[發明專利]一種正弦信號相位差溯源系統及方法在審
| 申請號: | 202010452579.0 | 申請日: | 2020-05-26 |
| 公開(公告)號: | CN111610367A | 公開(公告)日: | 2020-09-01 |
| 發明(設計)人: | 趙偉;邵海明 | 申請(專利權)人: | 中國計量科學研究院 |
| 主分類號: | G01R25/04 | 分類號: | G01R25/04 |
| 代理公司: | 北京知舟專利事務所(普通合伙) 11550 | 代理人: | 郭韞 |
| 地址: | 100013 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 正弦 信號 相位差 溯源 系統 方法 | ||
本發明提供了一種正弦信號相位差溯源系統及方法,屬于精密測量領域。所述正弦信號相位差溯源系統包括:多個相同的移相模塊;每個所述移相模塊均包括信號輸入端和信號輸出端;第一個移相模塊的信號輸入端為所述系統的信號輸入端,第一個移相模塊的信號輸出端與第二個移相模塊的信號輸入端連接,第二個移相模塊的信號輸出端與第三個移相模塊的信號輸入端連接,以此類推,最后一個移相模塊的信號輸出端為所述系統的信號輸出端。通過移相模塊的級聯,使得最后一個模塊的輸出信號與第一個模塊的輸入信號相位接近。然后利用零度左右相位可正交分解測量,解決了正弦信號非零度相位差的溯源問題,尤其是正交相位的溯源問題,從而實現了任意相位差的溯源。
技術領域
本發明屬于精密測量領域,具體涉及一種正弦信號相位差溯源系統及方法。
背景技術
相位差的溯源技術在精密測量中起到重要作用,例如在電學領域中,功率及損耗的溯源都需要相位差溯源作為支持,在長度領域中,尺寸測量及空間定位也依賴于兩個信號相位差的精確溯源。
差值測量技術可應用于0度左右相位差的精確溯源。將兩路幅值相近信號的矢量差與參考信號通過乘法器進行正交分解,即可計算得到兩路信號的比例差及相位差。
然而,對于相位差較大的情況,由于兩信號的矢量差已經較大,尤其是正交相位時,矢量差已超過信號本身,因此上述差值測量技術難以保證正交分解后信號的測量精度,也就無法用于相位差溯源。
發明內容
本發明的目的在于解決上述現有技術中存在的難題,提供一種正弦信號相位差溯源系統及方法,能夠在任意相位差實現溯源。
本發明是通過以下技術方案實現的:
本發明的第一個方面,提供了一種正弦信號相位差溯源系統,所述正弦信號相位差溯源系統包括:多個相同的移相模塊;
每個所述移相模塊均包括信號輸入端和信號輸出端;第一個移相模塊的信號輸入端為所述系統的信號輸入端,第一個移相模塊的信號輸出端與第二個移相模塊的信號輸入端連接,第二個移相模塊的信號輸出端與第三個移相模塊的信號輸入端連接,以此類推,最后一個移相模塊的信號輸出端為所述系統的信號輸出端。
所述系統包括N個移相模塊;
每個移相模塊均能夠實現360/N度移相;
每個所述移相模塊采用由電阻和電容組成的移相電路,或者由電阻和電感組成的移相電路,或者由電阻、電容和運算放大器組成的移相電路,或者數字移相器。
優選的,每個所述移相模塊均包括:第一運算放大器、第二運算放大器、電阻R和電容C;
所述第一運算放大器的同相輸入端為該移相模塊的信號輸入端,所述第一運算放大器的反相輸入端與其信號輸出端連接,所述第一運算放大器的信號輸出端與電阻R的一端連接,電阻R的另一端與第二運算放大器的同相輸入端以及電容C的一端連接;所述第二運算放大器的信號輸出端與其反相輸入端連接,同時所述第二運算放大器的信號輸出端為該移相模塊的信號輸出端;所述電容C的另一端接地。
進一步的,所述系統包括外殼;
所有的移相模塊均安裝在所述外殼的內腔中;
在所述外殼上開有多個孔,所述系統的信號輸入端、所述系統的信號輸出端分別從孔內引出。
進一步的,各個所述移相模塊的信號輸出端分別從外殼上的孔引出,作為各個中間角度信號輸出端。
本發明的第二個方面,提供了一種正弦信號相位差溯源方法,所述方法包括:
(1),分別設置好N+1個移相模塊,分別為PS0、PS1一直到PSN;
(2),利用PS0將PS1到PSN調整為移相角度相同的移相模塊;
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