[發明專利]一種基于PCA的SVM云微粒子優化分類識別方法有效
| 申請號: | 202010460233.5 | 申請日: | 2020-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN111898627B | 公開(公告)日: | 2021-06-15 |
| 發明(設計)人: | 劉說;趙德龍;吳澤培;楊玲;何暉;黃夢宇;周嵬;丁德平;陳青青 | 申請(專利權)人: | 成都信息工程大學 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62;G06K9/34;G06K9/38 |
| 代理公司: | 成都拓荒者知識產權代理有限公司 51254 | 代理人: | 楊爭華 |
| 地址: | 610225 四川省成都*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 pca svm 微粒子 優化 分類 識別 方法 | ||
1.一種基于SVM的云微粒子優化分類識別方法,包括以下步驟:
步驟1:對CPI圖像進行云微粒子分割,包括:
步驟1.1:對CPI圖像進行灰度化處理,具體方法為將RGB三通道CPI圖像轉化為單通道灰度圖像;
步驟1.2:將CPI灰度圖像二值化,首先抽取CPI灰度化圖像中a幅云微粒子圖像Ip,對a幅Ip圖像中像素值按灰度值大小從大到小排序,選取灰度值最大的b個像素點,計算其灰度均值avg(Ip),然后與背景圖像灰度值均值avg(Ibg)進行比較,計算出閾值Th,其中背景圖像Ibg為選擇的Ip圖像的相鄰的c×c非云微粒子圖像區域,最后根據閾值Th將CPI灰度圖像二值化,閾值Th計算方法為:
Th=α·(avg(Ip)-avg(Ibg)),其中變量α∈[0.9,1];
步驟1.3:將CPI二值圖像填補孔洞,具體方法為:對CPI二值圖像進行形態學處理,對應的參數設置為,膨脹矩陣選擇的是的正方形結構元素,腐蝕矩陣選擇的是的單位矩陣結構元素;
步驟1.4:將所述CPI二值圖像進行連通區域標記,以從左到右,從上到下的順序,搜索CPI二值圖像,當找到第一個像素值為1的像素f時,以這個像素為中心,按優化連通域方法確定其連通域,然后繼續按序搜索除了已經確定的連通域外的CPI二值圖像,確定新的連通域,直到遍歷完整幅圖像;所述優化連通域方法是以像素f為中心點,找出與其相鄰的像素,組合成為矩陣A,計算矩陣A中非零值比例nz_A,以矩陣A為中心,找出與其相鄰的像素,組和成為矩陣B,計算矩陣B中非零值比例nz_B,以nz_A、nz_B取值為判定條件采用不同的連通域搜索方法;
步驟1.5:統計CPI二值圖像中被標記的矩形聯通區域,以每個矩形聯通區域左上角坐標為開始,按從左到右,從上到下的順序,以矩形聯通區域的坐標為索引,從CPI灰度圖像上提取出對應的灰度圖片,即為云微粒子圖像;
步驟2:對云微粒子圖像進行去標注;
步驟3:基于PCA降維的SVM云微粒子分類識別,包括:
步驟3.1:將云微粒子特征圖進行PCA優化降維處理,計算各主成分的貢獻度λt為各主成分對應的特征值,T為特征值數量,當ktv1時,kst=ε×kt,當ktv1時,klt=η×kt,ε∈(0.1,0.5),η∈(1.5,2),計算累計貢獻度算出使得s(m)u的m個主成分;
步驟3.2:制作數據集,根據氣象知識對云微粒子形態進行類別劃分;
步驟3.3:SVM云微粒子分類識別,對經過步驟3.2制作的數據集進行切分,切分比為百分之70訓練集,百分之30測試集;進行SVM云微粒子分類。
2.如權利要求1所述的一種基于SVM的云微粒子優化分類識別方法,其特征在于,所述步驟1.4中,以nz_A、nz_B取值為判定條件采用不同的連通域搜索方法,包括:
當同時滿足nz_Av2,nz_Bv3時,以像素f為基點,搜索像素f相鄰的上下左右四個方向的像素,若搜索到的像素其像素值為1,那么這兩個像素就屬于同一個連通區域,然后以新找到的像素為新基點,繼續搜索連通區域之外的其他上下左右四個方向相鄰像素,重復滿足nz_Av2,nz_Bv3時的步驟,直到新基點四個方向鄰域內沒有像素值為1的像素為止,當不同時滿足nz_Av2,nz_Bv3時,以像素f為基點,搜索像素f相鄰的上下左右,左上,左下,右上和右下八個方向的像素,若搜索到的像素其像素值為1,那么這兩個像素就屬于同一個連通區域,然后以新找到的像素為新基點,繼續搜索連通區域之外的其他相鄰像素,重復不同時滿足nz_Av2,nz_Bv3時的步驟,直到新基點八個方向鄰域內沒有像素值為1的像素為止。
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