[發(fā)明專利]一種測(cè)試用的繼電器板在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010447787.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-05-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111781519A | 公開(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉作斌;賴秋鳳;郭金鴻;楊焜;張飛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 福建星云電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/389 | 分類號(hào): | G01R31/389;G01R31/396;G05B19/05 |
| 代理公司: | 福州市鼓樓區(qū)京華專利事務(wù)所(普通合伙) 35212 | 代理人: | 王美花 |
| 地址: | 350000 福建省福州市*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)試 繼電器 | ||
本發(fā)明提供一種測(cè)試用的繼電器板,包括電路板本體,以及集成在所述電路板本體上的內(nèi)阻儀端口、PLC控制端口、電子繼電器、模擬開關(guān)、固態(tài)繼電器組、牛角插座以及電源模塊。本發(fā)明優(yōu)點(diǎn):不僅可以減少PLC輸出模塊和繼電器的使用數(shù)量,而且僅使用1個(gè)繼電器板就可以實(shí)現(xiàn),能夠減少元器件占用的空間,為測(cè)試設(shè)備的整體框架設(shè)計(jì)提供便利。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域,特別涉及一種測(cè)試用的繼電器板。
背景技術(shù)
在電動(dòng)汽車領(lǐng)域,免不了需要對(duì)電芯、電池模組進(jìn)行測(cè)試操作。測(cè)試設(shè)備在連接被測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試的過程中,繼電器作為保護(hù)元器件,被廣泛應(yīng)用于測(cè)試設(shè)備中。
然而,現(xiàn)有的測(cè)試設(shè)備在具體進(jìn)行測(cè)試的過程中,存在有以下缺陷:1、測(cè)試設(shè)備的每1個(gè)測(cè)試通道需要1個(gè)中間繼電器,若測(cè)試通道較多,使用的繼電器數(shù)量會(huì)很多;而每1個(gè)繼電器又都需要使用1個(gè)PLC的IO點(diǎn),若繼電器數(shù)量多,PLC的輸出模塊也會(huì)很多;2、測(cè)試設(shè)備空間有限,可放置的繼電器和輸出模塊的數(shù)量會(huì)受到限制。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題,在于提供一種測(cè)試用的繼電器板,解決現(xiàn)有測(cè)試設(shè)備在測(cè)試時(shí)存在的需要使用數(shù)量較多的繼電器和輸出模塊的問題。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種測(cè)試用的繼電器板,所述繼電器板包括:
一電路板本體;
一內(nèi)阻儀端口,所述內(nèi)阻儀端口集成于所述電路板本體上;
一PLC控制端口,所述PLC控制端口集成于所述電路板本體上;
一電子繼電器,所述電子繼電器集成于所述電路板本體上,所述內(nèi)阻儀端口與所述電子繼電器相連接;
一模擬開關(guān),所述模擬開關(guān)集成于所述電路板本體上,所述電子繼電器以及PLC控制端口均與所述模擬開關(guān)相連接;
一固態(tài)繼電器組,所述固態(tài)繼電器組集成于所述電路板本體上,所述電子繼電器以及模擬開關(guān)均與所述固態(tài)繼電器組相連接;
一牛角插座,所述牛角插座集成于所述電路板本體上,所述牛角插座與所述固態(tài)繼電器組相連接;
一電源模塊,所述電源模塊集成于所述電路板本體上,所述電源模塊為所述電子繼電器以及模擬開關(guān)提供電源。
進(jìn)一步的,所述繼電器板還包括:
一光電隔離芯片組,所述光電隔離芯片組集成于所述電路板本體上,所述光電隔離芯片組與所述固態(tài)繼電器組相連接,且通過所述電源模塊為所述光電隔離芯片組提供電源;
一發(fā)光二極管組,所述發(fā)光二極管組集成于所述電路板本體上,所述發(fā)光二極管組與所述固態(tài)繼電器組相連接,且通過所述電源模塊為所述發(fā)光二極管組提供電源。
進(jìn)一步的,所述固態(tài)繼電器組包括32個(gè)固態(tài)繼電器,所述光電隔離芯片組包括32個(gè)光電隔離芯片,所述發(fā)光二極管組包括32個(gè)發(fā)光二極管;每所述光電隔離芯片均與一所述固態(tài)繼電器相連接,每所述發(fā)光二極管均與一所述固態(tài)繼電器相連接;在工作時(shí),通過所述模擬開關(guān)選擇連接對(duì)應(yīng)的測(cè)試通道上的所述固態(tài)繼電器。
進(jìn)一步的,所述繼電器板還包括:
一電容,所述電容集成于所述電路板本體上,所述電容與所述電源模塊相連接;
一電感,所述電感集成于所述電路板本體上,所述電感與所述電源模塊相連接;在工作時(shí),通過所述電容和電感對(duì)所述電源模塊提供的電源進(jìn)行濾波。
進(jìn)一步的,所述模擬開關(guān)為16選1模擬開關(guān)。
進(jìn)一步的,所述內(nèi)阻儀端口包括IR+輸入端口、IR-輸入端口、IRO+輸入端口以及IRO-輸入端口。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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