[發明專利]一種共同缺陷判定方法及判定裝置

有效

• 申請號: 202010437253.0
• 申請日: 2020-05-21
• 公開（公告）號: CN111538175B
• 公開（公告）日: 2022-09-27
• 發明（設計）人: 葉巧云
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 刁文魁

1.一種共同缺陷的判定方法，其特征在于，包括以下步驟：

提供若干個待檢測的板體，識別各個板體上的缺陷；

將位于不同板體上的缺陷，兩兩配成缺陷對進行位置差異比對，以確保位于不同板體上的任意兩個缺陷之間均能進行比對，判斷各個缺陷對的位置差異是否滿足預設的位置差異要求；

若無一缺陷對的位置差異滿足預設的位置差異要求，則判定各個板體之間未發生共同缺陷；

若有缺陷對的位置差異滿足預設的位置差異要求，則將對應缺陷對中的兩個缺陷進行灰度和形態的比對；

對于位置差異滿足預設的位置差異要求的缺陷對，若灰度差異值滿足預設的灰度差異要求，并且形態差異值滿足預設的形態差異要求，則判定各個板體之間發生共同缺陷。

2.根據權利要求1所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述識別各個板體上的缺陷，包括如下步驟：

對各個板體上需要檢測的表面進行掃描拍照，獲得各個板體的檢測圖像；

對所述檢測圖像進行識別，以檢測出各個板體上的缺陷。

3.根據權利要求2所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述識別各個板體上的缺陷，還包括步驟：在檢測出各個板體上的缺陷之后，獲取各個缺陷的數據信息。

4.根據權利要求3所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述獲取各個缺陷的數據信息，包括：獲取各個缺陷的灰度值。

5.根據權利要求3所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述獲取各個缺陷的數據信息，還包括：獲取各個缺陷的位置和形態信息，包括以下步驟：

以各個板體相鄰的兩條邊分別作為X軸和Y軸來建立直角坐標系，且各個板體的X軸和Y軸相對應；

獲取各個缺陷在對應板體上的坐標；

根據各個缺陷的坐標，獲取各個缺陷在X軸方向上的長度、在Y軸方向上的寬度以及面積大小。

6.根據權利要求5所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述判斷各個缺陷對的位置差異是否滿足預設的位置差異要求，包括如下步驟：

根據缺陷對中兩個缺陷的坐標值，計算對應兩個缺陷之間的位置差異值；

將缺陷對的位置差異值與預設的距離值Dis進行比對；

根據比對結果，缺陷對的位置差異值處于[0，Dis]的范圍內，則判定缺陷對之間的位置差異是否滿足預設的位置差異要求。

7.根據權利要求5或6中所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述若有缺陷對的位置差異滿足預設的位置差異要求，則將對應缺陷對中的兩個缺陷進行灰度和形態的比對，包括如下步驟：

預設灰度差異值為Dg，在X軸方向上的長度差異值為Dx，在Y軸方向上的寬度差異值為Dy，面積大小的差異值Ds；

計算對應缺陷對中的兩個缺陷的灰度差異值，在X軸方向上的長度差異值，在Y軸方向上的寬度差異值，以及面積大小的差異值；

將計算獲得的灰度差異值、在X軸方向上的長度差異值、在Y軸方向上的寬度差異值、以及面積大小的差異值分別與Dg、Dx、Dy以及Ds比較大小。

8.根據權利要求7所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述對于位置差異滿足預設的位置差異要求的缺陷對，若灰度差異值滿足預設的灰度差異要求，并且形態差異值滿足預設的形態差異要求，則判定各個板體之間發生共同缺陷，具體為：對于位置差異滿足預設的位置差異要求的缺陷對，灰度差異值處于[0，Dg]的范圍內，且在X軸方向上長度的差異值處于[0，Dx]的范圍內，且在Y軸方向上寬度的差異值處于[0，Dy]的范圍內，且面積大小的差異值處于[0，Ds]的范圍內，判定各個板體之間發生共同缺陷。