[發明專利]自動分析裝置和自動分析裝置的控制方法

在審

• 申請號: 202010466073.5
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN112014583A
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 小島和茂;中山佳之;中山真人;豐田有洋;杉村洋央;五十嵐雄太;福本泰弘;朝倉誠
• 申請（專利權）人: 日本電子株式會社
• 主分類號: G01N35/04
• 分類號: G01N35/04;G01N35/10
• 代理公司: 北京市隆安律師事務所 11323
• 代理人: 徐謙;劉寧軍

1.一種自動分析裝置，具備：試劑分注探針，其將試劑分注到反應容器；檢體分注探針，其將檢體分注到上述反應容器；攪拌棒，其對上述反應容器內的檢體和試劑進行攪拌；以及存儲部，其存儲特殊清洗信息，上述特殊清洗信息包含進行用于避免檢體間的交叉污染的特殊清洗的條件和清洗方法，

上述自動分析裝置的特征在于，包含：

判定部，其基于由上述檢體分注探針分注的檢體的信息和上述特殊清洗信息，判定是否需要上述特殊清洗；以及

控制部，其對上述試劑分注探針、上述檢體分注探針及上述攪拌棒的動作進行控制，

上述控制部

在進行上述特殊清洗時，基于上述特殊清洗信息，使上述試劑分注探針將清洗液分注到上述反應容器，使上述攪拌棒對上述反應容器內的清洗液進行攪拌。

2.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

上述控制部

使上述檢體分注探針抽吸上述反應容器內的清洗液，并將所抽吸的清洗液噴出到上述檢體分注探針的清洗槽。

3.根據權利要求2所述的自動分析裝置，其特征在于，

上述控制部

基于分注到上述反應容器的清洗液的量，決定上述檢體分注探針抽吸上述反應容器內的清洗液時的上述檢體分注探針相對于上述反應容器的下降量。

4.根據權利要求1至3中的任意一項所述的自動分析裝置，其特征在于，

作為上述試劑分注探針具備將第1試劑分注到上述反應容器的第1試劑分注探針和將第2試劑分注到上述反應容器的第2試劑分注探針，作為上述攪拌棒具備對上述反應容器內的檢體和第1試劑進行攪拌的第1攪拌棒和對上述反應容器內的檢體、第1試劑以及第2試劑進行攪拌的第2攪拌棒，

上述控制部

使上述第1攪拌棒對由上述第1試劑分注探針分注到上述反應容器的清洗液進行攪拌，使上述第2攪拌棒對由上述第2試劑分注探針進一步分注到上述反應容器的清洗液進行攪拌。

5.一種自動分析裝置的控制方法，上述自動分析裝置具備：試劑分注探針，其將試劑分注到反應容器；檢體分注探針，其將檢體分注到上述反應容器；攪拌棒，其對上述反應容器內的檢體和試劑進行攪拌；以及存儲部，其存儲特殊清洗信息，上述特殊清洗信息包含進行用于避免檢體間的交叉污染的特殊清洗的條件和清洗方法上述自動分析裝置的控制方法的特征在于，包含：

判定步驟，基于由上述檢體分注探針分注的檢體的信息和上述特殊清洗信息，判定是否需要上述特殊清洗；以及

控制步驟，對上述試劑分注探針、上述檢體分注探針及上述攪拌棒的動作進行控制，

在上述控制步驟中，

在進行上述特殊清洗時，基于上述特殊清洗信息，使上述試劑分注探針將清洗液分注到上述反應容器，使上述攪拌棒對上述反應容器內的清洗液進行攪拌。