[發明專利]一種基于LED的高亮度低雜散光單色可調諧光源系統

在審

• 申請號: 202010445764.7
• 申請日: 2020-05-25
• 公開（公告）號: CN111537202A
• 公開（公告）日: 2020-08-14
• 發明（設計）人: 劉洪興;李憲圣;陳長征
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 長春眾邦菁華知識產權代理有限公司 22214
• 代理人: 朱紅玲

1.一種基于LED的高亮度低雜散光測試單色可調諧光源系統，其特征是，包括準單色LED照明光源(1)、單色儀模塊(2)、準直系統(3)、標準探測器(4)以及控制系統(5)；

所述準單色LED照明光源(1)經單色儀模塊(2)出射準單色光，所述準單色光經準直系統(3)輸出準直平行光，所述標準探測器(4)實時監視準直系統(3)出光口處的光譜輻射照度；

所述準單色LED照明光源(1)由準單色LED模塊(6)、散熱模塊(7)和一維線性導軌(8)組成；

所述準單色LED模塊(6)由多種準單色LED燈珠(9)和鋁基板(10)組成，所述多種準單色LED燈珠(9)等間隔焊接在鋁基板(10)上，每種準單色LED燈珠的半峰值寬度為20nm～50nm，每種準單色LED燈珠采用兩只相鄰放置的方式用于覆蓋單色儀模塊(2)的入射狹縫(2-1)；

所述鋁基板背面安裝散熱模塊(7)，所述散熱模塊(7)固定在一維線性導軌(8)上；

通過控制系統(5)控制一維線性導軌(8)改變單色LED燈珠照明光源與單色儀模塊(2)的相對位置，將不同種類的單色LED燈珠光源在不同時刻對準單色儀模塊(2)的入射狹縫(2-1)；

所述控制系統(5)還用于控制單色儀的掃描波長以及標準探測器的輻射量值采集。

2.根據權利要求1所述的一種基于LED的高亮度低雜散光測試單色可調諧光源系統，其特征在于：

所述準單色LED燈珠(9)包括40種單色LED燈珠，其光譜范圍覆蓋380nm～1050nm。

3.根據權利要求1所述的一種基于LED的高亮度低雜散光測試單色可調諧光源系統，其特征在于：

所述單色儀模塊(2)還包括反射鏡(2-2)、準直鏡(2-3)、光柵(2-4)、會聚鏡(2-5)以及出射狹縫(2-6)組成，準單色光經入射狹縫(2-1)后，經反射鏡(2-2和準直鏡(2-3)后成為平行光，所述平行光經過光柵(2-4)后分光，最后經過會聚鏡(2-5)會聚后通過出射狹縫(2-6)輸出單色光。

4.根據權利要求1所述的一種基于LED的高亮度低雜散光測試單色可調諧光源系統，其特征在于：

所述準直系統(3)為離軸平行光管，所述平行光管的焦面放置在所述單色儀模塊的出射狹縫處，經所述出射狹縫輸出的單色光經過平行光管形成準直平行光。

5.根據權利要求1所述的一種基于LED的高亮度低雜散光測試單色可調諧光源系統，其特征在于：

采取分段掃描的方式，即每一種準單色LED燈珠對應一個掃描范圍，掃描范圍的起止波長λ_start為準單色LED燈珠與相鄰的前端準單色LED燈珠的相交點對應的波長，終止波長λ_end為準單色LED燈珠與相鄰的后端準單色LED燈珠的相交點對應的波長位置。