[發(fā)明專利]一種質量測定用電子分析天平

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010465371.2
• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN111579032B
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發(fā)明（設計）人: 徐大瑋;譚會潔
• 申請（專利權）人: 山東省食品藥品檢驗研究院
• 主分類號: G01G7/02
• 分類號: G01G7/02
• 代理公司: 濟南光啟專利代理事務所(普通合伙) 37292
• 代理人: 趙文成

1.一種質量測定用電子分析天平，包括機體（1），其特征在于：所述機體（1）上表面的外側固定連接有擋風玻璃箱（8），所述機體（1）上表面位于擋風玻璃箱（8）的內部設置有稱量盤（2），所述機體（1）的內部活動套接有防對流環(huán)板（6），所述防對流環(huán)板（6）位于稱量盤（2）的下方，所述機體（1）的內部活動卡接有聯(lián)動裝置（4），所述聯(lián)動裝置（4）的頂端依次貫穿機體（1）、防對流環(huán)板（6）并延伸至稱量盤（2）的下方，所述聯(lián)動裝置（4）的外表面與機體（1）和防對流環(huán)板（6）的內部均活動套接，所述聯(lián)動裝置（4）的頂端與稱量盤（2）下表面的底部固定連接，所述防對流環(huán)板（6）的內部固定安裝有永磁體（10），所述聯(lián)動裝置（4）的外表面活動套接有調控裝置（5），所述調控裝置（5）包括有空心球體（53），所述空心球體（53）的底部固定連接有限位球（52），所述限位球（52）的外表面活動連接有支撐斜板（51），所述支撐斜板（51）的底端與機體（1）內腔的底部固定連接，所述機體（1）上表面固定連接有平衡裝置（7），所述平衡裝置（7）包括有環(huán)形限位球（71），所述環(huán)形限位球（71）的底部與機體（1）的上表面固定連接，所述環(huán)形限位球（71）的內部活動套接有熱敏感應球囊（72），所述熱敏感應球囊（72）的左上方設置有補償裝置（73），所述補償裝置（73）的頂部貫穿環(huán)形限位球（71）并延伸至環(huán)形限位球（71）的外側，所述補償裝置（73）的頂端與空心球體（53）的右側相接觸，所述補償裝置（73）的底端與熱敏感應球囊（72）的頂端相接觸，所述補償裝置（73）和限位球（52）分別與聯(lián)動裝置（4）橫截面圓心連線所形成的夾角為六十度，所述補償裝置（73）包括圓弧板（731）、右連觸板（732）和左連觸板（733），所述圓弧板（731）的下表面與熱敏感應球囊（72）的外表面的左上方相接觸，所述圓弧板（731）的頂端貫穿環(huán)形限位球（71）并延伸至支撐斜板（51）的上方，所述圓弧板（731）的外表面與環(huán)形限位球（71）的內部活套接，所述圓弧板（731）頂端的左側固定連接有右連觸板（732），所述圓弧板（731）頂端的左側固定連接有左連觸板（733），所述左連觸板（733）的頂部與空心球體（53）的底部相接觸。

2.根據權利要求1所述的一種質量測定用電子分析天平，其特征在于：所述聯(lián)動裝置（4）包括有豎直桿（41），所述豎直桿（41）與機體（1）及防對流環(huán)板（6）的內部活動連接，所述豎直桿（41）的頂部與稱量盤（2）下表面的中部固定連接，所述豎直桿（41）的底部通過傾斜桿（42）固定連接有擋光板（43），所述擋光板（43）與豎直桿（41）向下的延長線交點所形成的銳角為六十度。

3.根據權利要求1所述的一種質量測定用電子分析天平，其特征在于：所述防對流環(huán)板（6）的內部固定連接有防護板（3），所述防護板（3）的左右兩端均貫穿防對流環(huán)板（6）并延伸至防對流環(huán)板（6）的上方，所述防護板（3）的左右兩端的頂部與稱量盤（2）的底部之間的間距均為兩厘米。

4.根據權利要求1所述的一種質量測定用電子分析天平，其特征在于：所述機體（1）的頂部設置有磁感線圈（9），所述永磁體（10）的底部開設有與磁感線圈（9）相適配的環(huán)形槽，所述磁感線圈（9）位于空心球體（53）的上方，所述磁感線圈（9）位于永磁體（10）底側環(huán)形槽內部，所述磁感線圈（9）的內表面與環(huán)形槽內腔的內環(huán)面水平方向之間的間距為六厘米，且磁感線圈（9）的外表面與環(huán)形槽內腔的外環(huán)面水平方向之間的間距也為六厘米。

5.根據權利要求1所述的一種質量測定用電子分析天平，其特征在于：所述永磁體（10）的左側設置有彈性伸縮部件（11），所述彈性伸縮部件（11）的頂端與永磁體（10）上表面的左側固定連接，所述彈性伸縮部件（11）的底端與聯(lián)動裝置（4）的左側相卡接。