[發明專利]一種一維綜合孔徑輻射計天線陣列排布方法

在審

• 申請號: 202010460587.X
• 申請日: 2020-05-26
• 公開（公告）號: CN111597730A
• 公開（公告）日: 2020-08-28
• 發明（設計）人: 鄭濤;胡飛
• 申請（專利權）人: 華中科技大學
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20
• 代理公司: 華中科技大學專利中心 42201
• 代理人: 尹麗媛;李智

1.一種一維綜合孔徑輻射計天線陣列排布方法，其特征在于，包括：

S1、根據一維綜合孔徑輻射計天線陣列排布與其空間頻域采樣分布的對應關系，分別建立目標采樣周期對應的天線陣列坐標序列的第一物理約束，最小天線間距的第二物理約束及其對應的連續無空洞空間頻域采樣的第三物理約束，以及基于連續無空洞采樣長度的目標函數；

S2、聯立所述目標函數和所有物理約束，得到低周期采樣的一維綜合孔徑輻射計天線陣列排布優化模型并求解，得到最優天線陣列排布。

2.根據權利要求1所述的一種一維綜合孔徑輻射計天線陣列排布方法，其特征在于，所述一維綜合孔徑輻射計天線的陣列排布結構表示為：

X＝[x₁ x₂…x_N]^T

其中，X表示各單元天線坐標序列構成的向量；[*]^T表示轉置操作；x_i表示陣列排布中編號為i的單元天線在笛卡爾坐標系中x方向上的坐標，i＝1,2,…,N，且x_i為經最小間距歸一化后的坐標值。

3.根據權利要求2所述的一種一維綜合孔徑輻射計天線陣列排布方法，其特征在于，所述第一物理約束為：所述x_i分布在以空間頻域目標采樣周期r為間隔的均勻網格點上，且所述x₁＝0＜x₂＜…＜x_N，所述r取值小于1。

4.根據權利要求3所述的一種一維綜合孔徑輻射計天線陣列排布方法，其特征在于，基于單元天線的物理口徑，所述第二物理約束為：所述一維綜合孔徑輻射計的天線陣列排布滿足單元天線間距不小于1。

5.根據權利要求4所述的一種一維綜合孔徑輻射計天線陣列排布方法，其特征在于，將一維綜合孔徑輻射計天線陣列中的單元天線兩兩組成基線矢量，得到空間頻域采樣點坐標序列B＝{b≥0|b＝x_i-x_j,i,j∈[1,N]}；基于所述第二物理約束，序列B中不包含區間(0,1)和(x_N-1,x_N)內的基線；則得到所述第二物理約束對應的所述第三物理約束為：在區間[1,L]內空間頻域采樣連續無空洞，L表示連續無空洞的最大空間頻域采樣坐標。

6.根據權利要求5所述的一種一維綜合孔徑輻射計天線陣列排布方法，其特征在于，所述目標函數為最大化所述L。

7.根據權利要求1至6任一項所述的一種一維綜合孔徑輻射計天線陣列排布方法，其特征在于，所述r取值為1/a，a為正整數；采用啟發式的優化算法對所述優化模型求解。