[發明專利]非破壞檢查裝置

在審

• 申請號: 202010439967.5
• 申請日: 2020-05-22
• 公開（公告）號: CN112649448A
• 公開（公告）日: 2021-04-13
• 發明（設計）人: 福田賢次郎;篠原正治;半杭秀一
• 申請（專利權）人: 東芝IT·控制系統株式會社
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01B15/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 馬爽;臧建明

本發明提供一種提高檢查節拍的非破壞檢查裝置。本發明的非破壞檢查裝置包括：兩個放射線發生器(2)，對具有四個角的被檢查物(100)照射放射線束；以及兩個放射線檢測器(3)，分別與兩個放射線發生器(2)相向而設置。放射線束的光軸在被檢查物(100)的近前交叉，通過被檢查物(100)的四個角中的放射線發生器(2)側的兩個角。

技術領域

本發明的實施方式涉及一種非破壞檢查裝置。

背景技術

已知有如下的非破壞檢查裝置：對被檢查物照射以X射線為代表的放射線，檢測通過通過被檢查物而減弱的放射線的二維分布并將其圖像化，由此進行被檢查物的非破壞檢查。被檢查物例如是鋰離子聚合物電池。鋰離子聚合物電池具有在其內部層疊有平面狀的正極板及負極板的結構。

若所述層疊存在偏移，即若正極板超出負極板，則在超出的正極板析出有鋰而發生短路，從而有可能著火。因此，必須檢查鋰離子聚合物電池內部的正極板與負極板的位置偏移。所述檢查由非破壞檢查裝置進行。

為了提高檢查的正確性，理想的是對被檢查物的四個角中的至少兩個進行拍攝。因此，例如，在對一個角照射放射線束之后，使被檢查物沿著水平面旋轉，進而對另一個角照射放射線束，對兩個角進行拍攝。

[現有技術文獻]

[專利文獻]

[專利文獻1]日本專利特開2011-39014號公報

發明內容

[發明所要解決的問題]

然而，在此種檢查裝置中，為了對一個被檢查物進行檢查，需要拍攝、旋轉、拍攝這三個步驟，從而檢查需要時間。特別是，為了提高被檢查物的質量，若對被檢查物的四個角全部進行檢查，則需要兩倍以上的步驟。另一方面，為了提高檢查節拍，若設置多個檢查線，則會存在導致裝置的大型化、復雜化的問題。

為了解決所述問題，本實施方式的目的在于提供一種提高檢查節拍的非破壞檢查裝置。

[解決問題的技術手段]

實施方式的非破壞檢查裝置包括如下所述的構成。

(1)兩個放射線發生器，對具有四個角的被檢查物照射放射線束。

(2)兩個放射線檢測器，分別與所述兩個放射線發生器相向而設置。

(3)所述放射線束的光軸在所述被檢查物的近前交叉，通過所述被檢查物的四個角中的所述放射線發生器側的兩個角。

附圖說明

圖1是表示實施方式的非破壞檢查裝置的構成的平面圖。

圖2是表示實施方式的非破壞檢查裝置的構成的側視圖。

圖3是表示實施方式的放射線發生器與被檢查物的位置關系的平面圖。

圖4是表示實施方式的搬送機構及檢查臺的立體圖。

圖5是表示實施方式的控制裝置與各構成的關系的框圖。

圖6的(a)～圖6的(d)是說明實施方式的搬送裝置及檢查臺的運行的圖。

圖7是表示實施方式的非破壞檢查裝置的運行的流程圖。

[符號的說明]

1：非破壞檢查裝置

10：托盤

10a：對象托盤

10b：檢查完畢托盤

11：定位構件

12：凹部

100：被檢查物