[發明專利]飛時測距裝置以及飛時測距方法

在審

• 申請號: 202010440574.6
• 申請日: 2020-05-22
• 公開（公告）號: CN112114323A
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 印秉宏;王佳祥
• 申請（專利權）人: 廣州印芯半導體技術有限公司
• 主分類號: G01S17/10
• 分類號: G01S17/10
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 張娜;劉芳

1.一種飛時測距裝置，其特征在于，包括：

處理電路；

發光模塊，耦接所述處理電路；

讀出電路，耦接所述處理電路；以及

感測單元，耦接所述讀出電路，

其中在第一感測操作中，所述處理電路驅動所述發光模塊發射第一光脈沖至感測目標，并且所述感測單元接收并積分所述感測目標的第一反射光脈沖，以使所述處理電路經由所述讀出電路讀出所述感測目標的圖像參數，

其中在第二感測操作中，所述處理電路驅動所述發光模塊發射第二光脈沖至所述感測目標，并且所述感測單元接收所述感測目標的第二反射光脈沖，以使所述處理電路依據所述讀出電路讀出所述感測單元的所述第二反射光脈沖的時間，來取得所述感測目標與所述飛時測距裝置之間的距離參數，

其中所述處理電路依據所述圖像參數來查找查找表，以取得所述感測目標的反射率，并且依據所述反射率校正所述距離參數以取得所述感測目標的經校正的距離參數。

2.根據權利要求1所述的飛時測距裝置，其特征在于，所述第一光脈沖以及所述第二光脈沖具有相同的脈沖強度。

3.根據權利要求1所述的飛時測距裝置，其特征在于，所述處理電路計算所述發光模塊發射所述第二光脈沖與所述讀出電路讀出所述感測單元的所述第二反射光脈沖之間的時間差，以取得所述感測目標與所述飛時測距裝置的所述距離參數。

4.根據權利要求1所述的飛時測距裝置，其特征在于，所述讀出電路包括：

比較器，包括第一輸入端以及輸出端，其中所述比較器電路的所述輸出端耦接所述處理電路；以及

斜坡產生器，耦接所述比較器的所述第一輸入端，并且用以在所述第一感測操作中提供第一斜坡信號至所述比較器的所述第一輸入端。

5.根據權利要求4所述的飛時測距裝置，其特征在于，所述比較器更包括第二輸入端，并且所述比較器的所述第二輸入端耦接參考電壓。

6.根據權利要求5所述的飛時測距裝置，其特征在于，所述感測單元包括第一像素電路以及第二像素電路，所述第一像素電路耦接所述比較器的所述第一輸入端，所述第二像素電路耦接所述比較器的所述第二輸入端，并且所述參考電壓來自所述第二像素電路。

7.根據權利要求5所述的飛時測距裝置，其特征在于，所述斜坡產生器耦接所述比較器的所述第二輸入端，并且用以在所述第一感測操作中提供第二斜坡信號至所述比較器的所述第二輸入端，其中所述第一斜坡信號與所述第二斜坡信號為反相。

8.根據權利要求1所述的飛時測距裝置，其特征在于，所述感測單元通過像素數組中的多個光電二極管分時進行所述第一感測操作以及所述第二感測操作。

9.根據權利要求1所述的飛時測距裝置，其特征在于，所述感測單元通過像素數組中的不同光電二極管同時進行所述第一感測操作以及所述第二感測操作。

10.根據權利要求9所述的飛時測距裝置，其特征在于，所述第一光脈沖與所述第二光脈沖為同一光脈沖。

11.根據權利要求9所述的飛時測距裝置，其特征在于，所述感測單元的所述像素數組包括多個像素群組，并且所述多個像素群組各別包括兩個第一像素電路以及兩個第二像素電路。