻抗連接點按預設規律分布，且多個所述阻抗連接點能夠組合形成至少兩種阻抗連接組，不同所述阻抗連接組所包括的阻抗連接點的數量與不同類型的PCB板的測試點的數量一一對應；以及

導線，所述導線用于將所述阻抗連接點與測試機電性連接。

2.根據權利要求1所述的多用阻抗測試治具，其特征在于，所述阻抗連接點具有36個，36個所述阻抗連接點按預設規律分布在所述框體上，且能夠組合形成至少兩種所述阻抗連接組。

3.根據權利要求2所述的多用阻抗測試治具，其特征在于，36個所述阻抗連接點均分為4組按預設規律分布的阻抗測試組，4組所述阻抗測試組分布在同一直線上，且沿該直線的某一方向將4組所述阻抗測試組依次定義為第一阻抗測試組、第二阻抗測試組、第三阻抗測試組和第四阻抗測試組，所述第一阻抗測試組和所述第二阻抗測試組按預設距離設置在所述框體上，所述第二阻抗測試組和所述第三阻抗測試組按預設距離設置在所述框體上，所述第三阻抗測試組和所述第四阻抗測試組按預設距離設置在所述框體上。

4.根據權利要求3所述的多用阻抗測試治具，其特征在于，所述第一阻抗測試組和所述第二阻抗測試組之間的距離為120-140mm，所述第二阻抗測試組和所述第三阻抗之間的距離為2-3mm，所述第三阻抗測試組和所述第四阻抗測試組之間的距離為120-140mm。

5.根據權利要求4所述的多用阻抗測試治具，其特征在于，所述第一阻抗測試組和所述第二阻抗測試組之間的距離為134.62mm，所述第二阻抗測試組和所述第三阻抗之間的距離為2.54mm，所述第三阻抗測試組和所述第四阻抗測試組之間的距離為134.62mm。

6.根據權利要求3所述的多用阻抗測試治具，其特征在于，每一所述阻抗測試組中的所述阻抗連接點均呈3X3矩形分布，且在矩形的長度方向上，相鄰兩個所述阻抗連接點之間的距離為2-3mm，在矩形的寬度方向上，相鄰兩個所述阻抗連接點之間的距離為2-3mm。

7.根據權利要求6所述的多用阻抗測試治具，其特征在于，每一所述阻抗測試組中，在矩形的長度方向上，相鄰兩個所述阻抗連接點之間的距離為2.54mm，在矩形的寬度方向上，相鄰兩個所述阻抗連接點之間的距離為2.54mm。

8.根據權利要求1-7中任一項所述的多用阻抗測試治具，其特征在于，所述框體包括上基板、下基板以及多個連接柱，多個所述連接柱的兩端分別固定在所述上基板和所述下基板上，所述阻抗連接點設置在所述上基板上。

9.根據權利要求8所述的多用阻抗測試治具，其特征在于，所述阻抗連接點包括開設在所述上基板上的阻抗連接孔，所述阻抗連接孔用于與PCB板的測試點電性連接。

10.根據權利要求9所述的多用阻抗測試治具，其特征在于，所述阻抗連接點還包括安裝在所述阻抗連接孔內的頂針，所述頂針與所述導線電性連接，所述頂針用于與所述PCB板的測試點電性連接。