[發(fā)明專利]雜散光強度檢測方法、裝置、檢測終端及可讀存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010445656.X
• 申請日: 2020-05-21
• 公開（公告）號: CN111609926B
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張茹;王婷婷
• 申請（專利權(quán)）人: 歌爾光學(xué)科技有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01M11/02
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 郭春芳

本發(fā)明公開了一種雜散光強度檢測方法、裝置、檢測終端及可讀存儲介質(zhì)，所述方法應(yīng)用于檢測終端，所述檢測終端分別與待測光學(xué)模組以及相機通信連接，該方法包括：將預(yù)設(shè)圖卡傳輸?shù)脚c所述待測光學(xué)模組對應(yīng)的顯示裝置中顯示，其中所述預(yù)設(shè)圖卡中包含有待測圖形；接收所述相機傳輸?shù)某上駡D像，其中，所述成像圖像由顯示的所述預(yù)設(shè)圖卡經(jīng)所述待測光學(xué)模組成像到所述相機，由所述相機采集形成；根據(jù)所述待測圖形在所述成像圖像中的成像結(jié)果，檢測所述待測光學(xué)模組所形成雜散光的強度。本發(fā)明通過成像結(jié)果中所成像的像素點灰度值，對待測光學(xué)模組中所形成雜散光的強度進行檢測，實現(xiàn)了對雜散光強弱的定量檢測，提升了檢測的準確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及虛擬現(xiàn)實技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種雜散光強度檢測方法、裝置、檢測終端及可讀存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著VR(Virtual Reality，虛擬現(xiàn)實)技術(shù)的發(fā)展，VR眼鏡的推廣程度越來越高；其中，便攜性和重量是影響VR眼鏡普及的重要因素。VR眼鏡中光學(xué)結(jié)構(gòu)的厚度與重量對VR眼鏡的便攜性和重量產(chǎn)生重要影響，雖然pancake光學(xué)單反的提出為VR眼鏡小型化提供了可能性，但使用pancake方案的VR光學(xué)模組由于光線在模組鏡片之間的多次反射造成雜散光的現(xiàn)象較為嚴重，而需要在確定雜散光強弱后進行最大程度上的消除。當前對雜散光多為定性檢測，缺少定量描述雜散光強弱的方案；如此一來，容易導(dǎo)致雜散光因強弱檢測不準確而消除不徹底，影響VR眼鏡的成像效果；因此，如何準確檢測雜散光的強弱是當前亟待解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種雜散光強度檢測方法、裝置、檢測終端及可讀存儲介質(zhì)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中如何準確檢測雜散光強弱的技術(shù)問題。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種雜散光強度檢測方法，所述雜散光強度檢測方法應(yīng)用于檢測終端，所述檢測終端分別與待測光學(xué)模組以及相機通信連接，所述雜散光強度檢測方法包括以下步驟：

將預(yù)設(shè)圖卡傳輸?shù)脚c所述待測光學(xué)模組對應(yīng)的顯示裝置中顯示，其中所述預(yù)設(shè)圖卡中包含有待測圖形；

接收所述相機傳輸?shù)某上駡D像，其中，所述成像圖像由顯示的所述預(yù)設(shè)圖卡經(jīng)所述待測光學(xué)模組成像到所述相機，由所述相機采集形成；

根據(jù)所述待測圖形在所述成像圖像中的成像結(jié)果，檢測所述待測光學(xué)模組所形成雜散光的強度。

可選地，所述成像結(jié)果包括原始成像結(jié)果和散光成像結(jié)果，所述根據(jù)所述待測圖形在所述成像圖像中的成像結(jié)果，檢測所述待測光學(xué)模組所形成雜散光的強度的步驟包括：

識別所述待測圖形在所述成像圖像中的原始成像結(jié)果和散光成像結(jié)果；

分別獲取所述原始成像結(jié)果中的原始灰度最大值，以及所述散光成像結(jié)果中的散光灰度最大值；

根據(jù)所述原始灰度最大值和所述散光灰度最大值，確定所述待測光學(xué)模組所形成雜散光的強度。

可選地，所述根據(jù)所述原始灰度最大值和所述散光灰度最大值，確定所述待測光學(xué)模組所形成雜散光的強度的步驟包括：

對所述散光灰度最大值和所述原始灰度最大值進行比值運算，生成比值結(jié)果，并循環(huán)執(zhí)行識別所述待測圖形在所述成像圖像中的原始成像結(jié)果和散光成像結(jié)果的步驟，直到生成預(yù)設(shè)數(shù)量的比值結(jié)果；

對預(yù)設(shè)數(shù)量的所述比值結(jié)果進行均值運算，并根據(jù)均值運算的運算結(jié)果確定所述雜散光的強度。

可選地，所述根據(jù)所述原始灰度最大值和所述散光灰度最大值，確定所述待測光學(xué)模組所形成雜散光的強度的步驟之前包括：

檢測所述原始灰度最大值是否在預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)，若在預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)，則執(zhí)行根據(jù)所述原始灰度最大值和所述散光灰度最大值，確定所述待測光學(xué)模組所形成雜散光的強度的步驟；