[發明專利]一種小窗口表面污染探測器

在審

• 申請號: 202010457898.0
• 申請日: 2020-05-26
• 公開（公告）號: CN111596338A
• 公開（公告）日: 2020-08-28
• 發明（設計）人: 張志勇;金緊根;劉思平
• 申請（專利權）人: 上海仁機儀器儀表有限公司
• 主分類號: G01T1/203
• 分類號: G01T1/203;G01T1/208
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種小窗口表面污染探測器，包括探頭體，所述探頭體為H型腔體，左側腔體端口用鋁箔遮光處理，左側腔體和右側腔體之間開孔，孔中固定有塑料閃爍體，右側腔體內部固定有印刷電路板，塑料閃爍體右側貼上硅光電倍增管，右側腔體端口處設有端蓋，硅光電倍增管與印刷電路板之間通過導線連接，本發明能夠大窗口截面探測器無法正確測量點狀放射性污染物體。并且點狀放射性污染定位,解決現有大窗口截面儀器未能對點狀及不規則放射性污染表面測量和定位問題。

技術領域

本發明涉及探測器技術領域，具體是一種小窗口表面污染探測器。

背景技術

在放射性物質生產和使用的過程中，時常會發生人體表面和其他物體表面受到污染的現象，不但影響操作者本身的健康，也會污染周圍的環境。為了知道物體表面污染程度，人們就發明和制造表面污染儀，測量被污染物體表面活度。通常有手腳表面污染儀、便攜式表面污染儀等。常見便攜式表面污染儀的探測器截面分圓形、方形，且各公司生產的儀器的探測截面大小不一，面積少則幾十個平方厘米，多則幾百個平方厘米。

在表面污染測量中，在計算單位面積的活度濃度時，測量面積用探測器窗口截面的實際面積， 以計數率為單位的儀器讀數轉換為表面活度濃度。當放射性污染表面曾不規則分布時，大尺寸的探測截面儀器很難測量出實際放射性污染活度，更難找出物體表面污染位置。

現有技術還存在以下缺點：

1、由于測量的表面活度濃度計算公式跟探測窗口截面大小有關， 在測量污染面大于儀器探測窗口截面時，測量結果正確，當污染面小于儀器探測窗口截面時，存在表面污染儀測量值偏小的現象。

2、當用大窗口截面儀器測量點狀污染表面，往往出現很大偏差，甚至未檢出現象。

3、大窗口截面儀器不能給點狀污染表面定位。

發明內容

本發明的目的在于提供一種小窗口表面污染探測器，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種小窗口表面污染探測器，包括探頭體，所述探頭體為H型腔體，左側腔體端口用鋁箔遮光處理，左側腔體和右側腔體之間開孔，孔中固定有塑料閃爍體，右側腔體內部固定有印刷電路板，塑料閃爍體右側貼上硅光電倍增管，右側腔體端口處設有端蓋，硅光電倍增管與印刷電路板之間通過導線連接。

作為本發明的進一步方案：所述左側腔體壁用硫化鋅噴涂。

作為本發明的進一步方案：所述左側腔體和右側腔體之間的開孔為1mm*1mm方孔。

作為本發明的進一步方案：所述H型腔體內徑為20mm。

作為本發明的進一步方案：所述端蓋采用不透光材質。

作為本發明的進一步方案：所述硅光電倍增管采用紫外固化膠固定。

作為本發明的進一步方案：所述導線有兩根。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：本發明能夠大窗口截面探測器無法正確測量點狀放射性污染物體。并且點狀放射性污染定位,解決現有大窗口截面儀器未能對點狀及不規則放射性污染表面測量和定位問題。

附圖說明

圖1是本發明的結構圖。

圖中：1-鋁箔；2、探頭體；3、塑料閃爍體；4、硅光電倍增管；5、印刷電路板；6、端蓋、7-導線、8-硫化鋅涂層。

具體實施方式